[發明專利]芯片測試方法、計算芯片和數據處理設備

在審

• 申請號: 202110307448.8
• 申請日: 2021-03-23
• 公開（公告）號: CN113064051A
• 公開（公告）日: 2021-07-02
• 發明（設計）人: 劉建波;陳默;范志軍;郭海豐;楊作興
• 申請（專利權）人: 深圳比特微電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/317;G06F7/58
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 於菪珉

本公開涉及一種芯片測試方法、計算芯片和數據處理設備。芯片測試方法包括：預先根據測試向量和測試隨機值設置多個測試期望值，其中，測試向量包括傳輸到核中的第一測試向量以及在核中根據第一測試向量生成的第二測試向量，和/或測試隨機值包括在核中生成的多個測試隨機值；對測試向量和測試隨機值進行測試運算，以生成多個測試結果值；和分別比較多個測試結果值與多個測試期望值中的相應的測試期望值，以生成核測試結果，其中，測試結果值與相應的測試期望值是根據相同的測試向量和相同的測試隨機值生成的；以及根據多個核中的每個核的核測試結果，生成計算芯片的芯片測試結果。

技術領域

本公開涉及芯片測試技術領域，具體而言，涉及一種芯片測試方法、計算芯片和數據處理設備。

背景技術

數字貨幣一般是虛擬加密的，且為P2P(Peer-to-Peer)形式，例如比特幣。數字貨幣的獨特之處在于，它一般不依靠特定貨幣機構發行，而是依據特定算法通過大量運算來產生。例如，比特幣交易使用整個P2P網絡中眾多節點構成的分布式數據庫來確認并記錄所有的交易行為，并使用密碼學設計來確保安全性。

使用例如數字貨幣挖礦機等的數據處理設備可以進行數字貨幣挖礦，其核心是根據挖礦機的運算能力來獲得獎勵，也就是說，數據處理設備是工作量證明(proof ofpower，POW)型的。對于數據處理設備而言，計算芯片的算力(即，單位時間內的運算次數)和功耗(即，單位時間內完成同樣次數的運算所消耗的電能)是決定其性能的至關重要的因素。

為了保障計算芯片的質量以及優化由計算芯片形成的數據處理設備的性能，有必要對計算芯片進行測試，且需要保障一定的測試覆蓋率，以提高測試的可靠性。例如，可以通過自動化測試設備(Automatic Test Equipment，ATE)或者數據處理設備來執行測試。然而，由于測試成本通常與測試時間密切相關，因此還存在對于提高測試效率的需求，以降低測試成本。

發明內容

本公開的目的之一在于提供一種芯片測試方法、計算芯片和數據處理設備。

根據本公開的第一方面，提供了一種芯片測試方法，待測試的計算芯片包括多個核，所述芯片測試方法包括：

針對所述多個核中的每個核，分別執行以下操作：

預先根據測試向量和測試隨機值設置多個測試期望值，其中，測試向量包括傳輸到核中的第一測試向量以及在所述核中根據所述第一測試向量生成的第二測試向量，和/或測試隨機值包括在所述核中生成的多個測試隨機值；

對測試向量和測試隨機值進行測試運算，以生成多個測試結果值；和

分別比較所述多個測試結果值與所述多個測試期望值中的相應的測試期望值，以生成核測試結果，其中，測試結果值與相應的測試期望值是根據相同的測試向量和相同的測試隨機值生成的；以及根據所述多個核中的每個核的核測試結果，生成所述計算芯片的芯片測試結果。

根據本公開的第二方面，提供了一種計算芯片，

所述計算芯片包括多個核以及與所述多個核通信地連接的頂層模塊，其中：

所述頂層模塊被配置為執行以下操作：

控制第一測試向量被傳輸到核中；

初始化核中的測試隨機值的生成；

預先根據測試向量和測試隨機值設置多個測試期望值，其中，測試向量包括所述第一測試向量以及在所述核中根據所述第一測試向量生成的第二測試向量，和/或測試隨機值包括在所述核中生成的多個測試隨機值；和

根據所述多個核中的每個核的核測試結果，生成所述計算芯片的芯片測試結果；以及

所述多個核中的每個核分別被配置為執行以下操作：

生成多個測試隨機值；