[發明專利]基于貴金屬納米顆粒的加速度測量裝置

在審

• 申請號: 202110306969.1
• 申請日: 2021-03-23
• 公開（公告）號: CN113176421A
• 公開（公告）日: 2021-07-27
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 王計蘭
• 主分類號: G01P15/03
• 分類號: G01P15/03;G01P1/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于貴金屬納米顆粒的加速度測量裝置，其特征在于，所述裝置包括：殼體、光源、光譜儀、彈性部、石墨烯膜和金屬顆粒層；所述殼體為空腔結構，所述殼體的空腔結構的兩端分別設置有所述光源和所述光譜儀，所述彈性部為環狀結構，環狀結構的所述彈性部設置在所述殼體的空腔結構內部，且設置在所述光源和所述光譜儀之間，環狀結構的所述彈性部的外壁與所述殼體的內壁連接，環狀結構的所述內壁與所述石墨烯膜連接，所述金屬顆粒層設置在所述石墨烯膜靠近所述光源的一側。

2.根據權利要求1所述的基于貴金屬納米顆粒的加速度測量裝置，其特征在于，所述彈性部與所述光譜儀平行設置。

3.根據權利要求1所述的基于貴金屬納米顆粒的加速度測量裝置，其特征在于，所述彈性部與所述光譜儀不平行設置。

4.根據權利要求2或3所述的基于貴金屬納米顆粒的加速度測量裝置，其特征在于，環狀結構的所述彈性部的內壁與外壁之間的距離不同。

5.根據權利要求4所述的基于貴金屬納米顆粒的加速度測量裝置，其特征在于，環狀結構的所述彈性部的內壁上設置多個弧形凸起。

6.根據權利要求5所述的基于貴金屬納米顆粒的加速度測量裝置，其特征在于，所述裝置還包括第二石墨烯層，所述第二石墨烯層設置在所述石墨烯層遠離所述金屬顆粒層的一側。

7.根據權利要求6所述的基于貴金屬納米顆粒的加速度測量裝置，其特征在于，所述裝置還包括第二金屬顆粒層，所述第二金屬顆粒層設置在所述第二石墨烯層靠近所述石墨烯層的一側。

8.根據權利要求7所述的基于貴金屬納米顆粒的加速度測量裝置，其特征在于，所述金屬顆粒層和所述第二金屬顆粒層的材料為貴金屬材料。