[發明專利]一種基于幾何光學的半導體激光儀

在審

• 申請號: 202110305191.2
• 申請日: 2021-03-23
• 公開（公告）號: CN113048917A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 孔德東
• 申請（專利權）人: 蘇州意釣緣貿易有限公司
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26;G01C9/00;G01C9/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種基于幾何光學的半導體激光儀，包括遮光外殼，所述遮光外殼內設有開口向前的檢測槽，所述檢測槽左壁內連通設有第三滑動槽，所述第三滑動槽頂壁上轉動連接有第一螺紋軸；本發明采用光的直線傳播技術并利用半導體激光器件和感光元件發射和獲取光線，再利用編碼器檢測檢測板轉動的角度從而獲取物體光滑表面的傾斜度，在忽略中間過程計算過程的同時得到得到精確的數值，減少處理器的計算量降低對硬件的要求，增加可靠性，還將整個的檢測過程設置在檢測槽內，在檢測過程中將檢測槽封閉，并通過保險裝置對檢測過程以及托板的移動過程進行控制，避免外界光線對測量過程產生干擾。

技術領域

本發明涉及半導體激光器件技術領域，具體為一種基于幾何光學的半導體激光儀。

背景技術

半導體激光器又稱激光二極管，是用半導體材料作為工作物質的激光器。其具有效率高、體積小、重量輕且價格低等優點。由于發射出記得激光光束較為集中，并且光線是沿直線傳播的，因此半導體激光器用來檢測物體光滑表面的水平度是很好的選擇，但是現在市面上用來檢測水平度的方式大致有塞尺測量、液平面測量、水平儀測量、激光平面干涉儀和打表測量這幾類。

但是都存在自身的缺陷，比如塞尺測量的進度不高，檢測效率低；

液平面法測量時間長，受溫度影響大；水平儀測量費時、費力、調整時間長，數據處理程序繁瑣；打表測量效率較低，而激光平面干涉儀常用于光學車間、實驗室、計量室等場所，對于環境要求較高，周圍光線會影響到檢測結果。

發明內容

本發明的目的在于提供一種基于幾何光學的半導體激光儀，用于克服現有技術中的上述缺陷。

根據本發明的一種基于幾何光學的半導體激光儀，包括遮光外殼，所述遮光外殼內設有開口向前的檢測槽，所述檢測槽左壁內連通設有第三滑動槽，所述第三滑動槽頂壁上轉動連接有第一螺紋軸，所述第一螺紋軸上螺紋連接有第一移動塊，所述第一移動塊右側面固設有第一連接塊，所述第一連接塊右側面固設有第二連接塊，所述第二連接塊內設有第二轉動腔，所述第二轉動腔內轉動連接有貫穿所述第二連接塊外側面的第二轉動軸，所述第二轉動軸前后末端固設有位置對稱的安裝板，所述安裝板右側固設有第三連接塊，所述第三連接塊內設有第三轉動腔，所述第三轉動腔左壁上固設有第二電機，所述第二電機右側面安裝有貫穿所述第三連接塊右側面的第三轉動軸，所述第三轉動軸右側末端固設有檢測板，所述檢測板底面內安裝有三角排列的半導體激光器件，所述檢測板底面內緊密排列有感光元件，所述第一連接塊內設有能夠檢測所述檢測板轉動角度的檢測裝置，所述檢測槽右壁上固設有固定塊，所述固定塊左側面固設有第四連接塊，所述第四連接塊內設有第四滑動槽，所述第四滑動槽內滑動連接有移動板，所述移動板左側面固設有貫穿所述第四連接塊左側面的第一連接桿，所述第一連接桿與所述檢測板右側面轉動連接，所述移動板右側面與所述第四滑動槽右壁之間通過第一彈簧固定連接，所述第四滑動槽右壁內安裝有電磁鐵，所述第三滑動槽下方的所述檢測槽左壁內連通設有第一滑動槽，所述第一滑動槽內滑動連接有延伸至所述檢測槽內的托板，所述遮光外殼內設有能夠帶動所述托板移動的移動裝置，所述第三滑動槽和所述第一滑動槽之間設有能夠確保托板以后再進行檢測工作的保險裝置。

可選地，所述檢測裝置包括設置于所述第一連接塊內的第四轉動腔，所述第四轉動腔左壁上安裝有一號編碼器，所述一號編碼器右側面安裝有延伸至所述第二轉動腔內的第四轉動軸，所述第四轉動腔內的所述第四轉動軸上固設有二號齒輪，所述一號編碼器后方的所述第四轉動腔左壁上安裝有二號編碼器，所述二號編碼器右側面安裝有第五轉動軸，所述第五轉動軸右側末端固設有與所述二號齒輪嚙合的三號齒輪，所述第四轉動軸右側末端固設有一號錐齒輪，所述第二轉動軸上固設有與所述一號錐齒輪嚙合的二號錐齒輪，所述第二電機后壁上安裝有三號編碼器，所述三號編碼器前側面安裝有第六轉動軸，所述第六轉動軸前端固設有三號錐齒輪，所述第三轉動軸上固設有與所述三號錐齒輪嚙合的四號錐齒輪，所述第四轉動腔頂壁上安裝有處理器。