[發(fā)明專利]一種EBSD金相圖像晶粒識別方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110297266.7 | 申請日: | 2021-03-19 |
| 公開(公告)號: | CN112906641B | 公開(公告)日: | 2023-08-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 艾軼博;張衛(wèi)冬;李帥航 | 申請(專利權(quán))人: | 北京科技大學(xué) |
| 主分類號: | G06V20/69 | 分類號: | G06V20/69;G06V10/44;G06T7/62;G06T5/30 |
| 代理公司: | 北京市廣友專利事務(wù)所有限責(zé)任公司 11237 | 代理人: | 張仲波;付忠林 |
| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 ebsd 金相 圖像 晶粒 識別 方法 裝置 | ||
本發(fā)明公開了一種EBSD金相圖像晶粒識別方法及裝置,該方法包括:獲取待檢測的EBSD金相圖像;其中,在待檢測的EBSD金相圖像中具有不同晶向的晶粒被渲染成不同的顏色;對EBSD金相圖像中不同顏色的區(qū)域進(jìn)行分割,得到多張單一顏色圖像;對得到的每一單一顏色圖像中的晶粒輪廓進(jìn)行檢測,確定每一單一顏色圖像中的晶粒輪廓的個數(shù)和各晶粒輪廓所圍成的封閉區(qū)域的面積;根據(jù)晶粒輪廓的個數(shù)和各晶粒輪廓所圍成的封閉區(qū)域的面積對EBSD金相圖像中有相同晶向的晶粒的數(shù)目和面積進(jìn)行統(tǒng)計。本發(fā)明提供的方法使得統(tǒng)計EBSD金相圖像中有相同晶向的晶粒的數(shù)目和面積任務(wù)變得更加準(zhǔn)確,便捷。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及圖像識別技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種EBSD金相圖像晶粒識別方法及裝置。
背景技術(shù)
電子背散射衍射(EBSD)是一種非常強(qiáng)大的顯微結(jié)構(gòu)表征工具。EBSD是一種基于掃描電子顯微鏡(SEM),提供樣品顯微結(jié)構(gòu)晶體學(xué)信息的技術(shù)。目前,EBSD已成為SEM中的一個出色的附件,常用來提供晶體學(xué)信息。EBSD廣泛地應(yīng)用于許多不同的領(lǐng)域,以幫助材料表征。在EBSD中,電子束與傾斜的晶態(tài)樣品相互作用,形成衍射花樣。衍射花樣可以通過熒光屏探測到,它具有所產(chǎn)生處樣品的晶體結(jié)構(gòu)和取向特征。因此,衍射花樣可用來確定晶體結(jié)構(gòu)及取向、區(qū)分晶體上不同的相、表征晶界,以及提供有關(guān)局部結(jié)晶完整性的信息。
EBSD技術(shù)可實現(xiàn)全自動采集微區(qū)取向信息,樣品制備較簡單,數(shù)據(jù)采集速度快,分辨率高(空間分辨率和角分辨率分別能達(dá)到0.1μm和0.5°),為快速定量統(tǒng)計研究材料的微觀組織結(jié)構(gòu)和織構(gòu)奠定了基礎(chǔ),已成為材料研究中一種有效的分析手段。EBSD測量的是樣品中每一點的取向,那么不同點或不同區(qū)域的取向差異也就可以獲得,從而可研究晶界或相界等界面。由于晶粒主要被定義為均勻結(jié)晶學(xué)取向的單元,EBSD是作為晶粒尺寸測量和形狀分析的理想工具。
用EBSD技術(shù)采集到鈦合金的微觀結(jié)構(gòu)圖像后,一般采用channel5或者OIManalysis軟件來分析晶粒的顯微結(jié)構(gòu)特征。目前這些分析軟件可一次性給出所有晶粒大小,但面對提取某一特定晶向的晶粒數(shù)目,面積的任務(wù)卻無能為力。如若材料研究人員想要只統(tǒng)計某一種晶向的晶粒的數(shù)目和晶粒尺寸,甚至晶粒形狀,則只能手工在channel5或OIManalysis軟件上點擊統(tǒng)計。無疑,這樣做耗時耗力。因此,如何用圖像處理的方法自動分析晶粒成為一個值得研究的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種EBSD金相圖像晶粒識別方法及裝置,以解決現(xiàn)有EBSD配套分析軟件不能單獨對某一晶向的晶粒數(shù)目和尺寸進(jìn)行自動統(tǒng)計的問題。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了如下技術(shù)方案:
一方面,本發(fā)明提供了一種EBSD金相圖像晶粒識別方法,包括:
獲取待檢測的電子背散射衍射EBSD金相圖像;其中,在待檢測的EBSD金相圖像中具有不同晶向的晶粒被渲染成不同的顏色;
對EBSD金相圖像中不同顏色的區(qū)域進(jìn)行分割,得到多張單一顏色圖像;
對得到的每一單一顏色圖像中的晶粒輪廓進(jìn)行檢測,確定每一單一顏色圖像中的晶粒輪廓的個數(shù)和各晶粒輪廓所圍成的封閉區(qū)域的面積;
根據(jù)每一單一顏色圖像中的晶粒輪廓的個數(shù)和各晶粒輪廓所圍成的封閉區(qū)域的面積,對EBSD金相圖像中有相同晶向的晶粒的數(shù)目和面積進(jìn)行統(tǒng)計。
進(jìn)一步地,所述對EBSD金相圖像中不同顏色的區(qū)域進(jìn)行分割,得到多張單一顏色圖像,包括:
對待檢測的EBSD金相圖像進(jìn)行邊緣擴(kuò)充,得到邊緣擴(kuò)充后的圖像;
對邊緣擴(kuò)充后的圖像進(jìn)行濾波,以去除圖像噪聲,得到去噪后的圖像;
對去噪后的圖像中不同顏色的區(qū)域進(jìn)行分割,得到多張單一顏色圖像。
進(jìn)一步地,所述對待檢測的EBSD金相圖像進(jìn)行邊緣擴(kuò)充,包括:
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