[發明專利]一種基于系統級模擬集成電路設計參數自動優化方法在審
| 申請號： | 202110295747.4 | 申請日： | 2021-03-19 |
| 公開（公告）號： | CN112906329A | 公開（公告）日： | 2021-06-04 |
| 發明（設計）人： | 萬景;宗鈺;張征;黃益飛;房華 | 申請（專利權）人： | 蘇州復鵠電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G06F30/33 | 分類號： | G06F30/33;G06F30/337 |
| 代理公司： | 重慶百潤洪知識產權代理有限公司 50219 | 代理人： | 陳萬江 |
| 地址： | 215000 江蘇省蘇州市中國(江蘇)自由貿易試*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 系統 模擬 集成電路設計 參數 自動 優化 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于系統級模擬集成電路設計參數自動優化方法，其特征在于，包括以下步驟：
A1、定義設計目標；
A2、固定電路架構；
A3、將電路劃分為A個子電路模塊；
A4、將子電路模塊參數優化結果的組合作為參數上傳給總電路；
A5、總電路利用子電路模塊參數優化結果的組合結合剩余的元件進行參數優化；
A6、在優化結果中選擇符合設計目標的一組設計參數；
A7、更新設計。
2.根據權利要求1所述的一種基于系統級模擬集成電路設計參數自動優化方法，其特征在于，所述步驟A4中，獲得子電路模塊參數優化結果的組合方法包含：
方法一：建立子電路模塊庫，保存相應參數優化結果，當所需子電路模塊在該庫中時可直接調用其參數優化結果。
方法二：通過計算機并發計算得到元器件的設計參數值，使用優化算法，優化參數直到符合用戶設定條件。
3.根據權利要求1所述的一種基于系統級模擬集成電路設計參數自動優化方法，其特征在于，所述步驟A5中，總電路參數優化方法包含：
方法三：利用子電路模塊的優化性能參數建立宏模型代替原本的子電路模塊使用方法二進行總電路的參數優化。
方法四：將子電路優化參數的組合作為變量，結合剩余元件，通過計算機并發計算得到元器件的設計參數值，使用優化算法，優化參數直到符合用戶設定條件。
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