[發明專利]一種電容測量裝置及方法

在審

• 申請號: 202110292365.6
• 申請日: 2021-03-18
• 公開（公告）號: CN113030585A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 生祥;黃河;黃超;毛冠煜;齊寧
• 申請（專利權）人: 美鉆深海能源科技研發（上海）有限公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26;G01R31/26
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

本發明公開了一種電容測量裝置及方法。電容測量裝置包括：測試臺、選擇模塊、控制模塊和電源模塊。測試臺包括開始按鈕和電壓測量單元；開始按鈕用于輸出開始測量信號；電壓測量單元用于測量被測電容兩端的電壓；選擇模塊包括選擇電路和電阻，電阻分別與選擇電路和測試臺連接；選擇模塊用于根據被測電容的額定參數選擇測試電壓和輸出電流的大小；控制模塊分別與開始按鈕、電壓測量單元和選擇電路連接，用于根據開始測量信號啟動測量，計時被測電容的充電時間，并根據被測電容兩端的電壓、充電時間和電阻的阻值計算被測電容的容值；電源模塊用于向控制模塊和選擇模塊供電。本發明可以提供多種電容的測試環境，提高電容測量裝置的通用性。

技術領域

本發明實施例涉及測量技術領域，尤其涉及一種電容測量裝置及方法。

背景技術

電容屬于常用電子元件。在使用過程中，電容的容值存在著會隨使用環境與應用電壓變化而變化的特性；并且，由于電容出廠采用抽檢等方式，即使同一批出廠的電容，也可能存在良品率的問題，電容的容值可能出現偏移。因此在使用中對電容容值有較高精度要求時，需要對電容進行容值校驗，從而保證電路的穩定性與精度。通常，當測試環境滿足電容的額定參數時，得到的電容值更為準確。但是現有技術中的電容測量裝置僅能進行對一種或一類電容的測量，存在通用性較差的問題。

發明內容

本發明實施例提供了一種電容測量裝置及方法，以提供多種電容的測試環境，提高電容測量裝置的通用性。

第一方面，本發明實施例提供了一種電容測量裝置，包括：

測試臺，包括開始按鈕和電壓測量單元；所述開始按鈕用于輸出開始測量信號；所述電壓測量單元用于測量被測電容兩端的電壓；

選擇模塊，包括選擇電路和電阻，所述電阻分別與所述選擇電路和所述測試臺連接；所述選擇模塊用于根據所述被測電容的額定參數選擇測試電壓和輸出電流的大小，并通過所述電阻將所述輸出電流傳輸至所述被測電容；

控制模塊，所述控制模塊分別與所述開始按鈕、所述電壓測量單元和所述選擇電路連接；所述控制模塊用于根據所述開始測量信號啟動測量，計時所述被測電容的充電時間，并根據所述被測電容兩端的電壓、所述充電時間和所述電阻的阻值計算所述被測電容的容值；

電源模塊，所述電源模塊分別與所述控制模塊和所述選擇模塊連接，用于向所述控制模塊和所述選擇模塊供電。

可選地，所述電容測量裝置還包括：顯示模塊，所述顯示模塊與所述控制模塊連接，用于顯示所述被測電容的容值。

可選地，所述測試臺還包括：放電開關和放電電路；所述放電開關連接在所述被測電容和所述放電電路之間，所述放電電路用于對所述被測電容進行放電。

可選地，所述選擇電路包括：測試電壓選擇單元，所述測試電壓選擇單元包括電源端、電壓狀態信號端和至少兩個輸出端；所述測試電壓選擇單元的電源端與所述電源模塊連接，所述測試電壓選擇單元的電壓狀態信號端與所述控制模塊連接；所述測試電壓選擇單元用于根據所述被測電容的額定電壓選擇測試電壓，并將所述測試電壓由對應的輸出端輸出；

量程選擇與輸出單元，所述量程選擇與輸出單元包括啟動信號端、量程狀態信號端、輸出端和至少兩個輸入端；所述量程選擇與輸出單元的至少兩個輸入端與所述測試電壓選擇單元的至少兩個輸出端一一對應連接，所述量程選擇與輸出單元的啟動信號端和量程狀態信號端均與所述控制模塊連接，所述量程選擇與輸出單元的輸出端與所述電阻連接；所述量程選擇與輸出單元用于根據所述被測電容的額定電容選擇測試量程，并根據所述測試量程和所述控制模塊輸出的啟動測量信號進行恒流輸出。

可選地，所述測試電壓選擇單元還包括：第一選擇開關和電壓選擇電路；所述第一選擇開關與所述電壓選擇電路連接，所述電壓選擇電路用于選擇輸出的測試電壓；