[發(fā)明專利]一種降低誤檢率的手部檢測(cè)方法及裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110287048.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113052043A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-06-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃歡;史偉蘭;全世紅;鄧明育 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳荊虹科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06K9/00 | 分類號(hào): | G06K9/00;G06K9/32;G06K9/40 |
| 代理公司: | 深圳倚智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44632 | 代理人: | 霍如肖 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 降低 誤檢率 檢測(cè) 方法 裝置 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種降低誤檢率的手部檢測(cè)方法及裝置。該手部檢測(cè)方法包括:S1,檢測(cè)第一圖像類手部區(qū)域是否存在高亮;S2,若第一圖像類手部區(qū)域存在高亮,根據(jù)類手部區(qū)域范圍劃定感興趣區(qū)域范圍,對(duì)感興趣區(qū)域進(jìn)行平滑處理生成第二圖像;S3,檢測(cè)第二圖像是否存在手部,輸出檢測(cè)結(jié)果。該手部檢測(cè)方法還包括:S4,提取經(jīng)類手檢測(cè)模型檢測(cè)含有類手的第一圖像存儲(chǔ)到類手樣本集,用于訓(xùn)練類手檢測(cè)模型;S5,提取經(jīng)手部檢測(cè)模型檢測(cè)存在手部的第一圖像存儲(chǔ)到手部樣本集,用于訓(xùn)練手部檢測(cè)模型。通過(guò)本發(fā)明公開(kāi)的技術(shù)方案,能降低手部檢測(cè)的誤檢率、提高手勢(shì)識(shí)別的實(shí)時(shí)性和準(zhǔn)確度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種降低誤檢率的手部檢測(cè)方法及裝置。
背景技術(shù)
隨著智能移動(dòng)設(shè)備和可穿戴設(shè)備的發(fā)展,手勢(shì)、眼動(dòng)、人臉識(shí)別等新興技術(shù)得到了廣泛應(yīng)用。目前,手勢(shì)識(shí)別在手語(yǔ)識(shí)別、人機(jī)交互、機(jī)器人控制、智能監(jiān)控、視覺(jué)環(huán)境操作等領(lǐng)域均發(fā)揮重要作用。手勢(shì)識(shí)別通常包括手部檢測(cè)和手勢(shì)識(shí)別兩個(gè)關(guān)鍵步驟,其中,在使用深度相機(jī)采集含有手部的視覺(jué)信息時(shí),因受拍攝距離、背景光線等影響,圖像易發(fā)生反光以及呈現(xiàn)高亮的狀況,圖像反光或高亮存在的情況可能導(dǎo)致手部誤檢測(cè),即將非手部區(qū)域誤檢測(cè)為手部區(qū)域,從而影響了后續(xù)進(jìn)行手勢(shì)識(shí)別的實(shí)時(shí)性和準(zhǔn)確度,進(jìn)而影響手勢(shì)識(shí)別的用戶體驗(yàn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種降低誤檢率的手部檢測(cè)方法及裝置,以降低手部檢測(cè)的誤檢率、提高手勢(shì)識(shí)別的實(shí)時(shí)性和準(zhǔn)確度。
本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題提供的技術(shù)方案如下:
本發(fā)明提供一種降低誤檢率的手部檢測(cè)方法,包括如下步驟:S1,檢測(cè)第一圖像類手部區(qū)域是否存在高亮;S2,若第一圖像類手部區(qū)域存在高亮,根據(jù)類手部區(qū)域范圍劃定感興趣區(qū)域范圍,對(duì)感興趣區(qū)域進(jìn)行平滑處理生成第二圖像,通過(guò)平滑處理能夠降低類手部的影響、提高圖像的清晰度;S3,檢測(cè)第二圖像是否存在手部,輸出檢測(cè)結(jié)果,通過(guò)高亮檢測(cè)、平滑處理和再次檢測(cè),能剔除將非手部誤檢測(cè)為手部的圖像,從而降低手部誤檢率。該手部檢測(cè)方法還包括步驟:S4,提取經(jīng)類手檢測(cè)模型檢測(cè)含有類手的第一圖像存儲(chǔ)到類手樣本集;S5,提取經(jīng)手部檢測(cè)模型檢測(cè)存在手部的第一圖像存儲(chǔ)到手部樣本集。類手樣本集用于訓(xùn)練類手檢測(cè)模型,手部樣本集用于訓(xùn)練手部檢測(cè)模型,通過(guò)持續(xù)訓(xùn)練從而優(yōu)化類手檢測(cè)模型和手部檢測(cè)模型的參數(shù),提高檢測(cè)的準(zhǔn)確度。
本發(fā)明還提供一種降低誤檢測(cè)率的手部檢測(cè)裝置,包括:高亮檢測(cè)模塊,用于檢測(cè)第一圖像類手部區(qū)域是否存在高亮;圖像處理模塊,用于根據(jù)第一圖像類手部區(qū)域存在高亮的類手部區(qū)域范圍劃定感興趣區(qū)域范圍,對(duì)感興趣區(qū)域進(jìn)行平滑處理生成第二圖像;手部檢測(cè)模塊,用于檢測(cè)第二圖像是否存在手部,輸出檢測(cè)結(jié)果。該手部檢測(cè)裝置還包括:類手檢測(cè)模塊,用于提取紅外圖像輸入預(yù)先訓(xùn)練的類手檢測(cè)模型進(jìn)行類手部檢測(cè);樣本采集模塊,用于提取經(jīng)類手檢測(cè)模型檢測(cè)含有類手的第一圖像存儲(chǔ)到類手樣本集,類手樣本集用于訓(xùn)練類手檢測(cè)模型;用于提取經(jīng)手部檢測(cè)模型檢測(cè)存在手部的第一圖像存儲(chǔ)到手部樣本集,手部樣本集用于訓(xùn)練手部檢測(cè)模型。
本發(fā)明的有益效果包括:
1.本發(fā)明提出了一種對(duì)存在類手部的紅外圖像進(jìn)行高亮檢測(cè)和進(jìn)行三次加權(quán)累乘的平滑處理后再次檢測(cè)是否存在手部的方法和裝置,剔除因反光或高亮導(dǎo)致誤檢測(cè)存在手部的圖像,降低了手部檢測(cè)的誤檢率和提高了手勢(shì)識(shí)別的實(shí)時(shí)性;同時(shí)將經(jīng)過(guò)含有手部的圖像平滑處理后更清晰的圖像輸出進(jìn)行后續(xù)手勢(shì)識(shí)別,提高了手勢(shì)識(shí)別的準(zhǔn)確度。
2.本發(fā)明通過(guò)將經(jīng)類手檢測(cè)模型檢測(cè)含有類手的第一圖像存儲(chǔ)到類手樣本集,經(jīng)手部檢測(cè)模型檢測(cè)存在手部的第一圖像存儲(chǔ)到手部樣本集,用于后續(xù)分別對(duì)類手檢測(cè)模型和手部檢測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練,能持續(xù)優(yōu)化模型參數(shù)、提高手部檢測(cè)的準(zhǔn)確度。
附圖說(shuō)明
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明。
圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的手部檢測(cè)方法流程圖。
圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的高亮檢測(cè)方法流程圖。
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- 專利分類
G06K 數(shù)據(jù)識(shí)別;數(shù)據(jù)表示;記錄載體;記錄載體的處理
G06K9-00 用于閱讀或識(shí)別印刷或書(shū)寫(xiě)字符或者用于識(shí)別圖形,例如,指紋的方法或裝置
G06K9-03 .錯(cuò)誤的檢測(cè)或校正,例如,用重復(fù)掃描圖形的方法
G06K9-18 .應(yīng)用具有附加代碼標(biāo)記或含有代碼標(biāo)記的打印字符的,例如,由不同形狀的各個(gè)筆畫(huà)組成的,而且每個(gè)筆畫(huà)表示不同的代碼值的字符
G06K9-20 .圖像捕獲
G06K9-36 .圖像預(yù)處理,即無(wú)須判定關(guān)于圖像的同一性而進(jìn)行的圖像信息處理
G06K9-60 .圖像捕獲和多種預(yù)處理作用的組合
- 一種基于輪廓模板匹配的誤檢樣本去除方法
- 一種物理下行控制信道盲檢的方法
- 一種嘯叫檢測(cè)和抑制方法
- 一種心電圖數(shù)據(jù)R波檢測(cè)方法及裝置
- 對(duì)象檢測(cè)后處理方法及對(duì)應(yīng)裝置
- 閾值選擇方法及設(shè)備
- 基于序列圖像的運(yùn)動(dòng)目標(biāo)快速檢測(cè)方法、計(jì)算機(jī)視覺(jué)系統(tǒng)
- 一種地面目標(biāo)檢測(cè)評(píng)價(jià)方法
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- 一種適用于5G系統(tǒng)的PDCCH誤檢判決方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
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