[發明專利]光電傳感器和物體檢測方法

在審

• 申請號: 202110271238.8
• 申請日: 2021-03-12
• 公開（公告）號: CN115079181A
• 公開（公告）日: 2022-09-20
• 發明（設計）人: 陸郁雷;張新遠
• 申請（專利權）人: 歐姆龍（上海）有限公司
• 主分類號: G01S17/04
• 分類號: G01S17/04
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 田勇;陶海萍

本申請實施例提供一種光電傳感器和物體檢測方法。所述光電傳感器包括，檢測光源，指示光源，二向色濾光片，同軸透鏡，受光部。本申請實施例使用檢測光源進行光電傳感器檢測范圍內的物體檢測，使用指示光源指示檢測到的物體區域，所述檢測光源和所述指示光源在檢測到的物體上能夠形成同軸光斑，不僅保證出光效率和檢測范圍，而且提高檢測效率和檢測精度。

技術領域

本申請涉及光電傳輸技術領域，尤其涉及一種光電傳感器和物體檢測方法。

背景技術

雙波投光技術是指對兩種波長的光進行投光，并且根據投光的光斑檢測投光光路上是否存在物體。在現有的技術中，通常使用兩塊投光透鏡對兩種波長的光分別投光；或者使用分光鏡將兩種波長的光共用一個透鏡進行投光。

應該注意，上面對技術背景的介紹只是為了方便對本發明的技術方案進行清楚、完整的說明，并方便本領域技術人員的理解而闡述的。不能僅僅因為這些方案在本發明的背景技術部分進行了闡述而認為上述技術方案為本領域技術人員所公知。

發明內容

本申請的發明人發現：若使用兩塊投光透鏡對兩種波長的光分別投光，存在兩種波長的光的光斑不同軸的問題，即，兩種波長的光的光斑僅有部分區域重疊，導致檢測投光光路上的物體不準確；若使用分光鏡將兩種波長的光共用一個透鏡進行投光，由于分光鏡的出光效率小于50％，存在檢測范圍下降的問題。

為了解決上述問題或其它類似問題，本申請實施例提供一種光電傳感器和物體檢測方法。

根據本申請實施例的一個方面，提供一種光電傳感器，所述光電傳感器包括，

檢測光源，其設置在電路基板上并且發射不可見光，

指示光源，其設置在所述電路基板上并且發射可見光，

二向色濾光片，其設置在所述檢測光源和所述指示光源的發射光的光路中，所述二向色濾光片具有接收所述檢測光源發射的所述不可見光的第一受光面和接收所述指示光源發射的所述可見光的第二受光面，并且所述二向色濾光片透射或反射接收到的光以對所述可見光和所述不可見光進行合束，

同軸透鏡，其設置在所述發射光的光路中，并且透射來自所述二向色濾光片的光，

受光部，其具有波長檢測回路并且檢測經過所述同軸透鏡透射的光。

由此，使用檢測光源進行光電傳感器檢測范圍內的物體檢測，使用指示光源指示檢測到的物體區域，所述檢測光源和所述指示光源在檢測到的物體上能夠形成同軸光斑，不僅保證出光效率和檢測范圍，而且提高檢測效率和檢測精度。

在一個實施例中，所述檢測光源的光軸與所述指示光源的光軸的夾角為90°。

由此，所述檢測光源和所述指示光源經過所述同軸透鏡透射的光能夠形成同軸同大小的光斑，能夠進一步提高檢測精度。

在一個實施例中，所述同軸透鏡設置在所述指示光源的光軸方向上；

所述檢測光源向所述二向色濾光片的所述第一受光面投射所述不可見光，并且所述不可見光經所述第一受光面被反射；

所述指示光源向所述二向色濾光片的所述第二受光面投射所述可見光，并且所述可見光經所述第二受光面被透射，

所述二向色濾光片耦合所述第一受光面反射的光和所述第二受光面透射的光。

由此，指示光源的發射光被透射而檢測光源的發射光被反射，使得所述檢測光源和所述指示光源經過所述同軸透鏡透射的光的光斑同軸，能夠進一步提高檢測精度。

在一個實施例中，所述同軸透鏡設置在所述檢測光源的光軸方向上；

所述檢測光源向所述二向色濾光片的所述第一受光面投射所述不可見光，并且所述不可見光經所述第一受光面被透射；