[發(fā)明專利]一種電子產(chǎn)品檢測(cè)系統(tǒng)及電子產(chǎn)品檢測(cè)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110266447.3 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113125881A | 公開(公告)日: | 2021-07-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃歡;全世紅;蘇洪志;鄒筱航;鄧明育 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳荊虹科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司: | 深圳倚智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44632 | 代理人: | 霍如肖 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電子產(chǎn)品 檢測(cè) 系統(tǒng) 裝置 | ||
1.一種電子產(chǎn)品檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:包括測(cè)試裝置及溫度控制裝置;所述測(cè)試裝置設(shè)置有檢測(cè)環(huán)境,測(cè)試裝置包括溫度探測(cè)器及溫度調(diào)節(jié)器;所述溫度探測(cè)器、溫度調(diào)節(jié)器分別與溫度控制裝置連接;所述溫度探測(cè)器探測(cè)檢測(cè)環(huán)境的溫度值;溫度控制裝置根據(jù)所述檢測(cè)環(huán)境的溫度值控制溫度調(diào)節(jié)器的第一工作狀態(tài)及第二工作狀態(tài);所述溫度值為第一值時(shí),所述溫度調(diào)節(jié)器處于第一工作狀態(tài),所述溫度值處于第二值時(shí),所述溫度調(diào)節(jié)器處于第二工作狀態(tài)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子產(chǎn)品檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:還包括測(cè)試控制裝置;該測(cè)試控制裝置與待測(cè)電子產(chǎn)品電性連接;測(cè)試控制裝置驅(qū)動(dòng)待測(cè)電子產(chǎn)品的工作狀態(tài)及將測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送至待測(cè)電子產(chǎn)品。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子產(chǎn)品檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述測(cè)試控制裝置包括驅(qū)動(dòng)模塊及測(cè)試終端;所述驅(qū)動(dòng)模塊分別與待測(cè)電子產(chǎn)品及測(cè)試終端連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子產(chǎn)品檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述測(cè)試終端用于采集測(cè)試圖像信息對(duì)測(cè)試圖像進(jìn)行處理生成添加數(shù)據(jù),并把添加數(shù)據(jù)通過(guò)驅(qū)動(dòng)模塊寫入至待測(cè)電子產(chǎn)品。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子產(chǎn)品檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:還包括標(biāo)靶,所述測(cè)試終端采集標(biāo)靶的測(cè)試圖像信息。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的電子產(chǎn)品檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述溫度調(diào)節(jié)器包括半導(dǎo)體制冷器,所述第二工作狀態(tài)包括溫度調(diào)節(jié)器對(duì)檢測(cè)環(huán)境的溫度進(jìn)行升溫或降溫操作。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的電子產(chǎn)品檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述測(cè)試裝置還包括散熱器,所述散熱器與溫度調(diào)節(jié)器接觸。
8.一種電子產(chǎn)品檢測(cè)裝置,其特征在于:包括測(cè)試裝置及溫度控制裝置,所述測(cè)試裝置包括測(cè)試夾具、溫度探測(cè)器及半導(dǎo)體致冷器;所述測(cè)試夾具內(nèi)設(shè)置有測(cè)試空間;所述溫度探測(cè)器的部分設(shè)置于測(cè)試空間;所半導(dǎo)體制冷器與測(cè)試夾具連接;所述測(cè)試夾具至少設(shè)置有開口及第一透光口;所述開口及第一透光口分別與測(cè)試空間連通;溫度控制裝置根據(jù)溫度探測(cè)器檢測(cè)的溫度值半導(dǎo)體致冷器的第一工作狀態(tài)及第二工作狀態(tài);所述溫度值為第一值時(shí),所述半導(dǎo)體致冷器處于第一工作狀態(tài),所述溫度值處于第二值時(shí),所述半導(dǎo)體致冷器處于第二工作狀態(tài)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子產(chǎn)品檢測(cè)裝置,其特征在于:所述測(cè)試夾具包括模組底座和模組壓蓋;模組壓蓋與模組底座的一側(cè)通過(guò)轉(zhuǎn)軸銷或者活頁(yè)連接。
10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的電子產(chǎn)品檢測(cè)裝置,其特征在于:所述產(chǎn)品檢測(cè)裝置還包括散熱器;所述散熱器與半導(dǎo)體制冷器連接。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的電子產(chǎn)品檢測(cè)裝置,其特征在于:所述散熱器設(shè)置有至少一個(gè)散熱腔體、流體入口及流體出口,所述流體入口及流體出口分別與散熱箱體連通。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的電子產(chǎn)品檢測(cè)裝置,其特征在于:所述散熱器包括流體通道;所述流體通道設(shè)置于散熱腔體內(nèi)。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的電子產(chǎn)品檢測(cè)裝置,其特征在于:所述散熱器包括箱體、蓋體及水管;所述箱體設(shè)置有相互連通的冷卻槽;所述水管與冷卻槽連通;所述蓋體固定于箱體并對(duì)冷卻槽進(jìn)行密封形成流體通道。
14.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的電子產(chǎn)品檢測(cè)裝置,其特征在于:還包括保溫件,所述保溫件開設(shè)有保溫腔,所述保溫腔至少一側(cè)開口;所述測(cè)試夾具、溫度探測(cè)器及半導(dǎo)體致冷器分別位于保溫腔內(nèi)。
15.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的電子產(chǎn)品檢測(cè)裝置,其特征在于:還包括盒體,所述盒體開設(shè)有第二透光孔。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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