[發明專利]一種主板測試設備、方法、系統及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202110265079.0
• 申請日: 2021-03-11
• 公開（公告）號: CN113030704A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 顧偉
• 申請（專利權）人: 山東英信計算機技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張春輝

1.一種主板測試設備，其特征在于，包括：

數據采集器，用于獲取二極值采集設備采集到的測試板中測試點的二極值，作為測試值，以及所述測試板對應的標準板中所述測試點的二極值，作為標準值；將所述測試值以及所述標準值發送至處理器；

所述處理器，用于計算所述測試值與所述標準值間的差值；判斷所述差值是否屬于預設誤差范圍；若不屬于，控制提示器進行測試點異常提示；

所述提示器，用于根據所述處理器的指令進行測試點異常提示。

2.根據權利要求1所述的主板測試設備，其特征在于，所述處理器為單片機。

3.根據權利要求1所述的主板測試設備，其特征在于，所述提示器為蜂鳴器。

4.根據權利要求1所述的主板測試設備，其特征在于，還包括：與所述處理器連接的LED顯示器；

所述LED顯示器用于輸出所述差值，和/或，所述測試值以及所述標準值。

5.一種主板測試方法，其特征在于，包括：

獲取二極值采集設備采集到的測試板中測試點的二極值，作為測試值，以及所述測試板對應的標準板中所述測試點的二極值，作為標準值；

計算所述測試值與所述標準值間的差值；

判斷所述差值是否屬于預設誤差范圍；

若不屬于，進行測試點異常提示。

6.根據權利要求5所述的主板測試方法，其特征在于，所述獲取二極值采集設備采集到的測試板中測試點的二極值，作為測試值，以及所述測試板對應的標準板中所述測試點的二極值，作為標準值，包括：

獲取二極值采集設備對測試板中測試點的首個二極值讀數后預設間隔后的二極值讀數，作為測試值；

獲取所述二極值采集設備對所述測試板對應的標準板中所述測試點的首個二極值讀數后預設間隔后的二極值讀數，作為標準值。

7.一種主板測試系統，其特征在于，包括：如權利要求1至4任一項所述的主板測試設備，以及測試板、標準板、二極值采集設備；

所述二極值采集設備連接于所述主板測試設備中的數據采集器，所述二極值采集設備用于采集所述測試板中測試點的二極值以及所述測試板對應的所述標準板中所述測試點的二極值；

所述主板測試設備，用于獲取所述二極值采集設備采集到的所述測試板中所述測試點的二極值，作為測試值，以及所述測試板對應的所述標準板中所述測試點的二極值，作為標準值；計算所述測試值與所述標準值間的差值；判斷所述差值是否屬于預設誤差范圍；若不屬于，進行測試點異常提示。

8.根據權利要求7所述的主板測試系統，其特征在于，所述二極值采集設備包括：第一二極值采集設備以及第二二極值采集設備；

其中，所述第一二極值采集設備，用于采集所述測試板中所述測試點的二極值；

所述第二二極值采集設備，用于采集所述測試板對應的標準板中所述測試點的二極值；

則所述數據采集器分別連接所述第一二極值采集設備以及所述第二二極值采集設備，用于獲取所述第一二極值采集設備采集的二極值，作為所述測試值，并獲取所述第二二極值采集設備采集的二極值，作為所述標準值。

9.根據權利要求7所述的主板測試系統，其特征在于，所述二極值采集設備為：萬用表。

10.一種可讀存儲介質，其特征在于，所述可讀存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求5或6所述主板測試方法的步驟。