[發明專利]多徑目標的檢測方法、裝置、設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202110255148.X
• 申請日: 2021-03-09
• 公開（公告）號: CN113009448B
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發明（設計）人: 王晨紅;邢寒露;郭亞靜;樊志博;袁亞運;秦屹
• 申請（專利權）人: 森思泰克河北科技有限公司
• 主分類號: G01S7/41
• 分類號: G01S7/41
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 李榮文

1.一種多徑目標的檢測方法，其特征在于，包括：

在識別到雷達幀的點云中存在至少兩個目標的情況下，根據第一目標的雷達信息和所述雷達幀對應的實時環境信息，反演所述第一目標的反演多徑目標；所述第一目標為所述至少兩個目標中的任意一個目標；

獲取第二目標和所述反演多徑目標的匹配度；所述第二目標為所述至少兩個目標中除所述第一目標以外的任意一個目標；

當所述匹配度大于預設閾值時，將所述第二目標檢測為所述第一目標在所述雷達幀中的多徑目標；

所述根據第一目標的雷達信息和所述雷達幀對應的實時環境信息，反演所述第一目標的反演多徑目標，包括：

根據所述第一目標的雷達信息，反演所述第一目標的信號模型；

根據所述信號模型和所述雷達幀對應的實時環境信息，在預設反射環境模型集合中確定所述第一目標對應的第一反射環境模型，以及在預設反射介質模型集合中確定所述第一目標對應的第一反射介質模型；根據所述信號模型、所述第一反射環境模型以及所述第一反射介質模型，反演所述第一目標的多徑傳播模型；其中，所述預設反射環境模型集合包括環境物模型、環境反射面模型或者、環境天氣模型，所述預設反射介質模型集合包括反射面的粗糙程度模型、介質反射率模型、介質彎曲度模型、介質高度模型、或者介質長度模型；

根據所述信號模型和所述多徑傳播模型，反演所述第一目標的所述反演多徑目標。

2.如權利要求1所述的多徑目標的檢測方法，其特征在于，所述獲取第二目標和所述反演多徑目標的匹配度，包括：

計算所述第二目標和所述反演多徑目標的歐式距離值，將所述歐式距離值確定為所述匹配度；

或者，計算所述第二目標和所述反演多徑目標的相關系數，將所述相關系數確定為所述匹配度。

3.一種多徑目標的檢測裝置，其特征在于，包括：

反演模塊，用于在識別到雷達幀的點云中存在至少兩個目標的情況下，根據第一目標的雷達信息和所述雷達幀對應的實時環境信息，反演所述第一目標的反演多徑目標；所述第一目標為所述至少兩個目標中的任意一個目標；

獲取模塊，用于獲取第二目標和所述反演多徑目標的匹配度；所述第二目標為所述至少兩個目標中除所述第一目標以外的任意一個目標；

檢測模塊，用于當所述匹配度大于預設閾值時，將所述第二目標檢測為所述第一目標在所述雷達幀中的多徑目標；

所述反演模塊還用于：

根據所述第一目標的雷達信息，反演所述第一目標的信號模型；

根據所述信號模型和所述雷達幀對應的實時環境信息，在預設反射環境模型集合中確定所述第一目標對應的第一反射環境模型，以及在預設反射介質模型集合中確定所述第一目標對應的第一反射介質模型；根據所述信號模型、所述第一反射環境模型以及所述第一反射介質模型，反演所述第一目標的多徑傳播模型；其中，所述預設反射環境模型集合包括環境物模型、環境反射面模型、或者環境天氣模型，所述預設反射介質模型集合包括反射面的粗糙程度模型、介質反射率模型、介質彎曲度模型、介質高度模型、或者介質長度模型；

根據所述信號模型和所述多徑傳播模型，反演所述第一目標的所述反演多徑目標。

4.如權利要求3所述的多徑目標的檢測裝置，其特征在于，所述獲取模塊還用于：

計算所述第二目標和所述反演多徑目標的歐式距離值，將所述歐式距離值確定為所述匹配度；

或者，計算所述第二目標和所述反演多徑目標的相關系數，將所述相關系數確定為所述匹配度。

5.一種電子設備，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現如權利要求1至2任一項所述方法的步驟。

6.一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至2任一項所述方法的步驟。