[發(fā)明專利]顯示面板及其測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110238754.0
• 申請(qǐng)日: 2021-03-04
• 公開（公告）號(hào): CN112860115B
• 公開（公告）日: 2022-10-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郭文均
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 武漢華星光電半導(dǎo)體顯示技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F3/041
• 分類號(hào): G06F3/041
• 代理公司: 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 徐世俊

本申請(qǐng)實(shí)施例公開了一種顯示面板，包括顯示區(qū)和非顯示區(qū)，所述非顯示區(qū)包括：觸控測(cè)試區(qū)，包括間隔排列的多個(gè)觸控測(cè)試端子；顯示測(cè)試區(qū)，包括間隔排列的多個(gè)顯示測(cè)試端子；所述多個(gè)觸控測(cè)試端子設(shè)置為至少兩行，和/或所述多個(gè)顯示測(cè)試端子設(shè)置為至少兩行；至少一行所述觸控測(cè)試端子與所述顯示測(cè)試端子位于同一行。本申請(qǐng)通過將顯示面板上的部分測(cè)試端子設(shè)置為至少兩行分布以實(shí)現(xiàn)窄邊框設(shè)計(jì)，同時(shí)將觸控測(cè)試端子和顯示測(cè)試端子同行設(shè)置，并重新設(shè)計(jì)了測(cè)試所需的柔性測(cè)試電路板和測(cè)試壓頭，實(shí)現(xiàn)了通過一次測(cè)試壓頭的壓合同時(shí)完成觸控測(cè)試和顯示測(cè)試，提高了測(cè)試效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種顯示面板及其測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的顯示面板具有顯示區(qū)與非顯示區(qū)。非顯示區(qū)上設(shè)有測(cè)試端子。測(cè)試端子用于在量產(chǎn)中的點(diǎn)亮測(cè)試制程里向顯示面板輸入外部測(cè)試信號(hào)。現(xiàn)有的顯示面板的非顯示區(qū)包括多個(gè)觸控測(cè)試端子和多個(gè)顯示測(cè)試端子。多個(gè)觸控測(cè)試端子和多個(gè)顯示測(cè)試端子均采用單行間隔設(shè)置的方式分布。這樣導(dǎo)致觸控測(cè)試端子和顯示測(cè)試端子沿顯示面板邊長(zhǎng)方向所占的邊長(zhǎng)空間比例較大，不利于面板的窄邊框設(shè)計(jì)。

此外，現(xiàn)有技術(shù)的點(diǎn)亮測(cè)試制程中，觸控測(cè)試電路裝置與顯示測(cè)試電路裝置是相互獨(dú)立的，導(dǎo)致觸控測(cè)試與顯示測(cè)試需要分時(shí)進(jìn)行假壓連接，這樣也大大降低了顯示面板的測(cè)試效率，影響了量產(chǎn)產(chǎn)能。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種顯示面板及其測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法，以實(shí)現(xiàn)顯示面板窄邊框化的同時(shí)實(shí)現(xiàn)觸控測(cè)試與顯示測(cè)試的同步進(jìn)行，有效提升產(chǎn)能。

本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種顯示面板，包括顯示區(qū)和非顯示區(qū)，所述非顯示區(qū)包括：觸控測(cè)試區(qū)，包括間隔排列的多個(gè)觸控測(cè)試端子；顯示測(cè)試區(qū)，包括間隔排列的多個(gè)顯示測(cè)試端子；所述多個(gè)觸控測(cè)試端子設(shè)置為至少兩行，和/或所述多個(gè)顯示測(cè)試端子設(shè)置為至少兩行；至少一行所述觸控測(cè)試端子與所述顯示測(cè)試端子位于同一行。

可選的，在本申請(qǐng)的一些實(shí)施例中，每一行所述多個(gè)觸控測(cè)試端子的中心點(diǎn)位于同一水平線上，每一行所述多個(gè)顯示測(cè)試端子的中心點(diǎn)位于同一水平線上，多個(gè)所述觸控測(cè)試端子的中心點(diǎn)與多個(gè)所述顯示測(cè)試端子的中心點(diǎn)位于同一水平線上。

可選的，在本申請(qǐng)的一些實(shí)施例中，每一行所述觸控測(cè)試端子均與多個(gè)所述顯示測(cè)試端子同行設(shè)置，每一行所述顯示測(cè)試端子均與多個(gè)所述觸控測(cè)試端子同行設(shè)置。

可選的，在本申請(qǐng)的一些實(shí)施例中，所述多個(gè)觸控測(cè)試端子設(shè)置為至少兩行，所述觸控測(cè)試區(qū)內(nèi)的至少一行所述觸控測(cè)試端子與多個(gè)所述顯示測(cè)試端子位于同一行；相鄰兩行觸控測(cè)試端子之間的間距范圍在2mm至6mm之間，每一行的相鄰兩個(gè)所述觸控測(cè)試端子之間的間距范圍在2mm至5mm之間。

可選的，在本申請(qǐng)的一些實(shí)施例中，所述多個(gè)顯示測(cè)試端子設(shè)置為至少兩行，所述顯示測(cè)試區(qū)內(nèi)的至少一行所述顯示測(cè)試端子與多個(gè)所述觸控測(cè)試端子位于同一行；相鄰兩行顯示測(cè)試端子之間的間距范圍在2mm至6mm之間，每一行的相鄰兩個(gè)所述顯示測(cè)試端子之間的間距范圍在2mm至5mm之間。