[發(fā)明專利]基于機(jī)器人的高點(diǎn)打磨方法及設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110214531.0 | 申請(qǐng)日: | 2021-02-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113001263A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-06-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 嚴(yán)思杰;徐嘉星;張海洋;胡旭 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無(wú)錫中車(chē)時(shí)代智能裝備有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | B24B1/00 | 分類(lèi)號(hào): | B24B1/00;B24B27/00;B24B51/00 |
| 代理公司: | 武漢知伯樂(lè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42282 | 代理人: | 王福新 |
| 地址: | 214174 江蘇省無(wú)錫市惠*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 機(jī)器人 高點(diǎn) 打磨 方法 設(shè)備 | ||
本發(fā)明提供了一種基于機(jī)器人的高點(diǎn)打磨方法及設(shè)備。所述方法包括:對(duì)采集到的高點(diǎn)缺陷區(qū)點(diǎn)云進(jìn)行空間曲面重建;對(duì)重建的空間曲面進(jìn)行打磨軌跡規(guī)劃,并生成機(jī)器人控制代碼;控制機(jī)器人進(jìn)行高點(diǎn)打磨。本發(fā)明提供的基于機(jī)器人的高點(diǎn)打磨方法及設(shè)備,通過(guò)對(duì)采集到的高點(diǎn)缺陷區(qū)點(diǎn)云進(jìn)行空間曲面重建并規(guī)劃打磨軌跡,生成機(jī)器人控制代碼控制機(jī)器人進(jìn)行高點(diǎn)打磨,可以對(duì)各種大型復(fù)雜曲面構(gòu)件進(jìn)行全自動(dòng)化打磨,保證了打磨質(zhì)量的穩(wěn)定性,實(shí)現(xiàn)了機(jī)器人打磨工序的智能化控制,有利于機(jī)器人打磨大型構(gòu)件在業(yè)界的推廣。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實(shí)施例涉及工業(yè)機(jī)器人打磨控制技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種基于機(jī)器人的高點(diǎn)打磨方法及設(shè)備。
背景技術(shù)
基于打磨構(gòu)件CAD模型的離線軌跡規(guī)劃技術(shù),以其較高的自動(dòng)化程度和普適性已廣泛應(yīng)用于各行各業(yè)的機(jī)器人生產(chǎn)加工中。但是對(duì)于大型構(gòu)件表面任意區(qū)域凸起的局部高點(diǎn)修磨,離線軌跡規(guī)劃由于其針對(duì)理論模型的編程方式受到大大的限制,導(dǎo)致在機(jī)器人打磨后仍需人工對(duì)構(gòu)件表面進(jìn)行高點(diǎn)修磨,并且工件坐標(biāo)系的重復(fù)標(biāo)定也會(huì)影響機(jī)器人整體打磨效率及質(zhì)量,制約了機(jī)器人打磨大型構(gòu)件的進(jìn)一步推廣。因此,開(kāi)發(fā)一種基于機(jī)器人的高點(diǎn)打磨方法及設(shè)備,可以有效克服上述相關(guān)技術(shù)中的缺陷,就成為業(yè)界亟待解決的技術(shù)問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的上述問(wèn)題,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種基于機(jī)器人的高點(diǎn)打磨方法及設(shè)備。
第一方面,本發(fā)明的實(shí)施例提供了一種基于機(jī)器人的高點(diǎn)打磨方法,包括:對(duì)采集到的高點(diǎn)缺陷區(qū)點(diǎn)云進(jìn)行空間曲面重建;對(duì)重建的空間曲面進(jìn)行打磨軌跡規(guī)劃,并生成機(jī)器人控制代碼;控制機(jī)器人進(jìn)行高點(diǎn)打磨。
在上述方法實(shí)施例內(nèi)容的基礎(chǔ)上,本發(fā)明實(shí)施例中提供的基于機(jī)器人的高點(diǎn)打磨方法,所述高點(diǎn)缺陷區(qū)點(diǎn)云的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)包括:
其中,xn,yn,zn為高點(diǎn)缺陷區(qū)點(diǎn)云中的一高點(diǎn)坐標(biāo);n為高點(diǎn)缺陷區(qū)點(diǎn)云中的高點(diǎn)數(shù)量;t1,t2,t3,...,tn為高點(diǎn)缺陷區(qū)的特征序列;Qi為第i個(gè)高點(diǎn)缺陷區(qū);在進(jìn)行打磨軌跡規(guī)劃時(shí),根據(jù)所述高點(diǎn)缺陷區(qū)的特征序列,從打磨工藝庫(kù)中調(diào)取打磨參數(shù)。
在上述方法實(shí)施例內(nèi)容的基礎(chǔ)上,本發(fā)明實(shí)施例中提供的基于機(jī)器人的高點(diǎn)打磨方法,所述對(duì)采集到的高點(diǎn)缺陷區(qū)點(diǎn)云進(jìn)行空間曲面重建,包括:對(duì)每個(gè)高點(diǎn)缺陷區(qū)采用非均勻有理B樣條的曲面擬合方法進(jìn)行重建,得到重建的空間曲面,讀取高點(diǎn)缺陷特征序列,將所述高點(diǎn)缺陷特征序列與重建的空間曲面打包存儲(chǔ)。
在上述方法實(shí)施例內(nèi)容的基礎(chǔ)上,本發(fā)明實(shí)施例中提供的基于機(jī)器人的高點(diǎn)打磨方法,所述對(duì)重建的空間曲面進(jìn)行打磨軌跡規(guī)劃,包括:對(duì)重建的空間曲面進(jìn)行UV向遍歷,得到若干條U向曲線和V向曲線,獲取所述若干條U向曲線和V向曲線上每一點(diǎn)的坐標(biāo)值及切向量;比較重建的空間曲面的U向延伸長(zhǎng)度與V向延伸長(zhǎng)度,根據(jù)比較結(jié)果確定打磨軌跡的方向。
在上述方法實(shí)施例內(nèi)容的基礎(chǔ)上,本發(fā)明實(shí)施例中提供的基于機(jī)器人的高點(diǎn)打磨方法,所述根據(jù)比較結(jié)果確定打磨軌跡的方向,包括:若U向延伸長(zhǎng)度大于V向延伸長(zhǎng)度,則確定打磨軌跡的方向與U向垂直。
在上述方法實(shí)施例內(nèi)容的基礎(chǔ)上,本發(fā)明實(shí)施例中提供的基于機(jī)器人的高點(diǎn)打磨方法,所述根據(jù)比較結(jié)果確定打磨軌跡的方向,還包括:若U向延伸長(zhǎng)度小于V向延伸長(zhǎng)度,則確定打磨軌跡的方向與V向垂直。
在上述方法實(shí)施例內(nèi)容的基礎(chǔ)上,本發(fā)明實(shí)施例中提供的基于機(jī)器人的高點(diǎn)打磨方法,所述控制機(jī)器人進(jìn)行高點(diǎn)打磨,包括:設(shè)置機(jī)器人附屬PLC電氣打磨參數(shù),讀取打磨軌跡并向機(jī)器人發(fā)送運(yùn)動(dòng)軌跡指令,機(jī)器人打磨一高點(diǎn)區(qū)域,若機(jī)器人執(zhí)行完運(yùn)動(dòng)軌跡指令,則繼續(xù)向機(jī)器人發(fā)送后續(xù)運(yùn)動(dòng)軌跡指令,改變機(jī)器人附屬PLC電氣打磨參數(shù),機(jī)器人繼續(xù)打磨另一高點(diǎn)區(qū)域。
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