[發(fā)明專利]圖像重制裝置及其檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110205376.6 | 申請日: | 2021-02-24 |
| 公開(公告)號: | CN113720847A | 公開(公告)日: | 2021-11-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄒嘉駿;王人杰;林伯聰;徐敏堂 | 申請(專利權(quán))人: | 由田新技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01N21/94;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京律和信知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11446 | 代理人: | 張莎莎;項榮 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圖像 裝置 及其 檢測 方法 | ||
1.一種圖像重制裝置,用以配合復(fù)檢設(shè)備實施,其特征在于,所述圖像重制裝置包括:
殼體;
重制模塊,所述重制模塊容置在所述殼體內(nèi),自所述復(fù)檢設(shè)備重制待測物的瑕疵位置圖像;以及
傳輸模塊,所述傳輸模塊耦合至所述重制模塊,傳輸所述圖像重制模塊重制的所述瑕疵位置圖像至圖像檢測裝置,從而產(chǎn)生圖像復(fù)檢結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像重制裝置,其特征在于,所述重制模塊包括第一分屏單元,所述第一分屏單元連接至所述復(fù)檢設(shè)備,以重制所述復(fù)檢設(shè)備的的所述瑕疵位置圖像。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像重制裝置,其特征在于,所述重制模塊包括第一圖像擷取單元,所述第一圖像擷取單元朝向所述復(fù)檢設(shè)備的復(fù)檢顯示裝置拍攝,以重制所述瑕疵位置圖像,或一部份所述瑕疵位置圖像。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像重制裝置,其特征在于,所述重制模塊包括:
第二分屏單元,所述第二分屏單元連接至所述復(fù)檢設(shè)備,用以重制所述復(fù)檢設(shè)備的復(fù)檢顯示裝置所呈現(xiàn)的所述瑕疵位置圖像;
重制顯示單元,所述重制顯示單元連接至所述第二分屏單元,用以顯示所述瑕疵位置圖像;以及
第二圖像擷取單元,所述第二圖像擷取單元朝向所述重制顯示單元拍攝,以獲得所述瑕疵位置圖像或一部分所述瑕疵位置圖像。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像重制裝置,其特征在于,所述圖像檢測裝置包括瑕疵復(fù)檢模塊以及類別復(fù)檢模塊,所述瑕疵復(fù)檢模塊根據(jù)所述瑕疵位置圖像判斷所述待測物是否具有缺陷,所述類別復(fù)檢模塊根據(jù)所述瑕疵位置圖像分類所述待測物的缺陷類型,從而產(chǎn)生所述圖像復(fù)檢結(jié)果。
6.一種包括根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像重制裝置的復(fù)檢系統(tǒng),其特征在于,包括:
自動操作裝置,所述自動操作裝置輸出操作指令,使所述復(fù)檢設(shè)備的復(fù)檢攝像機移動至所述待測物的瑕疵位置上方,并拍攝所述瑕疵位置圖像;以及
所述圖像重制裝置,所述圖像重制裝置用以自所述復(fù)檢設(shè)備重制所述瑕疵位置圖像,并將所述瑕疵位置圖像傳輸至所述圖像檢測裝置,從而產(chǎn)生所述圖像復(fù)檢結(jié)果。
7.一種圖像重制的檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
提供復(fù)檢設(shè)備,用以接收來自自動化光學(xué)檢測設(shè)備所產(chǎn)生的待測物的檢測結(jié)果;
所述復(fù)檢設(shè)備根據(jù)所述待側(cè)物的檢測結(jié)果,產(chǎn)生瑕疵位置圖像;
在所述復(fù)檢設(shè)備上重制并傳輸所述瑕疵位置圖像至外部圖像檢測裝置;以及
在所述外部圖像檢測裝置上,圖像檢測自所述復(fù)檢設(shè)備上所重制的所述瑕疵位置圖像,以產(chǎn)生圖像復(fù)檢結(jié)果。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的圖像重制的檢測方法,其特征在于,在所述復(fù)檢設(shè)備根據(jù)所述待側(cè)物的檢測結(jié)果,產(chǎn)生瑕疵位置圖像的步驟中包括:
利用自動操作裝置輸出操作指令,使所述復(fù)檢設(shè)備的復(fù)檢攝像機根據(jù)瑕疵位置信息,移動至所述待測物的瑕疵位置上,并拍攝所述瑕疵位置圖像。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的圖像重制的檢測方法,其特征在于,在所述復(fù)檢設(shè)備上重制所述瑕疵位置圖像時,是利用圖像重制裝置,朝向所述復(fù)檢設(shè)備的復(fù)檢顯示裝置拍攝,以重制所述復(fù)檢顯示裝置所呈現(xiàn)的所述瑕疵位置圖像或一部份所述瑕疵位置圖像。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的圖像重制的檢測方法,其特征在于,在所述復(fù)檢設(shè)備上重制所述瑕疵位置圖像時,是利用圖像重制裝置自所述復(fù)檢設(shè)備重制所述復(fù)檢顯示裝置所呈現(xiàn)的所述瑕疵位置圖像后,在重制顯示單元上顯示并拍攝所述瑕疵位置圖像,以重制所述瑕疵位置圖像或一部分所述瑕疵位置圖像。
11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的圖像重制的檢測方法,其特征在于,自重制后的所述瑕疵位置圖像,判斷所述待測物是否具有缺陷以及分類所述待測物的缺陷類型,從而產(chǎn)生所述圖像復(fù)檢結(jié)果。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
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