[發明專利]鏡頭狀態的檢測方法及裝置、電子設備、存儲介質

有效

• 申請號: 202110153498.5
• 申請日: 2021-02-04
• 公開（公告）號: CN112911280B
• 公開（公告）日: 2022-03-01
• 發明（設計）人: 李濱何
• 申請（專利權）人: 廣東小天才科技有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00;G08B21/24
• 代理公司: 廣州德科知識產權代理有限公司 44381
• 代理人: 萬振雄;楊中強

1.一種鏡頭狀態的檢測方法，其特征在于，所述鏡頭狀態用于表示鏡頭的潔凈程度，所述方法應用于電子設備，所述電子設備包括攝像模組，以及與所述攝像模組可拆卸設置的凸透鏡模組，所述凸透鏡模組用于使得待拍攝物體在所述攝像模組中的成像放大，所述方法包括：獲取所述攝像模組在所述電子設備裝配所述凸透鏡模組時采集的，被所述凸透鏡模組放大的第一圖像；

獲取所述攝像模組在所述電子設備未裝配所述凸透鏡模組時，采集的第二圖像；

根據所述第一圖像和所述第二圖像，確定出所述攝像模組的第一鏡頭狀態，和所述凸透鏡模組的第二鏡頭狀態；

輸出所述第一鏡頭狀態和所述第二鏡頭狀態。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一圖像和所述第二圖像，確定出所述攝像模組的第一鏡頭狀態，和所述凸透鏡模組的第二鏡頭狀態，包括：

提取所述第一圖像的第一圖像特征，并根據所述第一圖像特征確定所述第一圖像的第一污點信息；

提取所述第二圖像的第二圖像特征，并根據所述第二圖像特征確定所述第二圖像的第二污點信息；

根據所述第一污點信息和所述第二污點信息，確定所述攝像模組的第一鏡頭狀態，和所述凸透鏡模組的第二鏡頭狀態。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一圖像特征確定所述第一圖像的第一污點信息，包括：

若所述第一圖像特征與污點圖像特征相匹配，則確定所述第一圖像中存在污點，以及若所述第一圖像特征與污點圖像特征不匹配，則確定所述第一圖像中不存在污點；

以及，所述根據所述第二圖像特征確定所述第二圖像的第二污點信息，包括：

若所述第二圖像特征與污點圖像特征相匹配，則確定所述第二圖像中存在污點，以及若所述第二圖像特征與污點圖像特征不匹配，則確定所述第二圖像中不存在污點。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一污點信息和所述第二污點信息，確定所述攝像模組的第一鏡頭狀態，和所述凸透鏡模組的第二鏡頭狀態，包括：

若所述第一圖像中不存在污點，且所述第二圖像中不存在污點，則確定所述凸透鏡模組的鏡頭和所述攝像模組的鏡頭都處于潔凈狀態；

若所述第一圖像中存在污點，且所述第二圖像中不存在污點，則確定所述凸透鏡模組的鏡頭處于污染狀態，所述攝像模組的鏡頭處于潔凈狀態。

5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一污點信息和所述第二污點信息，確定所述攝像模組的第一鏡頭狀態，和所述凸透鏡模組的第二鏡頭狀態，包括：

若所述第一圖像中存在污點，且所述第二圖像中存在污點，則判斷所述第一圖像中的污點的第一位置，與所述第二圖像中的污點的第二位置是否相同；

若所述第一位置與所述第二位置相同，則確定所述凸透鏡模組的鏡頭處于潔凈狀態，所述攝像模組的鏡頭處于污染狀態；

若所述第一位置與所述第二位置不相同，則確定所述凸透鏡模組的鏡頭和所述攝像模組的鏡頭都處于污染狀態。

6.根據權利要求4或5任一項所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

若確定出所述凸透鏡模組的鏡頭處于污染狀態，則根據所述第一圖像中的污點的第一位置，確定出所述凸透鏡模組的鏡頭上的污點的第三位置并輸出所述第三位置，所述第三位置和所述第一位置為第一匹配關系；

若確定出所述攝像模組的鏡頭處于污染狀態，則根據所述第二圖像中的污點的第二位置，確定出所述攝像模組的鏡頭上的污點的第四位置并輸出所述第四位置，所述第四位置和所述第二位置為第二匹配關系。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述輸出所述第一鏡頭狀態和所述第二鏡頭狀態，包括：

若所述第一鏡頭狀態為污染狀態和/或所述第二鏡頭狀態為污染狀態，則輸出提示信息，所述提示信息用于提示用戶對鏡頭狀態為污染狀態的鏡頭進行清潔。