[發明專利]一種雜散光測試系統及方法在審
| 申請號: | 202110144558.7 | 申請日: | 2021-02-02 |
| 公開(公告)號: | CN112798597A | 公開(公告)日: | 2021-05-14 |
| 發明(設計)人: | 于立民 | 申請(專利權)人: | 上海倍藍光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/84 | 分類號: | G01N21/84;G01N21/01;G01M11/02 |
| 代理公司: | 上海昱澤專利代理事務所(普通合伙) 31341 | 代理人: | 孟波 |
| 地址: | 201517 上海市金山*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 散光 測試 系統 方法 | ||
本發明公開了一種雜散光測試系統,包括外部支架、積分球、攝像系統、LED光源、光阱和攝像支架,外部支架上設有積分球,積分球上設有多個開口,包括拍攝口、光源安裝口和光阱口,拍攝口與攝像系統連接,光源安裝口與LED光源連接,光阱口與光阱連接,攝像系統設于攝像支架上。本雜散光測試系統,適用于各類鏡片、鏡頭及成像設備雜散光的測試及檢驗,可用于測量鏡片、鏡頭及成像設備的白場灰階、黑場灰階及雜散光系數等光學性能。采用積分球結構實現均勻照明,通過電流控制器調整照明亮度,滿足鏡頭對于不同光譜和亮度需要鏡頭的測試需要。并配合大尺寸光阱的方式,實現大于1000:1的高亮度對比度,保證測試結果準確度。
技術領域
本發明涉及光學測量領域,特別涉及一種雜散光測試系統及方法。
背景技術
光學系統成像面接收到的圖像信息不單單只是從圖像本身出來的,還包括由于鏡片和攝像主體本身產生的雜散光。雜散光會導致圖片對比度下降,對鏡片,鏡頭和成像設備的光學性能提出了更高的要求。
故需要一種準確度高的雜散光測試系統。
發明內容
為了解決上述問題,本發明提供一種準確度高的雜散光測試系統及方法。
本發明中的一種雜散光測試系統,包括外部支架、積分球、攝像系統、LED光源、光阱和攝像支架,所述外部支架上設有積分球,所述積分球上設有多個開口,包括拍攝口、光源安裝口和光阱口,所述拍攝口與攝像系統連接,所述光源安裝口與LED光源連接,所述光阱口與光阱連接,所述攝像系統設于攝像支架上。
上述方案中,所述拍攝口與攝像系統之間設有鏡頭夾具。
上述方案中,所述光阱與光阱口之間設有插片槽。
上述方案中,所述LED光源設有兩個,包括第一LED光源和第二LED光源,所述第一LED光源為6500K高色溫和3000K低色溫白光LED光源,所述第二LED光源為850nm和950nm紅外LED光源。
上述方案中,還包括控制器,所述控制器與LED光源連接,所述控制器可以通過調節電流控制LED光源的亮度。
上述方案中,所述積分球直徑50cm,積分球內勻光得到漫射的均勻光。
上述方案中,攝像系統通過拍攝得到系統內亮暗對比情況,雜散光測試系統帶有自動識別軟件,對拍攝所得的亮暗對比圖片進行自動分析計算,得到所需的雜散光系數。
本發明的優點和有益效果在于:本發明提供一種準確度高的雜散光測試系統及方法,適用于各類鏡片、鏡頭及成像設備雜散光的測試及檢驗,可用于測量鏡片、鏡頭及成像設備的白場灰階、黑場灰階及雜散光系數等光學性能,滿足國標GB/T10988的各項測試要求。采用積分球結構實現均勻照明,通過電流控制器調整照明亮度,滿足鏡頭對于不同光譜和亮度需要鏡頭的測試需要。并配合大尺寸光阱的方式,實現大于1000:1的高亮度對比度,保證測試結果準確度。通過攝像系統進行圖像采集,并通過運算分析,得到所需的各項光學性能指標。
附圖說明
為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案,下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動性的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發明的結構示意圖。
圖中:1、外部支架2、積分球3、攝像系統4、光阱
5、攝像支架6、鏡頭夾具7、插片槽8、第一LED光源
9、第二LED光源
具體實施方式
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