[發(fā)明專利]一種硅晶圓結(jié)構(gòu)及其制造方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110104908.7 | 申請日: | 2021-01-26 |
| 公開(公告)號: | CN112786676A | 公開(公告)日: | 2021-05-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 徐建衛(wèi);汪鵬;李蜀文 | 申請(專利權(quán))人: | 赫芯(浙江)微電子科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/04 | 分類號: | H01L29/04;H01L21/02;B28D5/04 |
| 代理公司: | 上海百一領(lǐng)御專利代理事務所(普通合伙) 31243 | 代理人: | 王奎宇;楊孟娟 |
| 地址: | 314214 浙江省嘉興市平湖*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 硅晶圓 結(jié)構(gòu) 及其 制造 方法 | ||
本申請公開了一種硅晶圓結(jié)構(gòu)及其制造方法,該硅晶圓結(jié)構(gòu)包括:切割面以及111腐蝕面,所述切割面和所述111腐蝕面的夾角為45°。該制造方法,包括采用100晶向生長的硅單晶棒,偏離100面9.74°切割形成切割面;腐蝕得到非對稱的111腐蝕面,其中一111腐蝕面與所述切割面的夾角為45°。本申請形成一切割面,然后在腐蝕形成111腐蝕面,克服了現(xiàn)有技術(shù)中111面和100面夾角是54.74°而非45°的問題,實現(xiàn)了切割面和111腐蝕面的夾角為45°的要求,可獲得45°反射鏡,滿足市場使用需求。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請屬于硅晶圓技術(shù)領(lǐng)域,涉及濕法腐蝕制作45°反射鏡,具體涉及一種硅晶圓結(jié)構(gòu)及其制造方法。
背景技術(shù)
45°反射鏡在光學系統(tǒng)中廣泛應用,起到光路90°轉(zhuǎn)換的作用。在硅光子集成芯片中,45°反射鏡可以將波導中的光垂直反射出芯片,因為集成需求,所以硅腐蝕45°反射鏡有很高的應用價值。在硅晶體中,100面與110面夾角是45°。大量文獻實驗都是基于100面的硅晶圓和110面的硅晶圓,通過調(diào)整腐蝕液配方,腐蝕溫度等條件,得到100面和110面的45°作為反射鏡。但是因為110面和100面腐蝕速率選擇比不高,鏡面無法避免腐蝕坑。常規(guī)濕法腐蝕前通常采100晶面硅片,利用100面和111面的高選擇比,一般大于100:1,腐蝕出斜面111面。111面的腐蝕效果穩(wěn)定且光滑,可做為光學反射鏡面使用,但是111面和100面夾角是54.74°,不滿足45°的要求。
發(fā)明內(nèi)容
針對上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點或不足,本申請要解決的技術(shù)問題是提供一種硅晶圓結(jié)構(gòu)及其制造方法。
為解決上述技術(shù)問題,本申請通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn):
本申請一方面提出了一種硅晶圓結(jié)構(gòu),包括:切割面以及111腐蝕面,所述切割面和所述111腐蝕面的夾角為45°。
可選地,上述的硅晶圓結(jié)構(gòu),其中,所述切割面以110平邊按照順時針偏離100面9.74°。
可選地,上述的硅晶圓結(jié)構(gòu),其中,所述切割面以110平邊按照逆時針偏離100面9.74°。
可選地,上述的硅晶圓結(jié)構(gòu),其中,所述切割面以垂直于110平邊的方向為軸線,偏離100面9.74°。
可選地,上述的硅晶圓結(jié)構(gòu),其中,所述偏離的方向是順時針方向或逆時針方向。
可選地,上述的硅晶圓結(jié)構(gòu),其中,所述硅晶圓摻雜為N型或P型。
可選地,上述的硅晶圓結(jié)構(gòu),其中,所述110平邊可由SEMI(SemiconductorEquipment and Materials International,國際半導體產(chǎn)業(yè)協(xié)會)標準的定位槽替代。
可選地,上述的硅晶圓結(jié)構(gòu),其中,所述111腐蝕面還蒸鍍有金層。
可選地,上述的硅晶圓結(jié)構(gòu),其中,所述金層的厚度為0.4-0.6μm。
本申請另一方面還提出了一種上述的硅晶圓結(jié)構(gòu)的制造方法,采用100晶向生長的硅單晶棒,偏離100面9.74°切割形成切割面;腐蝕得到非對稱的111腐蝕面,其中一111腐蝕面與所述切割面的夾角為45°。
可選地,上述的制造方法,其中,在上述的偏離100面9.74°切割形成切割面中,包括:以110平邊按照順時針或逆時針偏離100面9.74°形成所述切割面。
可選地,上述的制造方法,其中,在上述的腐蝕得到非對稱的111腐蝕面中,包括:將掩膜平行或垂直與所述110平邊,采用堿性溶液腐蝕得到非對稱的111腐蝕面。
可選地,上述的制造方法,其中,還包括:在所述111腐蝕面上蒸鍍0.4-0.6μm的金層。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本申請具有如下技術(shù)效果:
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L29-02 .按其半導體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
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