[發明專利]用于微波模塊的調試裝置及其制作方法

有效

• 申請號: 202110102000.2
• 申請日: 2021-01-26
• 公開（公告）號: CN112924780B
• 公開（公告）日: 2023-08-04
• 發明（設計）人: 汪寧;方航;蔡慶剛;葉貝貝;曹振玲
• 申請（專利權）人: 安徽華東光電技術研究所有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;H01P11/00
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司 11283
• 代理人: 董杰

本發明公開了一種用于微波模塊的調試裝置，底座分上腔和下腔，上腔設有兩個凹槽，其中一個凹槽形狀為待調試微波模塊形狀，另外一個凹槽設有第一微波電路板；下腔設有第二微波電路板；底座側邊設有第一、第二射頻連接器、第一、第二DC絕緣子和一個接地柱；還公開了一種制作方法。該調試裝置能快速實現調試，無需每調試一個模塊時都需用電烙鐵在微帶導線焊接調試電容，直接用調試電容簡易裝置對需要焊接調試電容的微帶導線進行按壓，實現調試電容的匹配，大大省去焊接時間，而且避免焊接對模塊的污染。同時，該制作方法簡單，使用該方法制作的調試裝置進行調試大大節省了調試時間，為批量化調試提供了有力保障。

技術領域

本發明涉及微波模塊調試裝置技術領域，具體地，涉及一種用于微波模塊的調試裝置及其制作方法。

背景技術

微波模塊近年來已廣泛應用于雷達、電子對抗、廣播電視等領域，幾乎所有的微波模塊在組裝裝配完成后，都需要對微波模塊的性能指標進行調試，通過調試使模塊的性能指標滿足產品要求；對于大批量產品調試來說，科學合理的調試裝置顯得尤為重要。

因此，急需要提供一種科學、合理、簡單、省時的調試裝置來解決上述技術問題。

發明內容

本發明的目的是提供一種用于微波模塊的調試裝置，該調試裝置能快速實現調試，無需每調試一個模塊時都需用電烙鐵在微帶導線焊接調試電容，直接用調試電容簡易裝置對需要焊接調試電容的微帶導線進行按壓，實現調試電容的匹配，大大省去焊接時間，而且避免焊接對模塊的污染。

本發明的另一個目的是提供一種用于微波模塊的調試裝置的制作方法，該制作方法簡單，使用該方法制作的調試裝置進行調試大大節省了調試時間，為批量化調試提供了有力保障。

為了實現上述目的，本發明提供了一種用于微波模塊的調試裝置，包括底座和調試電容匹配簡易工裝；

底座分上腔和下腔，上腔設有兩個凹槽，其中一個凹槽形狀為待調試微波模塊形狀，該凹槽上設有三個通孔和四個螺釘孔；另外一個凹槽設有第一微波電路板；下腔設有第二微波電路板；

底座側邊設有第一射頻連接器、第二射頻連接器、第一DC絕緣子、第二DC絕緣子和一個接地柱；其中，

第二微波電路板設有第一插孔金屬柱、第二插孔金屬柱和第三插孔金屬柱；通孔實現上腔與下腔的互通，用于微波模塊上的絕緣子通過通孔與第二微波電路板上的插孔金屬柱連接，實現電氣互通；

螺釘孔用于微波模塊的固定；

第一射頻連接器與第一微波電路板連接，第二射頻連接器與第二微波電路板連接；

第一DC絕緣子、第二DC絕緣子與第二微波電路板連接；

調試電容匹配簡易工裝為口字型結構，包括支撐柱、第一銅皮、第二銅皮和調試電容；其中，支撐柱為聚四氟乙烯材料制成，兩端設有第一銅皮和第二銅皮，第一銅皮和第二銅皮之間設有調試電容。

本發明還提供了一種用于微波模塊的調試裝置的制作方法，包括：

步驟1、制作加工結構件和微波電路板；

步驟2、插孔金屬柱與微波電路板焊接；

步驟3、微波電路板、DC絕緣子與底座釬焊；

步驟4、射頻連接器和接地柱與底座電裝焊接；

步驟5、微波電路板灌膠；

步驟6、制作調試電容匹配簡易工裝；

步驟7、調試。

優選地，在步驟1中，根據結構件圖紙制作加工結構件，并且，底座材料為LY12，表面鍍銀處理；根據微波電路板圖紙制作加工微波電路板，并且，微波電路板材料為FR-4，背面金屬化。