[發(fā)明專利]用于核酸檢測(cè)的芯片裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110055537.8
• 申請(qǐng)日: 2021-01-15
• 公開（公告）號(hào): CN113278509B
• 公開（公告）日: 2022-04-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔡亦梅;任魯風(fēng);李潔昆;張瑜;范東雨;高靜;任瑋鵬
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京中科生儀科技有限公司
• 主分類號(hào): C12M1/34
• 分類號(hào): C12M1/34;C12M1/00
• 代理公司: 北京精金石知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11470
• 代理人: 姜艷華

1.一種用于核酸檢測(cè)的芯片裝置，其特征在于，包括：

設(shè)置在最上端的加樣層、設(shè)置在加樣層下側(cè)的墊片和設(shè)置在墊片下側(cè)的管路層；

其中，

所述加樣層上側(cè)設(shè)置有加樣孔，用以向芯片內(nèi)添加樣品，注入芯片內(nèi)的樣品依次經(jīng)過(guò)核酸提取、純化、擴(kuò)增反應(yīng)；

所述加樣層與管路層通過(guò)卡條與設(shè)置在管路層側(cè)部的限位架活動(dòng)連接，相應(yīng)的，在限位架的內(nèi)側(cè)設(shè)置有第一卡槽，第一卡槽通過(guò)卡條相互配合連接，以實(shí)現(xiàn)加樣層和管路層的相對(duì)位置切換和固定；

第二卡槽，所述第二卡槽設(shè)置在所述限位架的內(nèi)側(cè)，位于所述第一卡槽的下方；

在運(yùn)輸或存儲(chǔ)時(shí)，所述加樣層與所述第一卡槽連接；

在使用時(shí)，將所述墊片抽出，向下按壓所述加樣層，使得所述加樣層與所述第二卡槽連接，同時(shí)，刺針設(shè)置在管路層上的立柱上，用以刺破設(shè)置在所述加樣層內(nèi)的試劑，以使試劑和樣品進(jìn)行混合反應(yīng)；

當(dāng)所述加樣層與所述管路層壓合后，設(shè)置在所述加樣層底部的第一應(yīng)變片檢測(cè)所述加樣層和所述管路層之間的擠壓力，用以確定所述加樣層和所述管路層在壓合過(guò)程中受力的均勻性。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于核酸檢測(cè)的芯片裝置，其特征在于，還包括密封膜和第二應(yīng)變片，所述密封膜設(shè)置在所述管路層的下側(cè)，用以，實(shí)現(xiàn)密封，所述第二應(yīng)變片分別設(shè)置在所述第一卡槽和所述第二卡槽內(nèi)；在所述第一卡槽內(nèi)橫向取M個(gè)位置，所述第二應(yīng)變片檢測(cè)所述M個(gè)位置處的應(yīng)力，記為第一應(yīng)力函數(shù)F(f1，f2……fm),所述第二卡槽內(nèi)選取的位置和所述第一卡槽內(nèi)的位置一一對(duì)應(yīng)，所述第二卡槽的第二應(yīng)力函數(shù)為F’(f1’,f2’,……fm’),根據(jù)所述第一應(yīng)力函數(shù)和所述第二應(yīng)力函數(shù)判斷所述加樣層的位置。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于核酸檢測(cè)的芯片裝置，其特征在于，在所述加樣層與所述第一卡槽連接時(shí)，首先比較f1和fm，得到第一正差值，若所述第一正差值高于第一預(yù)設(shè)差值f0，則重新調(diào)整所述加樣層；若所述第一正差值低于第一預(yù)設(shè)差值f0，則進(jìn)行后續(xù)操作；

在所述加樣層與所述第二卡槽連接時(shí)，比較f1’和fm’，得到第二正差值，若所述第二正差值高于第二預(yù)設(shè)差值f0’，則重新調(diào)整所述加樣層；若所述第二正差值低于第二預(yù)設(shè)差值f0’，則進(jìn)行后續(xù)操作。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于核酸檢測(cè)的芯片裝置，其特征在于，在所述加樣層與所述第二卡槽連接時(shí)，比較第一應(yīng)力函數(shù)F(f1，f2……fm)與第二應(yīng)力函數(shù)為F’(f1’,f2’,……fm’)中一一對(duì)應(yīng)的位置處的各個(gè)應(yīng)力差值的絕對(duì)值，所述第一應(yīng)力函數(shù)F(f1，f2……fm)為所述加樣層和所述第一卡槽連接時(shí)產(chǎn)生的函數(shù)，判定每一個(gè)應(yīng)力差值的絕對(duì)值是否小于預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)誤差F0，若小于，則繼續(xù)操作，若不小于，則確定對(duì)應(yīng)的某組應(yīng)力差值的絕對(duì)值的對(duì)應(yīng)位置，以確定加樣層或管路層的損壞。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于核酸檢測(cè)的芯片裝置，其特征在于，所述墊片的下側(cè)還設(shè)置有滑軌，相應(yīng)的，在所述管路層的上側(cè)面設(shè)置有滑槽，滑軌通過(guò)與滑槽配合連接，以實(shí)現(xiàn)墊片與管路層的滑動(dòng)連接；

所述滑槽設(shè)置在管路層上的限位架的內(nèi)側(cè)；

所述墊片的端部設(shè)置若干相間排列的凹口與凸起，其中，所述滑軌設(shè)置在最外側(cè)凸起的底面上。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于核酸檢測(cè)的芯片裝置，其特征在于，在所述加樣層和所述管路層還設(shè)置卡扣結(jié)構(gòu)，在加樣層的一側(cè)設(shè)置有第一卡扣，第一卡扣的下側(cè)伸出端伸出所述加樣層的底端，在將加樣層和管路層配合安裝在一起后，通過(guò)第一卡扣卡接在管路層的側(cè)面上，以防止加樣層和管路層分離。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于核酸檢測(cè)的芯片裝置，其特征在于，所述管路層上設(shè)置有兩個(gè)第一單閥，用以控制所述管路層上管路內(nèi)試劑的流動(dòng)；

在所述管路層上還設(shè)置有一個(gè)雙閥，用以控制管路的同時(shí)連通或同時(shí)封閉，所述雙閥通過(guò)管路與擴(kuò)增倉(cāng)連通。