[發明專利]一種精細化顆粒物源解析方法有效
| 申請號： | 202110052204.X | 申請日： | 2021-01-15 |
| 公開（公告）號： | CN112858116B | 公開（公告）日： | 2023-10-17 |
| 發明（設計）人： | 薛倩倩;田瑛澤;馮銀廠 | 申請（專利權）人： | 南開大學 |
| 主分類號： | G01N15/00 | 分類號： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 天津諾德知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 12213 | 代理人： | 欒志超 |
| 地址： | 300071*** | 國省代碼： | 天津;12 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 精細 顆粒 解析 方法 | ||
一種精細化顆粒物源解析方法，所述方法包括步驟：獲取各特征排放源的有機物排放特征；采集顆粒物樣品；分析所述顆粒物樣品的有機物時間變化規律；根據所述有機物排放特征和所述有機物時間變化規律對所述顆粒物樣品進行第一次組分篩選；計算所述第一次組分篩選后的所述顆粒物樣品中各組分之間的相關系數；根據所述相關系數對所述第一次組分篩選后的所述顆粒物樣品進行第二次組分篩選；根據因子分析模型對所述第二次組分篩選后的所述顆粒物樣品進行源類識別。本發明實現了對顆粒物的精細化源解析。
技術領域
本發明屬于顆粒物源解析技術領域，具體涉及一種精細化顆粒物源解析方法。
背景技術
現有的大氣顆粒物源解析方法多數僅利用無機元素、離子和元素碳組分進行顆粒物源解析，隨著排放源特征的改變，使用現有的大氣顆粒物源解析方法精確解析各排放源開始變得困難。
現有研究中涉及有機物的種類繁多，但在運用其進行源解析時未對有機物的標識性進行進一步識別和篩選，將大量有機物與少量無機組分納入源解析模型時，由于有機物的濃度相對較小，如果直接將有機物大量納入模型中會增加模型的不確定性，從而導致得出的源解析結果不準確。
發明內容
為解決上述問題，本發明提供了一種精細化顆粒物源解析方法，所述方法包括步驟：
獲取各特征排放源的有機物排放特征；
采集顆粒物樣品；
分析所述顆粒物樣品的有機物時間變化規律；
根據所述有機物排放特征和所述有機物時間變化規律對所述顆粒物樣品進行第一次組分篩選；
計算所述第一次組分篩選后的所述顆粒物樣品中各組分之間的相關系數；
根據所述相關系數對所述第一次組分篩選后的所述顆粒物樣品進行第二次組分篩選；
根據所述含量對所述第二次組分篩選后的所述顆粒物樣品進行第三次組分篩選；
根據因子分析模型對所述第二次組分篩選后的所述顆粒物樣品進行源類識別。
優選地，所述獲取各特征排放源的有機物排放特征包括步驟：
獲取預設時間段內各特征排放源的排放信息；
根據所述排放信息分析各特征排放源的時間排放特征。
優選地，所述采集顆粒物樣品包括步驟：
配置大氣顆粒物采集器；
使用所述大氣顆粒物采集器采集所述顆粒物樣品。
優選地，所述分析所述顆粒物樣品的有機物時間變化規律包括步驟：
使用電感藕合等離子體質譜法測量所述顆粒物樣品中的元素；
使用離子色譜測量所述顆粒物樣品中的離子；
使用碳組分分析儀測量所述顆粒物樣品中的有機碳和元素碳；
使用氣相色譜-質譜聯用法測量所述顆粒物樣品中的有機組分；
根據測量結果分析所述顆粒物樣品的有機物時間變化規律。
優選地，所述根據所述有機物排放特征和所述有機物時間變化規律對所述顆粒物樣品進行第一次組分篩選包括步驟：
獲取所述顆粒物樣品中各有機物組分對應的有機物時間變化規律；
獲取所述顆粒物樣品中各有機物組分對應的有機物排放特征；
對比所述有機物時間變化規律和所述有機物排放特征；
刪除與所述有機物排放特征不符的所述有機物；
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于南開大學，未經南開大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110052204.X/2.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
