[發明專利]一種精細化顆粒物源解析方法

有效

• 申請號: 202110052204.X
• 申請日: 2021-01-15
• 公開（公告）號: CN112858116B
• 公開（公告）日: 2023-10-17
• 發明（設計）人: 薛倩倩;田瑛澤;馮銀廠
• 申請（專利權）人: 南開大學
• 主分類號: G01N15/00
• 分類號: G01N15/00
• 代理公司: 天津諾德知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 12213
• 代理人: 欒志超

1.一種精細化顆粒物源解析方法，其特征在于，所述方法包括步驟：

獲取各特征排放源的有機物排放特征；

采集顆粒物樣品；

分析所述顆粒物樣品的有機物時間變化規律；

根據所述有機物排放特征和所述有機物時間變化規律對所述顆粒物樣品進行第一次組分篩選；

計算所述第一次組分篩選后的所述顆粒物樣品中各組分之間的相關系數；

根據所述相關系數對所述第一次組分篩選后的所述顆粒物樣品進行第二次組分篩選；

根據因子分析模型對所述第二次組分篩選后的所述顆粒物樣品進行源類識別。

2.根據權利要求1所述的精細化顆粒物源解析方法，其特征在于，所述獲取各特征排放源的有機物排放特征包括步驟：

獲取預設時間段內各特征排放源的排放信息；

根據所述排放信息分析各特征排放源的時間排放特征。

3.根據權利要求1所述的精細化顆粒物源解析方法，其特征在于，所述采集顆粒物樣品包括步驟：

配置大氣顆粒物采集器；

使用所述大氣顆粒物采集器采集所述顆粒物樣品。

4.根據權利要求1所述的精細化顆粒物源解析方法，其特征在于，所述分析所述顆粒物樣品的有機物時間變化規律包括步驟：

使用電感藕合等離子體質譜法測量所述顆粒物樣品中的元素；

使用離子色譜測量所述顆粒物樣品中的離子；

使用碳組分分析儀測量所述顆粒物樣品中的有機碳和元素碳；

使用氣相色譜-質譜聯用法測量所述顆粒物樣品中的有機組分；

根據測量結果分析所述顆粒物樣品的有機物時間變化規律。

5.根據權利要求1所述的精細化顆粒物源解析方法，其特征在于，所述根據所述有機物排放特征和所述有機物時間變化規律對所述顆粒物樣品進行第一次組分篩選包括步驟：

獲取所述顆粒物樣品中各有機物組分對應的有機物時間變化規律；

獲取所述顆粒物樣品中各有機物組分對應的有機物排放特征；

對比所述有機物時間變化規律和所述有機物排放特征；

獲取與所述有機物排放特征不符的所述有機物時間變化規律；

刪除與所述有機物排放特征不符的所述有機物；

保留剩余的所有所述有機物組分。

6.根據權利要求1所述的精細化顆粒物源解析方法，其特征在于，所述計算所述第一次組分篩選后的所述顆粒物樣品中各組分之間的相關系數包括步驟：

獲取線性相關系數計算公式；

獲取所述第一次組分篩選后的所述顆粒物樣品中剩余的有機物組分和無機物組分；

計算所述顆粒物樣品中任意兩個組分之間的線性相關系數。

7.根據權利要求1所述的精細化顆粒物源解析方法，其特征在于，所述根據所述相關系數對所述第一次組分篩選后的所述顆粒物樣品進行第二次組分篩選包括步驟：

獲取所述第一次組分篩選后的所述顆粒物樣品中各組分之間的相關系數；

判斷每一所述相關系數是否大于預設值；

若是，保留所述相關系數對應的組分；

若否，刪除所述相關系數對應的組分。

8.根據權利要求1所述的精細化顆粒物源解析方法，其特征在于，所述根據因子分析模型對所述第二次組分篩選后的所述顆粒物樣品進行源類識別包括步驟：

獲取所述第二次組分篩選后的所述顆粒物樣品中各組分的數據；

將各數據輸入所述述因子分析模型中；

計算所述因子分析模型結果對所述顆粒物樣品進行源類識別。

9.根據權利要求1或8所述的精細化顆粒物源解析方法，其特征在于，所述因子分析模型的表達式為：

其中，x_ij是第i個顆粒物樣品中第j種組分的質量濃度；g_ih是第h個源類對第i個顆粒物樣品的貢獻；f_hj是第h個源類源譜中第j種組分的含量。