[發明專利]一種齒輪漸開線樣板齒廓偏差主動調控方法

有效

• 申請號: 202110052101.3
• 申請日: 2021-01-15
• 公開（公告）號: CN112880528B
• 公開（公告）日: 2021-12-03
• 發明（設計）人: 凌明;凌四營;鄧云雷;劉祥生;楊洋;王立鼎
• 申請（專利權）人: 大連理工大學
• 主分類號: G01B5/20
• 分類號: G01B5/20
• 代理公司: 大連理工大學專利中心 21200
• 代理人: 陳玲玉

1.一種齒輪漸開線樣板齒廓偏差主動調控方法，對于待調控齒面A(1-1)為單齒面的齒輪漸開線樣板(1)，其特征在于，包括步驟如下：

第一步，測量待調控齒面A(1-1)的初始齒廓傾斜偏差f_Hα、初始齒廓形狀偏差f_fα，并分離出初始齒廓形狀偏差f_fα中的齒廓凸度偏差C_α；

第二步，以初始基圓圓心為原點，以初始基圓圓心和基圓處漸開線起點的連線為X軸建立右手坐標系，利用齒輪漸開線樣板沿Y軸方向的安裝偏心e_y調控齒廓凸度偏差C_α；安裝偏心e_y和齒廓凸度偏差C_α滿足：

其中，θ_b為齒輪漸開線樣板計值范圍的初始展開角，θ_e為齒輪漸開線樣板計值范圍的終止展開角；

第三步，測量待調控齒面的調控后齒廓傾斜偏差f’_Hα、調控后齒廓形狀偏差f’_fα，并將調控后齒廓傾斜偏差f’_Hα補償到調控后基圓半徑上；使用時，提供調控后齒廓形狀偏差f’_fα和調控后基圓半徑。

2.根據權利要求1所述的一種齒輪漸開線樣板齒廓偏差主動調控方法，對于待調控齒面A(1-1)為單齒面的齒輪漸開線樣板(1)，其特征在于，調控后基圓半徑r_bs滿足：

其中，r_b為初始基圓半徑，L_α為計值長度。

3.一種齒輪漸開線樣板齒廓偏差主動調控方法，對于待調控齒面A(1-1)和待調控齒面B(1-2)為兩異側齒面的齒輪漸開線樣板(1)，其特征在于，包括步驟如下：

第一步，測量待調控齒面A(1-1)和待調控齒面B(1-2)的初始齒廓傾斜偏差f_Hα1、f_Hα2，初始齒廓形狀偏差f_fα1、f_fα2，并分離出初始齒廓形狀偏差f_fα1、f_fα2中的齒廓凸度偏差C_α1、C_α2；

第二步，以初始基圓圓心為原點，以過原點的兩基圓處漸開線連線的平行線為X軸建立右手坐標系，兩異側齒面分別位于第二、四象限；利用齒輪漸開線樣板沿X軸方向的安裝偏心分量e_x調控齒廓傾斜偏差f_Hα1、f_Hα2，將待調控齒面的齒廓傾斜偏差f_Hα1、f_Hα2調控為趨于一致，利用沿Y軸方向的安裝偏心分量e_y調控齒廓凸度偏差C_α1、C_α2，從而減小齒廓形狀偏差f_fα1、f_fα2；安裝偏心分量e_x，安裝偏心分量e_y，齒廓凸度偏差C_α1、C_α2滿足：

其中，θ_b為齒輪漸開線樣板計值范圍的初始展開角，θ_e為齒輪漸開線樣板計值范圍的終止展開角，θ為待調控齒面A(1-1)和待調控齒面B(1-2)間的夾角；

第三步，測量待調控齒面的調控后齒廓傾斜偏差f’_Hα1、f’_Hα2，調控后齒廓形狀偏差f’_fα1、f’_fα2，并將調控后齒廓傾斜偏差f’_Hα1、f’_Hα2補償到調控后基圓半徑上：使用時，提供調控后齒廓形狀偏差f’_fα1、f’_fα2和調控后基圓半徑。

4.根據權利要求3所述的齒輪漸開線樣板齒廓偏差主動調控方法，對于待調控齒面A(1-1)和待調控齒面B(1-2)為兩異側齒面的齒輪漸開線樣板(1)，其特征在于，調控后基圓半徑r_bs滿足：

其中，r_b為初始基圓半徑，L_α為計值長度。