[發明專利]三維點云配準方法、裝置、電子設備及可讀介質在審
| 申請號: | 202110040721.5 | 申請日: | 2021-01-13 |
| 公開(公告)號: | CN113793370A | 公開(公告)日: | 2021-12-14 |
| 發明(設計)人: | 孫曉峰 | 申請(專利權)人: | 北京京東叁佰陸拾度電子商務有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/33 | 分類號: | G06T7/33;G06T3/00 |
| 代理公司: | 北京律智知識產權代理有限公司 11438 | 代理人: | 孫寶海;袁禮君 |
| 地址: | 100176 北京市大興區北京經*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 三維 點云配準 方法 裝置 電子設備 可讀 介質 | ||
1.一種三維點云配準方法,其特征在于,包括:
獲取待配準點云和基準點云;
確定所述待配準點云在二維平面的第一投影圖像,所述第一投影圖像包括多個第一像素點,每個第一像素點對應至少一個待配準點云;
確定所述基準點云在二維平面的第二投影圖像,所述第二投影圖像包括多個第二像素點,每個第二像素點對應至少一個基準點云;
根據所述第一投影圖像的第一像素點和所述第二投影圖像中的第二像素點確定匹配像素點對,每個匹配像素點對包括一第一像素點和一第二像素點;
根據所述匹配像素點中的第一像素點對應的至少一個待配準點云,和所述匹配像素點中的第二像素點對應的至少一個基準點云確定變換矩陣,以根據所述變化矩陣對所述待配準點云進行點云配準操作。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,確定所述待配準點云在二維平面的第一投影圖像包括:
根據所述待配準點云在二維平面的投影位置對二維平面進行劃分,獲得所述多個第一像素點;
根據所述第一像素點對應的至少一個待配準點云的反射強度信息確定所述第一像素點的灰度值;
根據所述第一像素點的灰度值生成所述第一投影圖像。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,根據所述第一像素點對應的至少一個待配準點云的反射強度信息確定所述第一像素點的灰度值包括:
獲取所述待配準點云的反射強度信息;
將所述待配準點云的反射強度信息中的最小值確定為待配準點云的全局最小反射強度,將所述待配準點云的反射強度信息中的最大值確定為待配準點云的全局最大反射強度;
根據所述第一像素點對應的至少一個待配準點云的反射強度信息確定所述第一像素點的反射子強度;
根據所述待配準點云的全局最小反射強度、所述待配準點云的全局最大反射強度和所述第一像素點的反射子強度確定所述第一像素點的灰度值。
4.如權利要求1所述的方法,其特征在于,根據所述第一投影圖像的第一像素點和所述第二投影圖像中的第二像素點確定匹配像素點對包括:
對所述第一像素點進行特征提取,獲得所述第一像素點的第一特征向量;
對所述第二像素點進行特征提取,獲得所述第二像素點的第二特征向量;
確定所述第一像素點的第一特征向量和各第二像素點的第二特征向量的特征距離;
將所述特征距離最小的所述第一像素點和第二像素點和確定為匹配點對。
5.如權利要求4所述的方法,其特征在于,還包括:
確定所述特征距離中的最小值和次小值的特征距離比值;
若所述特征距離比值大于特征距離比值閾值,則將所述匹配點對剔除。
6.如權利要求4所述的方法,其特征在于,還包括:
確定所述第一投影圖像和所述第二投影圖像的單應變換;
將單應變換后的誤差大于誤差像素閾值的匹配點對剔除。
7.如權利要求1所述的方法,其特征在于,根據所述匹配像素點中的第一像素點對應的至少一個待配準點云,和所述匹配像素點中的第二像素點對應的至少一個基準點云確定變換矩陣包括:
將所述匹配像素點中的第一像素點對應的待配準點云中具有最低高程值的待配準點云確定為第一點云;
將所述匹配像素點中的第二像素點對應基準點云中具有最低高程值的基準點云確定為第二點云;
將所述第一點云和所述第二點云作為匹配點云對確定所述變換矩陣。
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