[發(fā)明專利]監(jiān)測(cè)光纖扭曲裝置及系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110030049.1 | 申請(qǐng)日: | 2021-01-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112880546A | 公開(公告)日: | 2021-06-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 不公告發(fā)明人 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 于孟今 |
| 主分類號(hào): | G01B7/16 | 分類號(hào): | G01B7/16 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 252400 山東省*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 監(jiān)測(cè) 光纖 扭曲 裝置 系統(tǒng) | ||
本申請(qǐng)涉及監(jiān)測(cè)光纖扭曲裝置及系統(tǒng),具體而言,涉及一種光纖檢測(cè)領(lǐng)域。本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N監(jiān)測(cè)光纖扭曲裝置包括:檢測(cè)光纖、粘附層、柵極、源極、漏極、光致形變層和石墨烯層,當(dāng)需要對(duì)待測(cè)光纖進(jìn)行檢測(cè)的時(shí)候,在該檢測(cè)光纖的輸入端和輸出端分別連接待測(cè)光纖,當(dāng)待測(cè)光纖發(fā)生扭曲時(shí),該檢測(cè)光纖也相應(yīng)的發(fā)生形變,進(jìn)而使得檢測(cè)光纖內(nèi)部經(jīng)過(guò)的光信號(hào)的量發(fā)生改變,進(jìn)而受到光信號(hào)的激發(fā)使得裝置的光致形變層發(fā)生形變,進(jìn)而引起石墨烯層的形變,石墨烯層形變,引起該石墨烯層中的載流子密度和電導(dǎo)率改變,通過(guò)在該柵極(源極)通電,并在漏極處檢測(cè)輸出電壓的變化,并通過(guò)輸出電壓變化與待測(cè)光纖的扭曲程度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,得到待測(cè)光纖的扭曲情況。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及光纖檢測(cè)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種監(jiān)測(cè)光纖扭曲裝置及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
光纖是光導(dǎo)纖維的簡(jiǎn)寫,是一種由玻璃或塑料制成的纖維,可作為光傳導(dǎo)工具。傳輸原理是“光的全反射”。光纖的色散及衰減是限制光通信距離的主要因素,單模光纖的色散包括色度色散和偏振模色散(PMD),隨著光放大技術(shù)及色散補(bǔ)償技術(shù)的發(fā)展,單模光纖的衰減及色度色散對(duì)光通信網(wǎng)絡(luò)的影響已降至最低,而PMD具有較大的隨機(jī)性,無(wú)法在光通信網(wǎng)絡(luò)中優(yōu)化,因此只能從光纖生產(chǎn)及成纜過(guò)程中進(jìn)行控制。
偏振模色散產(chǎn)生的主要原因是由于光纖內(nèi)部的應(yīng)力分布不均勻,為了改善光纖的偏振模色散特性,各光纖廠家采取的措施是在光纖的拉絲通道上安裝具有一定規(guī)律運(yùn)動(dòng)的搓扭裝置,為光纖提供一定的扭轉(zhuǎn),來(lái)平衡光纖中的應(yīng)力分布,從而改善光纖的PMD。
光纖扭曲度是用來(lái)衡量搓扭裝置工作效果的一項(xiàng)指標(biāo),定義為一定長(zhǎng)度的光纖上所扭轉(zhuǎn)的圈數(shù)。測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為取連續(xù)的6~10段光纖,記錄每段光纖上的扭轉(zhuǎn)圈數(shù)且區(qū)分順、逆時(shí)針,若順時(shí)針總扭轉(zhuǎn)圈數(shù)與逆時(shí)針總扭轉(zhuǎn)圈數(shù)相差不大,則表示光纖搓扭裝置工作狀態(tài)較好。
但是,現(xiàn)有技術(shù)中檢測(cè)光纖扭轉(zhuǎn)的圈數(shù)或者扭曲長(zhǎng)度的裝置,均有檢測(cè)效率不佳,檢測(cè)不準(zhǔn)確的問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于,針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足,提供一種監(jiān)測(cè)光纖扭曲裝置及系統(tǒng),以解決現(xiàn)有技術(shù)中檢測(cè)光纖扭轉(zhuǎn)的圈數(shù)或者扭曲長(zhǎng)度的裝置,均有檢測(cè)效率不佳,檢測(cè)不準(zhǔn)確的問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明實(shí)施例采用的技術(shù)方案如下:
第一方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N監(jiān)測(cè)光纖扭曲裝置,裝置包括:檢測(cè)光纖、粘附層、柵極、源極、漏極、光致形變層和石墨烯層,檢測(cè)光纖的兩端分別為輸入端和輸出端,檢測(cè)光纖的外周上設(shè)置有鑲嵌槽,粘附層、柵極、源極、漏極、光致形變層和石墨烯層均設(shè)置在鑲嵌槽內(nèi)部,其中,粘附層粘貼設(shè)置在鑲嵌槽內(nèi)部,柵極設(shè)置在粘附層遠(yuǎn)離檢測(cè)光纖的一側(cè),漏極和源極分別設(shè)置在柵極兩端,光致形變層設(shè)置在柵極遠(yuǎn)離檢測(cè)光纖的一側(cè),石墨烯層設(shè)置在光致形變層遠(yuǎn)離檢測(cè)光纖的一側(cè)。
可選地,該鑲嵌槽的厚度為12mm-20mm。
可選地,該柵極為孔洞結(jié)構(gòu)。
可選地,該鑲嵌槽環(huán)繞檢測(cè)光纖外周設(shè)置。
可選地,該鑲嵌槽傾斜環(huán)繞檢測(cè)光纖外周設(shè)置。
可選地,該石墨烯層包括多個(gè)條形石墨烯單元,多個(gè)條形石墨烯單元相互平行設(shè)置。
可選地,該裝置還包括金屬顆粒層,金屬顆粒層設(shè)置在石墨烯層遠(yuǎn)離檢測(cè)光纖的一側(cè)。
可選地,該金屬顆粒層的分布不均勻。
可選地,該金屬顆粒層的材料為貴金屬材料。
第二方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N監(jiān)測(cè)光纖扭曲系統(tǒng),電能表、單片機(jī)和第一方面任意一項(xiàng)的監(jiān)測(cè)光纖扭曲裝置,電能表與監(jiān)測(cè)光纖扭曲裝置電連接,用于獲取監(jiān)測(cè)光纖扭曲裝置的輸出電壓,單片機(jī)與電能表電連接,用于獲取輸出電壓的變化情況,并根據(jù)輸出電壓的變化情況與待測(cè)光纖的扭曲程度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,得到待測(cè)光纖的扭曲情況。
本發(fā)明的有益效果是:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于于孟今,未經(jīng)于孟今許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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