[發明專利]一種低成本測試模擬數字轉換器線性度的方法有效
| 申請號: | 202110026569.5 | 申請日: | 2021-01-08 |
| 公開(公告)號: | CN112865792B | 公開(公告)日: | 2021-11-19 |
| 發明(設計)人: | 魏津;張經祥;胡雪原 | 申請(專利權)人: | 勝達克半導體科技(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H03M1/10 | 分類號: | H03M1/10 |
| 代理公司: | 上海專益專利代理事務所(特殊普通合伙) 31381 | 代理人: | 方燕娜;王雯婷 |
| 地址: | 201799 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 低成本 測試 模擬 數字 轉換器 線性 方法 | ||
1.一種低成本測試模擬數字轉換器線性度的方法,其特征在于包括如下步驟:
S1,設置高精度參數測量單元(PMU)工作參數;
S2,設置數字測試通道(PE)為輸入捕獲模式;
S3,執行數字測試通道(PE)樣式程序,被測模擬數字轉換器(ADC)轉換觸發信號,并被數字測試通道(PE)捕獲;
S4,數字測試通道(PE)對抓取的數據進行成功-出錯判斷,如果出錯,記錄出錯的數據報告;
S5,重復步驟S3-S4,直至高精度參數測量單元(PMU)電壓升高至結束值;
S6,查詢出錯報告,判斷行-不行,獲得所有出錯的數據報告進行分析;
所述的步驟S3具體包括如下步驟:
S31,執行數字測試通道(PE)樣式程序;
S32,高精度參數測量單元(PMU)依次根據被測模擬數字轉換器(ADC)的每個數值編碼對應的中心電壓理想值輸出電壓;
S33,高精度參數測量單元(PMU)輸出電壓到位后,被測模擬數字轉換器(ADC)做一次AD轉換;
S34,等待固定時間t后,數字測試通道(PE)做一次數據抓取。
2.根據權利要求1所述的一種低成本測試模擬數字轉換器線性度的方法,其特征在于:所述的步驟S1中,設置高精度參數測量單元(PMU)輸出臺階電壓的初始值為被測模擬數字轉換器(ADC)的數碼0對應的電壓,單步值為被測模擬數字轉換器(ADC)的最小碼寬電壓,結束值為被測模擬數字轉換器(ADC)最大數碼值對應的電壓。
3.根據權利要求1所述的一種低成本測試模擬數字轉換器線性度的方法,其特征在于:所述的步驟S34中固定時間t=1/f,f為被測模擬數字轉換器(ADC)的采樣率。
4.根據權利要求1所述的一種低成本測試模擬數字轉換器線性度的方法,其特征在于:所述的步驟S4中將數字測試通道(PE)抓取的數據與樣式程序里的預期值進行比較,兩個數值完全相等為成功,有1比特差異即為出錯。
5.根據權利要求1所述的一種低成本測試模擬數字轉換器線性度的方法,其特征在于:所述的步驟S6中行-不行的判斷標準是出錯報告是否全空,出錯報告全空即為行,出錯報告不為空即為不行。
6.根據權利要求1所述的一種低成本測試模擬數字轉換器線性度的方法,其特征在于:所述的數字測試通道(PE)、高精度參數測量單元(PMU)與被測模擬數字轉換器(ADC)之間設有測試電路,所述的測試電路包括數字測試通道(PE)、參數設置數模轉換器(DAC)、強制放大器(FA)、誤差比較器(EC)、電壓放大器(VA)、被測模擬數字轉換器(ADC),數字測試通道(PE)的樣式觸發信號端口(T1)連接參數設置數模轉換器(DAC)的一端,參數設置數模轉換器(DAC)的另一端分別連接誤差比較器(EC)的一號端口,強制放大器(FA)的一號端口,誤差比較器(EC)的二號端口分別連接強制放大器(FA)的二號端口,高精度參數測量單元(PMU)、電壓放大器(VA)的三號端口,誤差比較器(EC)的三號端口連接數字測試通道(PE)的參數到位信號端口(T2),強制放大器(FA)的三號端口分別連接被測模擬數字轉換器(ADC)的一號端口及電壓跟隨器一(VF1)的一端,電壓跟隨器一(VF1)的另一端連接電壓放大器(VA)的一號端口,被測模擬數字轉換器(ADC)的二號端口分別連接電壓跟隨器二(VF2)的一端、系統公共地二(GND2)的一端,電壓跟隨器二(VF2)的另一端連接電壓放大器(VA)的二號端口,系統公共地二(GND2)的另一端連接系統公共地一(GND1)的一端,系統公共地(GND1)的另一端連接強制放大器(FA)的四號端口,被測模擬數字轉換器(ADC)的三號端口連接數字測試通道(PE)的數字通道捕獲端口(T3)。
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