[發明專利]驗蛋裝置、驗蛋程序及驗蛋方法

在審

• 申請號: 202080047721.1
• 申請日: 2020-06-25
• 公開（公告）號: CN114096844A
• 公開（公告）日: 2022-02-25
• 發明（設計）人: 大西英希;松原弘樹;清水一范
• 申請（專利權）人: 四國計測工業株式會社
• 主分類號: G01N33/08
• 分類號: G01N33/08
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳;沈央

1.一種驗蛋裝置，其中，

所述驗蛋裝置具備：

第1辨別單元，其使用將蛋影像作為教導數據而預先制成的第1學習完畢模型，來辨別蛋是否有第1不良因素；

第2辨別單元，其使用將蛋影像作為教導數據而預先制成的、且與所述第1學習完畢模型不同的第2學習完畢模型，來辨別蛋是否具有與所述第1不良因素不同的第2不良因素；

拍攝單元，其將光照射至檢查對象蛋，而拍攝檢查對象蛋的影像；以及

控制單元；

所述控制單元是根據所述檢查對象蛋的影像，使所述第1辨別單元與所述第2辨別單元辨別所述檢查對象蛋的不良因素，由此辨別所述檢查對象蛋是否有不良因素，當所述檢查對象蛋具有不良因素的情況，則辨別該不良因素。

2.如權利要求1所述的驗蛋裝置，其中，

所述控制單元根據所述檢查對象蛋的影像，使所述第1辨別單元辨別所述檢查對象蛋是否有所述第1不良因素，當所述檢查對象蛋沒有所述第1不良因素的情況，則使所述第2辨別單元辨別所述檢查對象蛋是否有所述第2不良因素。

3.如權利要求1所述的驗蛋裝置，其中，

所述控制單元根據所述檢查對象蛋的影像，使所述第1辨別單元辨別所述檢查對象蛋是否有所述第1不良因素，不管所述檢查對象蛋是否有所述第1不良因素，均使所述第2辨別單元辨別所述檢查對象蛋是否有所述第2不良因素。

4.如權利要求1～3中任一項所述的驗蛋裝置，其中，

所述第1辨別單元辨別根據血管狀態的不良因素而作為所述第1不良因素；

所述第2辨別單元辨別根據氣室狀態、發育狀態、及有無裂痕中的任1項的不良因素而作為所述第2不良因素。

5.如權利要求1～4中任一項所述的驗蛋裝置，其中，

更進一步具備第3辨別單元，其是使用將蛋影像作為教導數據而預先制成的、且與所述第1學習完畢模型及所述第2學習完畢模型不同的第3學習完畢模型，來辨別是否具有與所述第1不良因素及所述第2不良因素不同的第3不良因素。

6.如權利要求5所述的驗蛋裝置，其中，

更進一步具備第4辨別單元，其是使用將蛋影像作為教導數據而預先制成的、且與所述第1學習完畢模型、所述第2學習完畢模型及所述第3學習完畢模型不同的第4學習完畢模型，來辨別是否具有與所述第1不良因素、所述第2不良因素及所述第3不良因素不同的第4不良因素。

7.如權利要求6所述的驗蛋裝置，其中，

所述第1不良因素、所述第2不良因素、所述第3不良因素、及所述第4不良因素分別是根據血管狀態、氣室狀態、發育狀態、及有無裂痕的不良因素。

8.如權利要求1～7中任一項所述的驗蛋裝置，其中，

更進一步具備第5辨別單元，其是使用將蛋影像作為教導數據而預先制成的第5學習完畢模型，用于辨別正常蛋。

9.如權利要求1～8中任一項所述的驗蛋裝置，其中，

所述檢查對象蛋是供給疫苗制造的蛋。

10.如權利要求1～9中任一項所述的驗蛋裝置，其中，

具有對每個不良因素的發生頻率進行統計的功能。

11.一種驗蛋程序，其中，

所述驗蛋程序使計算機執行下述處理：

對檢查對象蛋照射光而取得所述檢查對象蛋的影像，

使用將蛋影像作為教導數據而預先制成的第1學習完畢模型，來辨別所述檢查對象蛋是否有第1不良因素，

使用將蛋影像作為教導數據而預先制成的、且與所述第1學習完畢模型不同的第2學習完畢模型，來辨別所述檢查對象蛋是否具有與所述第1不良因素不同的第2不良因素，

由此辨別所述檢查對象蛋是否具有不良因素，當所述檢查對象蛋具有不良因素時，則辨別該不良因素。

12.一種驗蛋方法，其中，

所述驗蛋方法使用計算機，

對檢查對象蛋照射光而取得所述檢查對象蛋的影像，

使用將蛋影像作為教導數據而預先制成的第1學習完畢模型，來辨別所述檢查對象蛋是否有第1不良因素，

使用將蛋影像作為教導數據而預先制成的、且與所述第1學習完畢模型不同的第2學習完畢模型，來辨別所述檢查對象蛋是否具有與所述第1不良因素不同的第2不良因素，

由此辨別所述檢查對象蛋是否具有不良因素，當所述檢查對象蛋具有不良因素時，則辨別該不良因素。