[發明專利]氣溶膠計測裝置及氣溶膠計測方法

在審

• 申請號: 202080005512.0
• 申請日: 2020-02-21
• 公開（公告）號: CN112789496A
• 公開（公告）日: 2021-05-11
• 發明（設計）人: 大山達史;宮下萬里子
• 申請（專利權）人: 松下知識產權經營株式會社
• 主分類號: G01N21/49
• 分類號: G01N21/49;G01S17/95
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 安香子

1.一種氣溶膠計測裝置，用于計測處于大氣中的散射體中包含的氣溶膠，其中，具備：

光源；

光學元件，(i)將通過使從上述光源射出的射出光在內部干涉而產生的、具有以相互相等的頻率間隔離開的多個峰值的干涉光向上述散射體照射，并且(ii)通過使由上述散射體產生的散射光在上述內部干涉而射出米氏散射光；以及

受光器，接受上述米氏散射光，輸出與受光強度相應的信號。

2.如權利要求1所述的氣溶膠計測裝置，其中，

上述光學元件是標準具。

3.如權利要求1或2所述的氣溶膠計測裝置，其中，

上述頻率間隔是3.9GHz以下。

4.如權利要求1～3中任一項所述的氣溶膠計測裝置，其中，

上述光學元件具有：

第1部分，包括上述射出光穿過的路徑；以及

第2部分，包括上述散射光穿過的路徑，與上述第1部分不同。

5.如權利要求4所述的氣溶膠計測裝置，其中，

上述光學元件具有第1面和上述第1面的相反側的第2面；

上述射出光及上述散射光從上述第1面向上述光學元件入射。

6.如權利要求4所述的氣溶膠計測裝置，其中，

上述光學元件具有第1面和上述第1面的相反側的第2面；

上述射出光從上述第1面向上述光學元件入射；

上述散射光從上述第2面向上述光學元件入射。

7.如權利要求1～6中任一項所述的氣溶膠計測裝置，其中，

上述射出光是脈沖光；

上述受光器在從上述脈沖光被射出起到經過比上述脈沖光的時間寬度長的期間為止將受光截斷后，接受上述米氏散射光。

8.如權利要求1～7中任一項所述的氣溶膠計測裝置，其中，

上述散射光相對于上述光學元件傾斜入射。

9.如權利要求1～8中任一項所述的氣溶膠計測裝置，其中，

上述光源是激光元件或發光二極管。

10.如權利要求1～9中任一項所述的氣溶膠計測裝置，其中，

還具備將上述散射光聚光的聚光部；

上述聚光部在上述散射光在上述光學元件的上述內部干涉之前將上述散射光聚光。

11.如權利要求1～10中任一項所述的氣溶膠計測裝置，其中，

還具備對上述信號進行處理的信號處理電路。

12.一種氣溶膠計測裝置，用于計測處于大氣中的散射體中包含的氣溶膠，其中，具備：

光源；

第1光學元件，將通過使從上述光源射出的射出光在內部干涉而產生的、具有以相互相等的頻率間隔離開的多個峰值的干涉光向上述散射體照射；

第2光學元件，通過使由上述散射體產生的散射光在上述內部干涉，射出米氏散射光；以及

受光器，接受上述米氏散射光，輸出與受光強度相應的信號。

13.如權利要求12所述的氣溶膠計測裝置，其中，

上述第1光學元件及上述第2光學元件是標準具。

14.如權利要求12或13所述的氣溶膠計測裝置，其中，

上述頻率間隔是3.9GHz以下。

15.如權利要求12～14中任一項所述的氣溶膠計測裝置，其中，

上述射出光是脈沖光；

上述受光器在從上述脈沖光被射出起到經過比上述脈沖光的時間寬度長的期間為止將受光截斷后，接受上述米氏散射光。