[實用新型]基于同顆芯片的ADC測試電路

有效

• 申請號: 202023305325.0
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN214097709U
• 公開（公告）日: 2021-08-31
• 發明（設計）人: 李寧;徐建華
• 申請（專利權）人: 宜賓芯匯信息科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 南京蘇科專利代理有限責任公司 32102
• 代理人: 陳忠輝

本實用新型揭示了一種基于同顆芯片的ADC測試電路，其特征在于：基于芯片內ADC模塊、DAC模塊及模塊間的邏輯操控回路相接構成，其中邏輯操控回路為包含電阻R1~電阻Rn的串聯電路，其中n的取值對應大于ADC模塊的通道數量，DAC模塊的兩條通道接入邏輯操控回路，任意兩相鄰電阻間的節點分路接入ADC模塊的全部通道引腳。該DAC模塊根據ADC模塊采樣頻率周期性切換對應邏輯操控回路的電壓輸入。應用實用新型該測試電路，通過使用較少的DAC通道來給ADC模塊所有通道提供不斷變化的電壓輸入，易于跟隨ADC模塊的采樣頻率而受控靈活、規律性變化，滿足了ADC測試對輸入信號的要求，從而也一定程度上降低了測試成本。

技術領域

本實用新型涉及芯片內ADC模塊的測試設計，尤其涉及一種避免外部信號輸入、利用片內現成模塊模擬ADC輸入的測試電路。

背景技術

開發ADC模塊時需要一個模擬信號的輸入源來讓ADC模塊轉換數字信息，由于ADC模塊的通道較多，且模式較為復雜多樣，因此需要輸入的信號可以實現對應ADC模塊的采樣頻率變化，但若使用電源直接供電十分繁瑣且人工操作易產生較大誤差，而且ADC模塊一般通道數較多，同時控制芯片的10個pin來變化過于繁瑣，使用ATE等測試設備成本過高。

發明內容

為了克服現有的不足，本實用新型的目的旨在提出一種基于同顆芯片的ADC測試電路。

本實用新型的上述目的，將通過以下技術方案得以實現：基于同顆芯片的ADC測試電路，其特征在于：基于芯片內ADC模塊、DAC模塊及模塊間的邏輯操控回路相接構成，其中邏輯操控回路為包含電阻R1~電阻Rn的串聯電路，其中n的取值對應大于ADC模塊的通道數量，所述DAC模塊的兩條通道接入邏輯操控回路，任意兩相鄰電阻間的節點分路接入ADC模塊的全部通道引腳。

上述基于同顆芯片的ADC測試電路，進一步地，所述DAC模塊根據ADC模塊采樣頻率周期性切換對應邏輯操控回路的電壓輸入。

本實用新型技術方案應用實施后的顯著效果為：該測試電路通過使用較少的DAC通道來給ADC模塊所有通道提供不斷變化的電壓輸入，易于跟隨ADC模塊的采樣頻率而受控靈活、規律性變化，滿足了ADC測試對輸入信號的要求，從而也一定程度上降低了測試成本。

附圖說明

圖1是本實用新型基于同顆芯片的ADC測試電路的原理結構示意圖。

圖2是圖1中邏輯操控回路的電路結構圖。

具體實施方式

以下便結合實施例附圖，對本實用新型的具體實施方式作進一步的詳述，以使本實用新型技術方案更易于理解、掌握。

如前所述當前對芯片內ADC模塊功能測試時，需要一個高要求的模擬信號輸入源。但實際情況下操作繁瑣或測試設備成本過高。因此，致力于解決該ADC測試方面的難題，本實用新型設計者總結測試經驗，創新提出了一種基于同顆芯片的ADC測試電路。該電路利用芯片內部固有器件開發復合功能，因此電路結構簡單、操作便利，且無需使用價格高昂的測試設備。

如圖1所示可見，該ADC測試電路直觀而概述的特點包括：基于芯片內ADC模塊、DAC模塊及模塊間的邏輯操控回路相接構成，其中邏輯操控回路可以是包含電阻R1~電阻Rn的串聯電路，其中n的取值對應大于ADC模塊的通道數量。任意兩相鄰電阻間的節點分路接入ADC模塊的全部通道引腳。而相應芯片內DAC模塊的兩條通道接入邏輯操控回路。所述ADC模塊模塊的對應引腳分路并聯于V_REF+、V_REF-、V_DDA、V_SSA。DAC模塊根據ADC模塊采樣頻率周期性切換對應邏輯操控回路的電壓輸入。這里，DAC模塊輸出的電壓頻率可以高速變化，因此可以滿足ADC模塊對調試頻率要求。