[實(shí)用新型]一種溫度、空間可調(diào)節(jié)的元件性能測(cè)試箱有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202023281374.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN214427533U | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-10-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉偉 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院紫金山天文臺(tái) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/00;G01R1/04;G05D27/02;B01L1/00;B01L7/00 |
| 代理公司: | 南京鐘山專(zhuān)利代理有限公司 32252 | 代理人: | 張明浩 |
| 地址: | 210008 江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 溫度 空間 調(diào)節(jié) 元件 性能 測(cè)試 | ||
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種溫度、空間可調(diào)節(jié)的元件性能測(cè)試箱,平臺(tái)板將測(cè)試箱本體內(nèi)的空間分隔為上部測(cè)試空間和下部升降空間,平臺(tái)板上用于放置元件或元件安裝架,測(cè)試箱上蓋上安裝有半導(dǎo)體冷熱片,半導(dǎo)體冷熱片貫穿測(cè)試箱上蓋,且半導(dǎo)體冷熱片的冷端位于測(cè)試箱上蓋的下方,伸入至上部測(cè)試空間中,半導(dǎo)體冷熱片的熱端位于測(cè)試箱上蓋的上方,平臺(tái)板上的四角安裝有功率電阻,功率電阻能通過(guò)加熱升高上部測(cè)試空間內(nèi)的溫度,上部測(cè)試空間內(nèi)安裝有溫度傳感器。本實(shí)用新型降溫速度快,效果好,能有效降低元件性能測(cè)試箱的體積,使元件性能測(cè)試箱便于攜帶,能改變箱體內(nèi)的測(cè)試空間,使元件性能測(cè)試箱適應(yīng)不同尺寸的測(cè)試元件,有效降低能耗。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及元件性能測(cè)試的技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種溫度、空間可調(diào)節(jié)的元件性能測(cè)試箱。
背景技術(shù)
在一些科學(xué)精密實(shí)驗(yàn)元器件中,元器件有一個(gè)最佳工作溫度的問(wèn)題,例如CCD圖像傳感器,低噪聲放大器,混頻器和倍頻器等,都有一個(gè)最佳的工作溫度,有的元器件對(duì)環(huán)境溫度較為敏感,在不同溫度環(huán)境下,元器件的性能指標(biāo)有所不同。所以想要獲得元器件某些固定的性能指標(biāo),需要一個(gè)能調(diào)整溫度并將溫度保持的測(cè)試環(huán)境,目前,市場(chǎng)上缺少結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單實(shí)用的恒溫測(cè)試箱,而且,由于不同的元件尺寸有大有小,需要的測(cè)試空間也有差別,而目前的測(cè)試箱大都沒(méi)有測(cè)試空間調(diào)整的功能,只能根據(jù)不同的元件,設(shè)計(jì)對(duì)應(yīng)的測(cè)試箱,應(yīng)用范圍受到限制。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是為了解決背景技術(shù)中提及的問(wèn)題,提供一種溫度、空間可調(diào)節(jié)的元件性能測(cè)試箱,該元件性能測(cè)試箱控制簡(jiǎn)單方便高效,攜帶方便,可以在比較短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到設(shè)定的溫度,可廣泛適用于各種高低溫模擬和搭建器件溫度測(cè)試環(huán)境等工程應(yīng)用中。
為實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)目的,本實(shí)用新型采取的技術(shù)方案為:
一種溫度、空間可調(diào)節(jié)的元件性能測(cè)試箱,其中:包括測(cè)試箱本體,測(cè)試箱本體上部安裝有測(cè)試箱上蓋,測(cè)試箱上蓋能蓋合在測(cè)試箱本體上將測(cè)試箱本體密封,測(cè)試箱本體內(nèi)安裝有平臺(tái)板,平臺(tái)板的外邊緣與測(cè)試箱本體的內(nèi)表面可滑動(dòng)密封連接,平臺(tái)板將測(cè)試箱本體內(nèi)的空間分隔為上部測(cè)試空間和下部升降空間,平臺(tái)板上用于放置元件或元件安裝架,測(cè)試箱上蓋上安裝有半導(dǎo)體冷熱片,半導(dǎo)體冷熱片貫穿測(cè)試箱上蓋,且半導(dǎo)體冷熱片的冷端位于測(cè)試箱上蓋的下方,伸入至上部測(cè)試空間中,半導(dǎo)體冷熱片的熱端位于測(cè)試箱上蓋的上方,平臺(tái)板上的四角安裝有功率電阻,功率電阻能加熱上部測(cè)試空間內(nèi)的溫度,上部測(cè)試空間內(nèi)安裝有溫度傳感器,溫度傳感器用于檢測(cè)上部測(cè)試空間內(nèi)的溫度,下部升降空間內(nèi)安裝有升降結(jié)構(gòu),升降結(jié)構(gòu)能推動(dòng)平臺(tái)板上下移動(dòng),從而改變上部測(cè)試空間的大小,半導(dǎo)體冷熱片、功率電阻、溫度傳感器和升降結(jié)構(gòu)均與外部的電源連接,半導(dǎo)體冷熱片、功率電阻、溫度傳感器和升降結(jié)構(gòu)從電源處獲得電能。
為優(yōu)化上述技術(shù)方案,采取的具體措施還包括:
上述的半導(dǎo)體冷熱片、功率電阻、溫度傳感器和升降結(jié)構(gòu)均與外部的控制器連接,控制器能接收溫度傳感器的溫度信號(hào),并根據(jù)溫度信號(hào)調(diào)整半導(dǎo)體冷熱片和功率電阻的制冷、制熱功率,控制器還能根據(jù)外部輸入的指令控制升降結(jié)構(gòu)升降。
上述的升降結(jié)構(gòu)包括升降電機(jī)、滾珠絲桿、升降機(jī)運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌和剪叉架,升降機(jī)運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌水平固定在下部升降空間內(nèi),升降電機(jī)的電機(jī)殼體滑動(dòng)安裝在升降機(jī)運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌上,升降電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)軸與滾珠絲桿連接,滾珠絲桿水平透過(guò)測(cè)試箱本體并與測(cè)試箱本體螺紋配合,剪叉架由若干個(gè)“×”形架首尾鉸接而成,且“×”形架的兩個(gè)桿也相互鉸接配合,剪叉架上端與平臺(tái)板下表面連接,下端的兩個(gè)端頭分別與升降電機(jī)的電機(jī)殼體以及升降機(jī)運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌的一端鉸接連接,升降電機(jī)帶動(dòng)滾珠絲桿轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí),滾珠絲桿相對(duì)于測(cè)試箱本體水平移動(dòng),帶動(dòng)升降電機(jī)沿著升降機(jī)運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌平移,從而使剪叉架下端的兩個(gè)端頭距離發(fā)生改變,剪叉架的高度發(fā)生變化,進(jìn)而推高或降低平臺(tái)板。
上述的測(cè)試箱上蓋的上表面安裝有散熱塊和散熱風(fēng)扇,散熱塊與半導(dǎo)體冷熱片的熱端固定連接,散熱風(fēng)扇能對(duì)散熱塊吹風(fēng)散熱。
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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