[實用新型]一種PZT相位調制器調制深度測量系統

有效

• 申請號: 202022847514.4
• 申請日: 2020-12-02
• 公開（公告）號: CN213693704U
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發明（設計）人: 賴家倉;肖浩;王強龍;劉東偉;劉博陽;李建光;雷軍
• 申請（專利權）人: 北京世維通光智能科技有限公司
• 主分類號: H04B10/073
• 分類號: H04B10/073;H04B10/548
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350
• 代理人: 湯東鳳

1.一種PZT相位調制器調制深度測量系統，其特征在于：包括光源探測模塊(11)、待測PZT調制模塊(12)、PZT驅動模塊(13)和信號解調模塊(14)，所述待測PZT調制模塊(12)第一端與光源探測模塊(11)連接、另一端與PZT驅動模塊(13)連接，所述信號解調模塊(14)的兩端分別與光源探測模塊(11)和PZT驅動模塊(13)連接。

2.根據權利要求1所述的一種PZT相位調制器調制深度測量系統，其特征在于：所述光源探測模塊(11)包括光源(1)、耦合器(2)和光電探測器PIN-FET組件(6)，所述光源(1)與耦合器(2)的第一端連接；

所述耦合器(2)第一端與光源(1)連接接收所述待測SLD光源發出的光、第二端與光電探測器PIN-FET組件(6)連接；

所述光電探測器PIN-FET組件(6)檢測所述耦合器(2)的第二端輸出的干涉光強，并得到與所述干涉光強對應的電信號，將干涉光強轉換為對應的電壓信號。

3.根據權利要求2所述的一種PZT相位調制器調制深度測量系統，其特征在于：所述待測PZT調制模塊(12)包括起偏器(3)、PZT相位調制器(4)和光纖傳感環(5)，用于偏振光的獲得、通過相位調制器上光纖中通過的光相位的調制與光的返回；

所述起偏器(3)將所述耦合器(2)第三端輸出的光轉換成偏振態的光；

所述PZT相位調制器(4)由壓電效應使纏繞在PZT上的光纖伸縮，實現光纖中通過的光相位的調制。

4.根據權利要求2所述的一種PZT相位調制器調制深度測量系統，其特征在于：用環形器(10)替換耦合器(2)，所述環形器(10)第一端與所述光源(1) 連接，接收所述待測SLD光源發出的光、第二端與起偏器(3)連接，傳輸光波至起偏器(3)、第三端與所述光電探測器PIN-FET組件(6)第一端口連接；

所述光電探測器PIN-FET組件(6)檢測所述環形器(10)的第三端輸出的干涉光強，并得到與所述干涉光強對應的電信號，將干涉光強轉換為對應的電壓信號。

5.根據權利要求1所述的一種PZT相位調制器調制深度測量系統，其特征在于：所述PZT驅動模塊(13)為信號發生與功率放大器(7)，用于信號波形的發生及放大，驅動待測PZT相位調制器(4)工作。

6.根據權利要求1所述的一種PZT相位調制器調制深度測量系統，其特征在于：所述信號解調模塊(14)包括數據采集與信號處理單元(8)和上位機(9)，所述第一端連接于光電探測器PIN-FET組件(6)、第二端連接于信號發生與功率放大器(7)、第三端連接于上位機(9)，所述信號解調模塊(14)用于對所述光電探測器PIN-FET組件(6)上傳的電信號和PZT驅動電壓信號進行采集處理并傳輸至上位機(9)進行相干解調。