[實(shí)用新型]一種電致發(fā)光材料的性能檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202022796685.9 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN214201722U | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-09-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王廣宇;盧堯;季夢(mèng)濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州友硼光電材料有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/44 | 分類號(hào): | G01R31/44;G01R1/04 |
| 代理公司: | 常州佰業(yè)騰飛專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 楊靜文 |
| 地址: | 215513 江蘇省蘇州市*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電致發(fā)光 材料 性能 檢測(cè) 裝置 | ||
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種電致發(fā)光材料的性能檢測(cè)裝置,包括包括底座,底座的頂部中心位置處設(shè)置有黑箱罩,底座和黑箱罩均為正方形結(jié)構(gòu),黑箱罩的邊長(zhǎng)小于底座的邊長(zhǎng),黑箱罩內(nèi)為空心狀,黑箱罩的頂部靠近一邊位置處設(shè)置有指令收發(fā)機(jī)構(gòu),黑箱罩的頂部中心位置處設(shè)置有光電檢測(cè)設(shè)備,光電檢測(cè)設(shè)備自上而下貫穿于黑箱罩的內(nèi)部,指令收發(fā)機(jī)構(gòu)和光電檢測(cè)設(shè)備之間設(shè)置有測(cè)試導(dǎo)線。本實(shí)用新型,能夠加快成批次樣品的測(cè)試速度,提高測(cè)試基數(shù),進(jìn)而提高測(cè)試的精準(zhǔn)度,并且測(cè)試的性能也更加多樣化,測(cè)試過(guò)程也更加安全。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及檢測(cè)裝置技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種電致發(fā)光材料的性能檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)
發(fā)光二極管燈具,亦稱LED燈具,以其高效、節(jié)能、長(zhǎng)壽、小巧等技術(shù)特點(diǎn),正在成為新一代照明市場(chǎng)的主力產(chǎn)品,且有力地拉動(dòng)環(huán)保節(jié)能產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展,在對(duì)一批相同規(guī)格的LED燈具生產(chǎn)過(guò)程中,往往需要對(duì)其進(jìn)行抽樣性能測(cè)試,一邊檢驗(yàn)其是否合格。
在對(duì)一種螺旋頭式的小型LED燈具進(jìn)行抽樣檢測(cè)時(shí),現(xiàn)有的性能檢測(cè)方式往往采用人工對(duì)燈具進(jìn)行接線,將簡(jiǎn)易裸露的線頭直接插入到接線板內(nèi),然后用萬(wàn)能電筆對(duì)其進(jìn)行通電測(cè)試,但是此方法不僅存在漏電觸電的安全隱患,而且測(cè)試的性能十分單一,不具備全面性,且由于是通過(guò)人工一個(gè)個(gè)插接測(cè)試的原因,導(dǎo)致測(cè)試效率低下,于是就減少測(cè)試的數(shù)量,然后在對(duì)一批產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試時(shí),較少的測(cè)試基數(shù)往往不具備同一批次產(chǎn)品的普遍性,其結(jié)果往往也不具備代表性。
為此,我們提出一種電致發(fā)光材料的性能檢測(cè)裝置來(lái)解決上述問(wèn)題。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點(diǎn),而提出的一種電致發(fā)光材料的性能檢測(cè)裝置。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用了如下技術(shù)方案:
一種電致發(fā)光材料的性能檢測(cè)裝置,包括底座,所述底座的頂部中心位置處設(shè)置有黑箱罩,所述底座和黑箱罩均為正方形結(jié)構(gòu),所述黑箱罩的邊長(zhǎng)小于所述底座的邊長(zhǎng),所述黑箱罩內(nèi)為空心狀,所述黑箱罩的頂部靠近一邊位置處設(shè)置有指令收發(fā)機(jī)構(gòu),所述黑箱罩的頂部中心位置處設(shè)置有光電檢測(cè)設(shè)備,所述光電檢測(cè)設(shè)備自上而下貫穿于黑箱罩的內(nèi)部,所述指令收發(fā)機(jī)構(gòu)和光電檢測(cè)設(shè)備之間設(shè)置有測(cè)試導(dǎo)線。
優(yōu)選地,所述底座上表面一條中軸線位置處開(kāi)設(shè)有T形槽,所述黑箱罩的兩側(cè)面對(duì)應(yīng)T形槽的走向處開(kāi)設(shè)有兩個(gè)通道口,所述T形槽兩端貫通底座的側(cè)壁,所述底座內(nèi)設(shè)置有元件插板,所述T形槽和元件插板相匹配。
優(yōu)選地,所述元件插板的兩側(cè)面偏下位置處設(shè)置有若干個(gè)接電槽,所述元件插板一側(cè)面上的每一個(gè)接電槽均與其另一側(cè)面上的每一個(gè)接電槽相互一一對(duì)應(yīng),相對(duì)應(yīng)的兩個(gè)接電槽形成接電單元,所述元件插板的上表面均勻開(kāi)設(shè)有若干個(gè)元件插槽,每個(gè)所述元件插槽對(duì)應(yīng)一個(gè)接電單元。
優(yōu)選地,每組所述接電單元的正負(fù)極均對(duì)應(yīng)每個(gè)元件插槽的正負(fù)極。
優(yōu)選地,所述T形槽的兩內(nèi)側(cè)面設(shè)置有兩個(gè)給電機(jī)構(gòu),所述給電機(jī)構(gòu)包括伸縮腔,兩個(gè)所述伸縮腔開(kāi)設(shè)于T形槽兩內(nèi)側(cè)面中心位置處,兩個(gè)所述伸縮腔內(nèi)設(shè)置有兩個(gè)給電頭,兩個(gè)給電頭沿T形槽的開(kāi)槽走向的中軸線對(duì)稱設(shè)置,兩個(gè)所述給電頭的底部與兩個(gè)伸縮腔的底部之間設(shè)置有彈簧,所述兩個(gè)給電頭的底部均連接有通電導(dǎo)線。
優(yōu)選地,所述指令收發(fā)機(jī)構(gòu)與通電導(dǎo)線和測(cè)試導(dǎo)線相連,所述指令收發(fā)機(jī)構(gòu)上設(shè)置有通電導(dǎo)線和測(cè)試導(dǎo)線的控制開(kāi)關(guān),所述通電導(dǎo)線上設(shè)置有與給電機(jī)構(gòu)并聯(lián)的電壓表,所述通電導(dǎo)線上設(shè)置有串聯(lián)的電流表。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的有益效果為:
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- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
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- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





