[實用新型]用于射頻測試的夾持裝置

有效

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• 申請日: 2020-11-27
• 公開（公告）號: CN213933944U
• 公開（公告）日: 2021-08-10
• 發(fā)明（設計）人: 溫子豪;陸小珊
• 申請（專利權）人: 深圳市沃特邦檢測儀器設備有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R35/02
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 黃廣龍

本實用新型公開了一種用于射頻測試的夾持裝置，屬于射頻技術領域。本實用新型的用于射頻測試的夾持裝置包括第一轉接板、第二轉接板，兩個射頻座組、連接組件和探針，第二轉接板上設有天線，兩個射頻座組包括第一射頻座組和第二射頻座組，第一射頻座組安裝在第一轉接板上，第二射頻座組安裝在第二轉接板上，連接組件的一端連接第一轉接板，連接組件的另一端連接第二轉接板，探針依次連接第一轉接板、連接組件和第二轉接板。這種用于射頻測試的夾持裝置可以直接獲取到測試誤差值，消除夾持裝置在對待測件測試時造成的誤差，提高了測試數(shù)據(jù)的準確性。

技術領域

本實用新型涉及射頻技術領域，尤其涉及一種用于射頻測試的夾持裝置。

背景技術

目前，在對微波器件或者天線進行射頻測試時，常常會由于夾持裝置帶來的誤差使得待測件的測試數(shù)據(jù)不準確，而夾持裝置的誤差無法測量，因此，如何提供一種能夠測量測試誤差值的夾持裝置，以消除夾持裝置造成的誤差，提高測試數(shù)據(jù)的準確性，成為了亟待解決的問題。

實用新型內容

本實用新型旨在至少解決現(xiàn)有技術中存在的技術問題之一。為此，本實用新型提出一種用于射頻測試的夾持裝置，能夠方便地測量到測試誤差值，消除夾持裝置造成的誤差，提高測試數(shù)據(jù)的準確性。

根據(jù)本實用新型的第一方面實施例的用于射頻測試的夾持裝置，包括：

第一轉接板；

第二轉接板，所述第二轉接板上設有天線；

兩個射頻座組，包括第一射頻座組和第二射頻座組，所述第一射頻座組安裝在所述第一轉接板上，所述第二射頻座組安裝在所述第二轉接板上；

連接組件，所述連接組件的一端連接所述第一轉接板，所述連接組件的另一端連接所述第二轉接板；

探針，所述探針依次連接所述第一轉接板、所述連接組件和所述第二轉接板。

根據(jù)本實用新型實施例的用于射頻測試的夾持裝置，至少具有如下有益效果：這種用于射頻測試的夾持裝置通過設置第一轉接板、第二轉接板，并且在兩個轉接板上分別設置第一射頻座組和第二射頻座組，第二轉接板上設有天線，探針依次連接第一轉接板、連接組件和第二轉接板，通過夾持裝置的探針和天線可以直接獲取到測試誤差值，消除夾持裝置在對待測件測試時造成的誤差，提高了測試數(shù)據(jù)的準確性。

根據(jù)本實用新型的一些實施例，所述天線為V形。

根據(jù)本實用新型的一些實施例，所述連接組件包括第一連接件，所述第一連接件上設有第一凹陷部，所述第一凹陷部用于容納所述第二轉接板。

根據(jù)本實用新型的一些實施例，所述連接組件還包括第二連接件，所述第二連接件上設有第二凹陷部，所述第二凹陷部用于容納所述第一轉接板。

根據(jù)本實用新型的一些實施例，所述連接組件還包括第三連接件，所述第三連接件分別連接所述第二連接件和所述第一轉接板。

根據(jù)本實用新型的一些實施例，所述第二連接件上還設有第三凹陷部，所述第三凹陷部用于容納所述第三連接件。

根據(jù)本實用新型的一些實施例，所述連接組件還包括第四連接件，所述第四連接件分別連接所述第一連接件和所述第二連接件。

根據(jù)本實用新型的一些實施例，所述第三連接件上還設有凸起部。

根據(jù)本實用新型的一些實施例，所述第一連接件、第三連接件和第四連接件上設有若干第一通孔，所述第二連接件上設有第二通孔，所述若干第一通孔和所述第二通孔用于所述探針依次連接所述第二轉接板、所述第一連接件、所述第四連接件、所述第二連接件、所述第三連接件和所述第一轉接板。

本實用新型的附加方面和優(yōu)點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本實用新型的實踐了解到。

附圖說明