[實用新型]一種全自動IC測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202022398264.0
• 申請日: 2020-10-24
• 公開（公告）號: CN213445093U
• 公開（公告）日: 2021-06-15
• 發(fā)明（設計）人: 李斌;周陵零;韋護
• 申請（專利權）人: 深圳市天威達電子有限公司
• 主分類號: B65G47/91
• 分類號: B65G47/91
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本申請涉及IC測試設備的領域，尤其是涉及一種全自動IC測試裝置，其包括工作臺、上料機構以及測試座，上料機構設置在工作臺上且用于將IC輸送到指定位置，測試座設置在工作臺上且用于測試IC，還包括設置用于將上料機構上IC輸送到測試座上的輸送機構，輸送機構包括設置在所述工作臺上的橫向驅動件以及豎向驅動件，所述橫向驅動件朝向所述工作臺一側設置有第一氣缸，第一氣缸的輸出軸上連接有連接塊，連接塊朝向所述工作臺一側設置有用于輸送IC的第一吸嘴以及用于取出測試座上的IC的第二吸嘴，豎向驅動件上設置在工作臺上且用于驅使連接塊豎向滑移。本申請具有方便將IC放置到指定的測試位置的效果。

技術領域

本申請涉及IC測試設備的領域，尤其是涉及一種全自動IC測試裝置。

背景技術

IC指的是電子元器件，電子元器件是電子元件和小型的機器、儀器的組成部分，其本身常由若干零件構成，可以在同類產(chǎn)品中通用；常指電器、無線電、儀表等工業(yè)的某些零件，是電容、晶體管、游絲、發(fā)條等電子器件的總稱。

電子元器件在生產(chǎn)封裝投入市場之前，需要將電子元器件進行測試，將整批產(chǎn)品中的不良品取出，現(xiàn)有對電子元器件的測試方式一般是工作人員直接將待測試的電子元器件放置在測試座上，然后通過測試座判斷結果將測試后的電子元器件取出進行分類，將一些不良品進行維護，通過上述過程，降低售出的電子元器件出現(xiàn)不良品的概率。

針對上述中的相關技術，發(fā)明人認為存在有：在電子元器件的測試過程中，需要工作人員將電子元器件逐個放置在測試，會比較麻煩，影響整體的測試效率。

實用新型內(nèi)容

為了方便將IC放置到指定的測試位置，從而達到提高測試效率的目的，本申請?zhí)峁┮环N全自動IC測試裝置。

本申請?zhí)峁┑囊环N全自動IC測試裝置采用如下的技術方案：

一種全自動IC測試裝置，包括工作臺、上料機構以及測試座，所述上料機構設置在工作臺上且用于將IC輸送到指定位置，所述測試座設置在所述工作臺上且用于測試IC，還包括設置用于將所述上料機構上IC輸送到所述測試座上的輸送機構，所述輸送機構包括設置在所述工作臺上的橫向驅動件以及豎向驅動件，所述橫向驅動件朝向所述工作臺一側設置有第一氣缸，所述第一氣缸的輸出軸上連接有連接塊，所述連接塊朝向所述工作臺一側設置有用于輸送IC的第一吸嘴以及用于取出測試座上的IC的第二吸嘴，所述豎向驅動件上設置在工作臺上且用于驅使連接塊豎向滑移。

通過采用上述技術方案，在需要將上料機構上的IC輸送到測試座上時，通過設置的第一吸嘴，第一氣缸驅使連接塊上的第一吸嘴往下滑移將上料結構上的IC吸住，然后通過橫向驅動件驅動第一氣缸以及連接塊橫向滑移且位于測試座的上方，通過設置的第二吸嘴，可以將測試座上測試完畢的IC取出，在豎向驅動件的作用下使得第一吸嘴位于測試座上方，第一氣缸驅使第一吸嘴往下滑移，然后第一吸嘴再將未測試的IC放入測試座上，從而實現(xiàn)自動將上料機構上IC送往測試座上的目的，可以提高整個測試進度。

優(yōu)選的，所述橫向驅動件包括設置在所述豎向驅動件上的橫向驅動座、設置在所述橫向驅動座上的橫向驅動電機、兩端轉動連接在所述橫向驅動座上的橫向絲桿、套設在所述橫向絲桿上的橫向驅動塊，所述第一氣缸設置在所述橫向驅動塊上。

通過采用上述技術方案，在需要驅使連接塊在工作臺上橫向滑移時，通過設置的橫向驅動電機以及橫向絲桿，在橫向驅動電機帶動橫向絲桿轉動，此時便可以帶動橫向驅動塊在絲桿上橫向滑移，從而實現(xiàn)驅動連接塊在工作臺上橫向滑移。

優(yōu)選的，所述豎向驅動件包括設置在所述工作臺上的豎向驅動座、設置在所述豎向驅動座的豎向驅動電機、兩端轉動連接在所述豎向驅動座上的豎向絲桿，所述橫向驅動座靠近所述豎向驅動座一側設置有豎向驅動塊，所述豎向驅動塊套設在所述豎向絲桿上，所述豎向絲桿一端與所述豎向驅動電機的輸出軸固定連接。