[實用新型]一種超導接頭電阻閉合環(huán)路測試儀有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202022236438.3 | 申請日: | 2020-10-10 |
| 公開(公告)號: | CN216013497U | 公開(公告)日: | 2022-03-11 |
| 發(fā)明(設計)人: | 謝義元;鄒長春;彭志華;王曉芳 | 申請(專利權)人: | 邵陽學院;南京智捷和創(chuàng)超導科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R27/02 | 分類號: | G01R27/02;G01R1/04 |
| 代理公司: | 蘇州創(chuàng)策知識產權代理有限公司 32322 | 代理人: | 李曉蒙 |
| 地址: | 422000 湖*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 超導 接頭 電阻 閉合 環(huán)路 測試儀 | ||
本實用新型公開一種超導接頭電阻閉合環(huán)路測試儀,圓盤和基座板,所述圓盤下方的中間位置處設有基座板,且基座板的一側設有安裝盤,所述安裝盤的外側繞設有勵磁線圈,所述安裝盤的外側套設有非磁性固定筒;本實用新型利用低溫冷卻液將超導帶閉環(huán)冷卻至超導態(tài),利用勵磁線圈通電流產生磁場,再通過“短暫開啟加熱器使其緊密接觸的超導帶閉環(huán)局部失超、關閉加熱器讓失超的超導帶閉環(huán)回復到超導狀態(tài)、將勵磁線圈的電流迅速降為零”這一系列操作在超導帶閉環(huán)中瞬間產生感應電流,利用霍爾探頭持續(xù)監(jiān)測超導帶閉環(huán)所產生的磁場,來反映其中電流的衰減情況,即可計算出超導接頭的電阻,解決了超導接頭電阻很小時不能精確測量的問題。
技術領域
本實用新型涉及超導材料技術領域,尤其涉及一種超導接頭電阻閉合環(huán)路測試儀。
背景技術
實用的高溫超導材料主要包括第一代的Bi系PIT帶材和第二代Y系涂層導體帶材;
因為這兩類超導帶材的承載電流的能力,即臨界電流,對內部材料存在的微觀結構缺陷相當敏感,因此,其臨界電流會隨位置的變化而變化,即沿長度方向存在不均勻性,同時,在超導帶材組成的閉環(huán)應用中,對閉環(huán)連接處接頭電阻的測量尤為重要,而現(xiàn)有技術中缺乏對電阻的測量,因此,本實用新型提出一種超導接頭電阻閉合環(huán)路測試儀以解決現(xiàn)有技術中存在的問題。
實用新型內容
針對上述問題,本實用新型的目的在于提出一種超導接頭電阻閉合環(huán)路測試儀,該超導接頭電阻閉合環(huán)路測試儀解決了接頭電阻無法測量的問題,測量更加方便。
為實現(xiàn)本實用新型的目的,本實用新型通過以下技術方案實現(xiàn):一種超導接頭電阻閉合環(huán)路測試儀,包括圓盤和基座板,所述圓盤下方的中間位置處設有基座板,且基座板的一側設有安裝盤,所述安裝盤的外側繞設有勵磁線圈,所述安裝盤的外側套設有非磁性固定筒,且非磁性固定筒的外側繞設有超導帶閉環(huán),所述非磁性固定筒一側位置處的基座板上設有加熱器,所述非磁性固定筒上方位置處的基座板上設有霍爾探頭,所述超導帶閉環(huán)的下端設有超導接頭,所述基座板的下方位置處設有浸入池,且浸入池的內部裝有低溫冷卻液。
進一步改進在于:所述超導帶閉環(huán)為水滴形狀,且超導帶閉環(huán)為單環(huán)結構。
進一步改進在于:所述基座板浸入所述低溫冷卻液,所述勵磁線圈通過引線連接第一電源,所述加熱器通過引線連接第二電源。
進一步改進在于:所述圓盤頂部的邊緣處設有通孔,且通孔設有四組,四組所述通孔上均安裝有螺桿。
進一步改進在于:所述安裝盤的前側安裝有夾盤,所述夾盤配合基座板夾持所述非磁性固定筒,所述安裝盤正面的中間位置處設有螺孔,所述夾盤通過螺絲與螺孔固定。
進一步改進在于:所述加熱器至少設有一組,且加熱器與超導帶閉環(huán)形成緊密接觸和短暫的隔熱環(huán)境,所述超導接頭至少設有一組,所述霍爾探頭至少設有一組,且霍爾探頭臨近超導帶閉環(huán)。
本實用新型的有益效果為:本實用新型利用低溫冷卻液將超導帶閉環(huán)冷卻至超導態(tài),利用勵磁線圈通電流產生磁場,再通過“短暫開啟加熱器使其緊密接觸的超導帶閉環(huán)局部失超、關閉加熱器讓失超的超導帶閉環(huán)回復到超導狀態(tài)、將勵磁線圈的電流迅速降為零”這一系列操作在超導帶閉環(huán)中瞬間產生感應電流,由于接頭中存在電阻,超導帶閉環(huán)中的電流隨即又以這個瞬間產生的感應電流為起始值,開始隨時間衰減;利用霍爾探頭持續(xù)監(jiān)測超導帶閉環(huán)所產生的磁場,來反映其中電流的衰減情況,即可計算出超導接頭的電阻,解決了超導接頭電阻很小時不能精確測量的問題。
附圖說明
圖1為本實用新型的主視圖;
圖2為本實用新型的基座板上結構示意圖;
圖3為本實用新型的超導帶閉環(huán)中心磁感應強度隨時間衰減計算結果示意圖;
圖4為本實用新型的超導帶閉環(huán)中心磁感應強度隨時間衰減計算結果示意圖;
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