[實用新型]一種氮化鎵晶體管結(jié)構(gòu)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202022157595.5 | 申請日: | 2020-09-27 |
| 公開(公告)號: | CN213519980U | 公開(公告)日: | 2021-06-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳敏;戴維;孫春明;鄭超;歐新華;袁瓊 | 申請(專利權(quán))人: | 上海芯導(dǎo)電子科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/778 | 分類號: | H01L29/778;H01L29/06;H01L29/417;H01L29/45 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務(wù)所 31272 | 代理人: | 黨蕾 |
| 地址: | 200120 上海市浦東新區(qū)中國*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 氮化 晶體管 結(jié)構(gòu) | ||
本實用新型涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種降低歐姆接觸電阻的氮化鎵晶體管結(jié)構(gòu),包括:襯底;氮化鎵溝道層,設(shè)置于襯底上;勢壘層,設(shè)置于氮化鎵溝道層上;兩個溝槽,分別設(shè)置于勢壘層的兩側(cè),每個溝槽包括一第一刻蝕區(qū)和一第二刻蝕區(qū),第一刻蝕區(qū)的底部位于勢壘層內(nèi),第二刻蝕區(qū)的底部延伸至氮化鎵溝道層內(nèi)。本實用新型的有益效果:提供一種新型的氮化鎵晶體管結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)用于設(shè)置源極和漏極的溝槽底部部分延伸到氮化鎵溝道層內(nèi),在源漏端既保證了二維電子氣層的存在,同時也增加了歐姆金屬與勢壘層、氮化鎵溝道層的接觸面積,從而降低了歐姆接觸電阻。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種降低歐姆接觸電阻的氮化鎵晶體管結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
硅基氮化鎵功率器件相比傳統(tǒng)的硅功率器件,具有耐高溫、高效率、高速度的特點,被廣泛使用于電源轉(zhuǎn)換系統(tǒng)。常規(guī)的常關(guān)型器件結(jié)構(gòu),如圖1所示,在制備工藝過程中,由于勢壘層通常采用AlGaN(鋁鎵氮),AlGaN厚度很薄,僅為15nm-25nm,并且AlGaN/GaN的刻蝕選擇比很低,因而很難對源極端和漏極端的AlGaN的刻蝕深度進行控制。當(dāng)對AlGaN刻蝕過深時,接近氮化鎵溝道層(GaN)表面時,會切斷二維電子氣(Two-dimensional electrongas,簡稱2DEG);當(dāng)對AlGaN刻蝕過淺時,源漏端生長金屬電極的歐姆特性并不能發(fā)揮到極致。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問題,現(xiàn)提供一種氮化鎵晶體管結(jié)構(gòu)。
具體技術(shù)方案如下:
本實用新型包括一種氮化鎵晶體管結(jié)構(gòu),包括:
一襯底;
一氮化鎵溝道層,設(shè)置于所述襯底上;
一勢壘層,設(shè)置于所述氮化鎵溝道層上;
兩個溝槽,分別設(shè)置于所述勢壘層的兩側(cè),每個所述溝槽包括一第一刻蝕區(qū)和一第二刻蝕區(qū),所述第一刻蝕區(qū)的底部位于所述勢壘層內(nèi),所述第二刻蝕區(qū)的底部延伸至所述氮化鎵溝道層內(nèi)。
優(yōu)選的,還包括一二維電子氣層,設(shè)置于所述氮化鎵溝道層與所述勢壘層之間,部分覆蓋于所述氮化鎵溝道層的上表面,所述氮化鎵溝道層的兩側(cè)直接與所述勢壘層接觸。
優(yōu)選的,兩個所述溝槽的所述第二刻蝕區(qū)分別位于所述二維電子氣層的兩側(cè)。
優(yōu)選的,所述第一刻蝕區(qū)的寬度大于所述第二刻蝕區(qū)的寬度。
優(yōu)選的,兩個所述溝槽的尺寸及形狀相同,用于填充導(dǎo)電介質(zhì)以分別形成所述氮化鎵晶體管結(jié)構(gòu)的源極和漏極。
優(yōu)選的,所述勢壘層的上表面設(shè)有柵極,所述柵極位于所述源極和所述漏極之間。
優(yōu)選的,所述勢壘層的材料包括鋁鎵氮或氮化鎵。
優(yōu)選的,還包括一氮化鎵緩沖層,設(shè)置于所述襯底上。
優(yōu)選的,還包括氮化鋁層,設(shè)置于所述襯底與所述氮化鎵緩沖層之間。
優(yōu)選的,所述第一刻蝕區(qū)和所述第二刻蝕區(qū)的底部及側(cè)壁均覆蓋有歐姆金屬。
本實用新型的技術(shù)方案具有如下優(yōu)點或有益效果:提供一種新型的氮化鎵晶體管結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)用于設(shè)置源極和漏極的溝槽底部部分延伸到氮化鎵溝道層內(nèi),在源漏端既保證了二維電子氣層的存在,同時也增加了歐姆金屬與勢壘層、氮化鎵溝道層的接觸面積,從而降低了歐姆接觸電阻。
附圖說明
圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的氮化鎵晶體管的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本實用新型實施例中的氮化鎵晶體管的溝槽結(jié)構(gòu)圖;
圖3為本實用新型實施例中的氮化鎵晶體管的整體結(jié)構(gòu)圖。
具體實施方式
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