[實用新型]一種快速測量微型立方體尺寸的設備有效
| 申請號: | 202021936697.0 | 申請日: | 2020-09-08 |
| 公開(公告)號: | CN212871102U | 公開(公告)日: | 2021-04-02 |
| 發明(設計)人: | 張軍安 | 申請(專利權)人: | 寧波晶鉆工業科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02;G01B11/06 |
| 代理公司: | 寧波聚禾專利代理事務所(普通合伙) 33336 | 代理人: | 糜婧 |
| 地址: | 315000 浙江省寧*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 快速 測量 微型 立方體 尺寸 設備 | ||
本實用新型公開了一種快速測量微型立方體尺寸的設備,包括第一激光傳感器、第二激光傳感器、第三激光傳感器、第一基準板、第二基準板以及第三基準板,第一基準板沿X軸方向設置,第二基準板沿Y軸方向設置,第三基準板沿Z軸方向設置,第一激光傳感器面向第一基準板,第一激光傳感器沿著Y軸方向可移動地設置,第二激光傳感器面向第二基準板,第二激光傳感器沿著X軸方向可移動地設置,第三激光傳感器面向第三基準板,第三激光傳感器沿著Z軸方向可移動地設置,整個設備結構簡單、設計巧妙,能夠實現同時對立方體在X/Y/Z方向上的尺寸進行測量,且整個測量過程無需接觸,測量速度快、精度高。
技術領域
本實用新型涉及測量設備技術領域,尤其涉及一種快速測量微型立方體尺寸的設備。
背景技術
目前,在對微型立方體的尺寸進行測量時一般都是采用激光測距的方式,通過設備對微型立方體X/Y/Z三個軸分別進行測量,從而輸出該立方體的尺寸,這種測量方法主要是應用于金剛石的尺寸測量,現有技術中在進行測量時一般有兩種測量方式:非接觸式測量和接觸式測量。
但是這兩種測量方式都存在一定的缺陷:1、非接觸式測量一般采用影像測量儀,其原理是利用投影進行測量,其只能測量厚度或者長寬,不能同時測量長寬厚三個尺寸;2、由于金剛石的物理性能,接觸式測量其在測量時尺子磨損較快,更換頻率較高,導致其測量成本增加。
實用新型內容
為了克服現有技術的不足,本實用新型的目的在于提供一種快速測量微型立方體尺寸的設備,能夠實現同時對立方體在X/Y/Z方向上的尺寸進行測量。
為達到以上目的,本實用新型采用的技術方案為:一種快速測量微型立方體尺寸的設備,包括第一激光傳感器、第二激光傳感器、第三激光傳感器、第一基準板、第二基準板以及第三基準板,所述第一基準板沿X軸方向設置,所述第二基準板沿Y軸方向設置,所述第三基準板沿Z軸方向設置,所述第一激光傳感器面向所述第一基準板,所述第一激光傳感器沿著Y軸方向可移動地設置,所述第二激光傳感器面向所述第二基準板,所述第二激光傳感器沿著X軸方向可移動地設置,所述第三激光傳感器面向所述第三基準板,所述第三激光傳感器沿著Z軸方向可移動地設置。
進一步地,其所述快速測量微型立方體尺寸的設備包括底座,所述第一基準板可拆卸地安裝于所述底座的X軸方向,所述第二基準板可拆卸地安裝于所述底座的Y軸方向,所述第三基準板放置于所述底座的Z軸方向。
進一步地,所述底座上設有多個滑槽,所述第一激光傳感器上設有第一調節支架,所述第二激光傳感器上設有第二調節支架,所述第三激光傳感器上設有第三調節支架,所述第一調節支架、所述第二調節支架以及所述第三調節支架分別安裝于所述滑槽內,所述第一調節支架得以沿著所述滑槽帶動所述第一激光傳感器沿著Y軸方向移動,所述第二調節支架得以沿著所述滑槽帶動所述第二激光傳感器沿著X軸方向移動,所述第三調節支架得以沿著所述滑槽帶動所述第三激光傳感器沿著Z軸方向移動。
進一步地,所述快速測量微型立方體尺寸的設備包括輸出單元,所述第一激光傳感器、所述第二激光傳感器以及所述第三激光傳感器分別連接于所述輸出單元。
進一步地,所述第一激光傳感器以及所述第二激光傳感器的量程大于所述第三激光傳感器的量程,所述第三激光傳感器的測量精度高于所述第一激光傳感器以及所述第二激光傳感器。
進一步地,所述第一基準板以及所述第二基準板上均設有多個第一安裝孔,所述底座上設有與多個所述第一安裝孔相匹配的第二安裝孔,各個所述第二安裝孔對準各個所述第一安裝孔。
進一步地,所述第三基準板上設有防滑紋路。
進一步地,所述第一基準板與所述第三基準板之間設有第一間隙,所述第一基準板和所述第二基準板之間設有第二間隙,所述第二基準板以及所述第三基準板之間設有第三間隙。
進一步地,所述快速測量微型立方體尺寸的設備適配于立方體尺寸的測量。
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