[實用新型]一種具有冷卻功能的芯片老化測試裝置

有效

• 申請號: 202021793200.4
• 申請日: 2020-08-25
• 公開（公告）號: CN213482375U
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發明（設計）人: 楊良春;趙永峰
• 申請（專利權）人: 安徽信諾達微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04;H05K7/20
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種具有冷卻功能的芯片老化測試裝置，包括測試裝置本體（1）、連接板（2）、固定板（3）和散熱棒（4），其特征在于：所述測試裝置本體（1）上開設有老化腔（11），所述測試裝置本體（1）一側固定連接有進水管（13），所述測試裝置本體（1）遠離所述進水管（13）的一側固定連接有出水管（14），所述測試裝置本體（1）內部開設有第一空腔（15），所述進水管（13）與所述第一空腔（15）連接，所述出水管（14）與所述第一空腔（15）連接；

所述測試裝置本體（1）兩側可拆卸連接有連接板（2），所述連接板（2）遠離所述測試裝置本體（1）的一側固定連接有若干個均勻分布的散熱板（21）；

所述測試裝置本體（1）一端可拆卸連接有固定板（3），所述固定板（3）上可拆卸連接有散熱棒（4），所述散熱棒（4）靠近所述固定板（3）的一端固定連接有導熱板（41），所述導熱板（41）與所述固定板（3）接觸，所述散熱棒（4）內部開設有第二空腔（45）。

2.根據權利要求1所述的一種具有冷卻功能的芯片老化測試裝置，其特征在于：所述測試裝置本體（1）外壁均勻涂抹有防腐鍍層（12），所述防腐鍍層（12）的材質為油漆。

3.根據權利要求1所述的一種具有冷卻功能的芯片老化測試裝置，其特征在于：所述連接板（2）上設有連接螺栓（22），所述連接板（2）通過所述連接螺栓（22）與所述測試裝置本體（1）螺接固定。

4.根據權利要求1所述的一種具有冷卻功能的芯片老化測試裝置，其特征在于：所述固定板（3）上設有固定螺栓（31），所述固定板（3）通過所述固定螺栓（31）與所述測試裝置本體（1）螺接固定，所述導熱板（41）靠近所述固定板（3）的一側固定連接有固定螺紋桿（42），所述導熱板（41）通過所述固定螺紋桿（42）與所述固定板（3）螺接固定。

5.根據權利要求1所述的一種具有冷卻功能的芯片老化測試裝置，其特征在于：所述散熱棒（4）遠離所述導熱板（41）的一端可拆卸連接有密封蓋（44），所述散熱棒（4）遠離所述導熱板（41）的一端固定連接有空心螺紋桿（43），所述散熱棒（4）通過所述空心螺紋桿（43）與所述密封蓋（44）螺接固定。

6.根據權利要求1所述的一種具有冷卻功能的芯片老化測試裝置，其特征在于：所述連接板（2）與所述固定板（3）的材質為鋁，所述散熱棒（4）與所述導熱板（41）的材質為銅。