[實用新型]測量坩堝底厚的裝置

有效

• 申請號: 202021483247.0
• 申請日: 2020-07-24
• 公開（公告）號: CN212431990U
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 俞學成;邢夫龍;魏博
• 申請（專利權）人: 徐州協鑫太陽能材料有限公司
• 主分類號: G01B5/06
• 分類號: G01B5/06
• 代理公司: 北京淮海知識產權代理事務所(普通合伙) 32205
• 代理人: 劉振祥

本實用新型提供了一種測量坩堝底厚的裝置，包括千分尺(4)、基座板(2)、支架(5)和標準桿(3)；所述支架(5)設置在基座板(2)外部的一側，其包括固定安裝在支撐面上的豎向支撐梁(6)和可轉動地連接在豎向支撐梁(6)上端的橫向承載梁(7)；橫向承載梁(7)的自由端在轉動過程中能到達基座板(2)的上方或遠離基座板(2)的上方；所述千分尺(4)安裝在橫向承載梁(7)的里端，千分尺(4)上微調旋鈕的軸心豎直地設置；所述標準桿(3)豎直地設置，且上端與千分尺(4)微調旋鈕的下端固定連接。該裝置能準確地測量坩堝的底厚，且能便于固定基點，測量過程方便，可準確的測量出坩堝的底厚。

技術領域

本實用新型屬于坩堝測量領域，具體涉及一種測量坩堝底厚的裝置。

背景技術

石英坩堝是多晶硅定向凝固技術中必不可少的容器，坩堝在鑄錠過程中因坩堝底部的厚度過厚會嚴重影響坩堝在加熱和散熱過程中熱的傳導速率，坩堝底部過厚會導致融化和長晶時間延長，因此在坩堝的制備過程中需要對成品坩堝進行尺寸檢測，尤其需要對坩堝底厚需要重點進行管控。目前對坩堝底厚的檢測過程中，主要采用直尺或卷尺對坩堝內底和外底之間的高度差進行測量，這種方法測量精度不高，讀數也容易因人為的因素導致不精準的情況產生，且在測量過程中進行基點選取的時候容易造成基點選取不一致的情況發生，進而容易造成坩堝底厚測量存在較大的誤差。

發明內容

針對上述現有技術存在的問題，本實用新型提供一種測量坩堝底厚的裝置，該裝置能準確地測量坩堝的底厚，且能便于固定基點，測量過程方便，可準確的測量出坩堝的底厚。

為了實現上述目的，本實用新型提供一種測量坩堝底厚的裝置，包括千分尺、基座板、支架和標準桿；

所述支架設置在基座板外部的一側，其包括固定安裝在支撐面上的豎向支撐梁和可轉動地連接在豎向支撐梁上端的橫向承載梁；橫向承載梁的自由端在轉動過程中能到達基座板的上方或遠離基座板的上方；

所述千分尺安裝在橫向承載梁的里端，千分尺上微調旋鈕的軸心豎直地設置；

所述標準桿豎直地設置，且上端與千分尺微調旋鈕的下端固定連接。

作為一種優選，所述基座板由大理石板和支設在大理石板底部四周的支撐腿組成。

進一步，為了方便進行測量結果的讀取，所述千分尺為電子千分尺。

本實用新型中，通過使支架由豎直支撐梁和可轉動連接在豎直支撐梁上端的橫向承載梁組成，這樣，可以使橫向承載梁的自由端在轉動過程中方便地到達或脫離基座板的上方，進而可以使固定連接在橫向承載梁里端的千分尺方便地到達或脫離置于基座板上方的坩堝內部的上方；通過使標準桿與千分尺上的微調旋鈕固定連接，可以方便地通過旋轉標準桿的方式進行快速測量，由于標準桿的高度可以事先測出，基座板的高度可以事先測出，支架的總高度可以事先測出，因而在測量時，只要標準桿的底部抵觸置于基座板上坩堝的內底時，便可以通過千分尺的計數方便快速地測出坩堝的底厚。該裝置能準確地測量坩堝的底厚，且能便于固定基點，測量過程方便，可準確的測量出坩堝的底厚。

附圖說明

圖1是本實用新型的結構示意圖。

圖中：1、坩堝，2、基座板，3、標準桿，4、千分尺，5、支架，6、豎直支撐梁，7、橫向承載梁，8、支撐腿，9、大理石板。

具體實施方式

下面對本實用新型作進一步說明。

如圖1所示，一種測量坩堝底厚的裝置，包括千分尺4、基座板2、支架5和標準桿3；

所述支架5設置在基座板2外部的一側，其包括固定安裝在支撐面上的豎向支撐梁6和可轉動地連接在豎向支撐梁6上端的橫向承載梁7；橫向承載梁7的自由端在轉動過程中能到達基座板2的上方或遠離基座板2的上方；