[實用新型]一種可以完成豐田電壓探頭法的天線

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202021031881.0
• 申請日: 2020-06-08
• 公開（公告）號: CN212872678U
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發(fā)明（設計）人: 李守乾;張政浩
• 申請（專利權）人: 廣州計測檢測技術股份有限公司
• 主分類號: G01R29/26
• 分類號: G01R29/26;G01R1/04;H01Q1/36;H01Q1/00
• 代理公司: 北京卓恒知識產(chǎn)權代理事務所(特殊普通合伙) 11394
• 代理人: 李迪

本實用新型公開了一種可以完成豐田電壓探頭法的天線，包括連接線，所述連接線的頂端連接有裝載式電容模塊，所述裝載式電容模塊的頂端連接有測量夾；所述連接線包括同軸線，所述同軸線的外表面固定套接有四十一個磁環(huán)，所述同軸線的兩端均固定安裝有BNC接頭，所述裝載式電容模塊包括長方體屏蔽鋁殼，所述長方體屏蔽鋁殼的內(nèi)壁貼有銅質(zhì)屏蔽膜，所述長方體屏蔽鋁殼的內(nèi)部固定安裝有陶瓷電容器，所述長方體屏蔽鋁殼的兩端均固定設有卡接頭，所述陶瓷電容器與卡接頭電性連接，所述測量夾包括線夾卡接頭，所述線夾卡接頭的底端設有卡接槽。本實用新型可滿足30MHz?475MHz的測試要求,帶磁環(huán)同軸接收線，能穩(wěn)定傳輸測試電子部件端子處傳導發(fā)射值。

技術領域

本實用新型涉及豐田TSC0505G標準6.1.2Conducted Emission-Voltage ProbeMethod測試技術領域，具體為一種可以完成豐田電壓探頭法的天線。

背景技術

在豐田TSC0505G標準測試中，6.1.2Conducted Emission-Voltage Probe Method測試程序要求使用一種電壓探頭，要求測試范圍為30MHz-475MHz，與頻譜分析儀或接收機配合使用，匹配阻抗為50歐姆，用于測量電子部件各端子處傳導發(fā)射噪聲。

但是，現(xiàn)有的豐田TSC0505G標準測試中對于30-4755MHz的測試中同軸的連接測試線容易出現(xiàn)故障；因此，不滿足現(xiàn)有的需求，對此我們提出了一種可以完成豐田電壓探頭法的天線。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的在于提供一種可以完成豐田電壓探頭法的天線，以解決上述背景技術中提出的現(xiàn)有的豐田TSC0505G標準測試中對于30-4755MHz的測試中同軸的連接測試線容易出現(xiàn)故障等問題。

為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種可以完成豐田電壓探頭法的天線，包括連接線，所述連接線的頂端連接有裝載式電容模塊，所述裝載式電容模塊的頂端連接有測量夾；

所述連接線包括同軸線，所述同軸線的外表面固定套接有四十一個磁環(huán)，所述同軸線的兩端均固定安裝有BNC接頭，所述裝載式電容模塊包括長方體屏蔽鋁殼，所述長方體屏蔽鋁殼的內(nèi)壁貼有銅質(zhì)屏蔽膜，所述長方體屏蔽鋁殼的內(nèi)部固定安裝有陶瓷電容器，所述長方體屏蔽鋁殼的兩端均固定設有卡接頭，所述陶瓷電容器與卡接頭電性連接，所述測量夾包括線夾卡接頭，所述線夾卡接頭的底端設有卡接槽，所述線夾卡接頭的外表面固定設有防滑圈，所述線夾卡接頭的頂端連接有兩個鱷魚線夾，所述長方體屏蔽鋁殼一端的卡接頭卡入其中一個所述BNC接頭的內(nèi)側(cè)，所述長方體屏蔽鋁殼另一端的卡接頭卡入所述卡接槽的內(nèi)側(cè)。

優(yōu)選的，所述BNC接頭的內(nèi)壁和BNC接頭內(nèi)壁的頂端面均固定設有電性極片，所述卡接頭的外表面和卡接頭的頂端面均均固定設有電性極片，所述卡接槽的內(nèi)壁和卡接槽內(nèi)壁的頂端面均固定設有電性極片。

優(yōu)選的，所述陶瓷電容器的電容量為1000pF。

優(yōu)選的，所述BNC接頭的特性阻抗為50歐姆。

優(yōu)選的，所述同軸線的長度為1000mm±5mm。

與現(xiàn)有技術相比，本實用新型的有益效果是：

1、本實用新型通過同軸線的外表面固定套設四十一個磁環(huán)可以使得測試中能穩(wěn)定傳輸測試電子部件端子處傳導發(fā)射值；

2、本實用新型通過三個單獨的模塊化部分的測量夾、裝載式電容模塊和連接線，從而在保證穩(wěn)定傳輸測試電子部件端子處傳導發(fā)射值的同時也方便拆裝，方便檢修。

附圖說明

圖1為本實用新型整體的結構示意圖；

圖2為本實用新型整體斷開狀態(tài)的結構示意圖；

圖3為本實用新型裝載式電容模塊的結構示意圖；