[實(shí)用新型]錐形束CT檢測(cè)模體

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202021008933.2
• 申請(qǐng)日: 2020-06-04
• 公開（公告）號(hào): CN213155956U
• 公開（公告）日: 2021-05-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 彭建亮;馮澤臣;李石銀
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 彭建亮;馮澤臣;李石銀
• 主分類號(hào): A61B6/00
• 分類號(hào): A61B6/00;A61B6/03
• 代理公司: 北京細(xì)軟智谷知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11471
• 代理人: 張瑞

本實(shí)用新型提供了一種錐形束CT檢測(cè)模體，涉及儀器檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，主要目的是解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的錐形束CT設(shè)備精度檢測(cè)不便的技術(shù)問(wèn)題。該錐形束CT檢測(cè)模體，包括載體、高對(duì)比分辨力測(cè)試模塊、低對(duì)比度分辨力測(cè)試模塊和測(cè)距模塊，其中：所述載體為由透明材料加工而成的圓柱形結(jié)構(gòu)，所述高對(duì)比分辨力測(cè)試模塊、所述低對(duì)比度分辨力測(cè)試模塊和所述測(cè)距模塊均位于所述載體內(nèi)且沿所述載體的軸線方向隨機(jī)排布。將高對(duì)比分辨力測(cè)試模塊、低對(duì)比度分辨力測(cè)試模塊和測(cè)距模塊分別放置在由透明均一材料制成的載體內(nèi)，除了能夠有效保證對(duì)口腔錐形束CT的檢測(cè)效果以外，還幫助縮小了模體的體積。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及儀器檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種錐形束CT檢測(cè)模體。

背景技術(shù)

錐形束CT是一種通過(guò)錐形X射線束掃描的成像方式，具有超高的空間分辨率，精細(xì)的層厚，以及較低的輻射劑量，是一種較為先進(jìn)的X射線成像技術(shù)，廣泛用于牙科的診斷。口腔錐形束CT(口腔頜面錐形束計(jì)算機(jī)斷層掃描)可以通過(guò)錐形X射線束掃描重建橫軸位、冠狀位、矢狀位以及三維立體影像，幫助顯示口腔頜面部乃至整個(gè)頭顱的正常組織和病變組織結(jié)構(gòu)。由于其具有較高的精度，因此口腔錐形束CT在新安裝、移機(jī)及大修(例如更換球管、更換接收器等)后需要進(jìn)行精度驗(yàn)收檢測(cè)，包括高對(duì)比分辨力、低對(duì)比分辨力、影像均勻性等，均需使用專用模體。

目前尚未有適用于口腔錐形束CT圖像質(zhì)量的檢測(cè)模體。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的在于提供錐形束CT檢測(cè)模體，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的錐形束CT設(shè)備精度檢測(cè)不便的技術(shù)問(wèn)題。本實(shí)用新型提供的諸多技術(shù)方案中的優(yōu)選技術(shù)方案所能產(chǎn)生的諸多技術(shù)效果詳見下文闡述。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供了以下技術(shù)方案：

本實(shí)用新型提供的錐形束CT檢測(cè)模體，包括載體、高對(duì)比分辨力測(cè)試模塊、低對(duì)比度分辨力測(cè)試模塊和測(cè)距模塊，其中：

所述載體為由透明材料加工而成的圓柱形結(jié)構(gòu)，所述高對(duì)比分辨力測(cè)試模塊、所述低對(duì)比度分辨力測(cè)試模塊和所述測(cè)距模塊均位于所述載體內(nèi)且沿所述載體的軸線方向隨機(jī)排布。

將高對(duì)比分辨力測(cè)試模塊、低對(duì)比度分辨力測(cè)試模塊和測(cè)距模塊分別放置在由透明均一材料制成的載體內(nèi)，除了能夠有效保證對(duì)口腔錐形束CT的檢測(cè)效果以外，還幫助縮小了模體的體積。

在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選的，所述載體由聚甲基丙烯酸甲酯材料加工而成。

在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選的，所述高對(duì)比分辨力測(cè)試模塊為條形結(jié)構(gòu)，其分辨率為1.0lp/mm～2.0lp/mm。

在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選的，所述高對(duì)比分辨力測(cè)試模塊分布在垂直于所述載體的軸線的平面上。

在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選的，所述條形結(jié)構(gòu)為長(zhǎng)30～40mm，厚1.5～2mm的銅絲。

在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選的，所述低對(duì)比度分辨力測(cè)試模塊包括多個(gè)直徑不同的測(cè)試柱，所述測(cè)試柱沿軸線方向固定在所述載體內(nèi)部。

在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選的，所述測(cè)試柱的直徑在1mm～5mm之間。

在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選的，所述測(cè)試柱的數(shù)量為4-5個(gè)。

在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選的，所述測(cè)距模塊包括兩個(gè)金屬件，所述金屬件之間存在間距。

在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選的，所述金屬件之間的間距為18～25mm。

在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選的，所述金屬件由鋼材料制成。