[實用新型]一種連接器微針雙層浮動測試模組

有效

• 申請號: 202021005466.8
• 申請日: 2020-06-04
• 公開（公告）號: CN212965025U
• 公開（公告）日: 2021-04-13
• 發明（設計）人: 黃慶云
• 申請（專利權）人: 深圳市振云精密測試設備有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/02
• 代理公司: 深圳市龍成聯合專利代理有限公司 44344
• 代理人: 陳麗燕

本實用新型屬于測試夾具領域，涉及一種連接器微針雙層浮動測試模組，包括：下模底座，形成有第一安裝槽，所述第一安裝槽內安裝有下模浮動板及下模針板，所述下模浮動板通過第一彈性件與所述下模針板連接；與所述下模底座活動連接的上模翻蓋，所述上模翻蓋上還形成有第二安裝槽，所述上模翻蓋上還固定安裝有上模蓋板，所述上模固定座通過第二彈性件與上模蓋板連接；上模壓頭，包括：第一連接部及從所述第一連接部延伸出的壓合部，所述第一連接部與所述上模固定座活動連接，所述壓合部用于下壓所述下模浮動板。其優點在于，能夠保證上模壓頭垂直軟下壓，防止上模壓頭硬壓導致連接器發生損壞，從而保證產品測試的良品率及測試效率能夠穩定。

技術領域

本實用新型屬于測試夾具領域，涉及一種連接器微針雙層浮動測試模組。

背景技術

目前在測試夾具在對待測產品進行測試時，先將待測產品放入治具載盤內，然后將治具的測試模組與待測試產品上的連接器通過手動旋轉下壓，通過治具手動下壓上模翻蓋，微針能夠自動與連接器上的測試點的模組相接觸，測試模組微針與待測試產品連接器的測點良好接觸后開始測試。但是在進行測試時，旋轉下壓上模翻蓋，上模翻蓋上的上模壓頭不能夠保證垂直狀態，并且在轉動上模翻蓋時，直接硬壓容易對上模壓頭上的連接器產生過壓使得連接器發生損壞，從而導致產品的良品率以及測試效率降低。

發明內容

本實用新型的目的在于針對現有技術的不足，提供一種連接器微針雙層浮動測試模組，能夠保證上模壓頭垂直軟下壓，防止上模壓頭硬壓導致連接器發生損壞，從而保證產品測試的良品率及測試效率能夠穩定。

為了實現上述目的，本實用新型采用了以下技術方案：

一種連接器微針雙層浮動測試模組，包括：

下模底座，形成有第一安裝槽，所述第一安裝槽內從上至下依次安裝有下模浮動板及下模針板，所述下模浮動板通過第一彈性件與所述下模針板連接，所述下模浮動板上還設有能夠使微針穿過的通孔及用于安裝待測物的凹槽；

上模翻蓋，所述上模翻蓋與所述下模底座活動連接，可繞所述下模底座轉動使得所述上模翻蓋能夠與所述下模底座壓合，所述上模翻蓋上還形成有第二安裝槽，所述第二安裝槽內安裝有上模固定座，所述上模翻蓋上還固定安裝有上模蓋板，所述上模固定座通過第二彈性件與上模蓋板連接，所述上模固定座上還形成有第三安裝槽；

上模壓頭，包括：第一連接部及從所述第一連接部延伸出的壓合部，所述第一連接部位于所述第三安裝槽內且與所述上模固定座活動連接，可繞上模固定座轉動使得所述上模壓頭下壓時保持垂直狀態，所述壓合部用于下壓所述下模浮動板使得所述微針能夠從所述下模浮動板內露出與所述待測物上的連接器連接。

進一步的，所述上模壓頭內還安裝有第一磁極，所述上模固定座內還相應安裝有能夠與所述第一磁極相排斥的第二磁極。

進一步的，所述上模翻蓋的第一端與所述下模底座轉動連接，所述上模翻蓋的第二端與所述下模底座勾接，且所述第一端與所述第二端相對。

進一步的，所述上模翻蓋上還設置有定位銷，所述下模浮動板及所述下模針板上均還形成有同軸心的定位孔。

進一步的，所述下模底座的側壁上還設置有卡勾，所述上模翻蓋的第二端還相應形成有卡板，所述卡勾與所述卡板相配合使得上模翻蓋與所述下模底座勾接。

進一步的，所述卡勾包括：設置在所述卡勾第三端的彈性端、設置在所述卡勾第四端的勾接端及設置在所述卡勾中間區域的第二連接部，所述彈性端通過第三彈性件與所述下模底座連接，所述勾接端形成有第四安裝槽，所述卡板與所述第四安裝槽相配合使得所述上模翻蓋與所述下模底座勾接，所述第二連接部通過轉軸與所述下模底座轉動連接，且所述第三端與所述第四端相對。

進一步的，所述卡板與所述上模翻蓋一體成型。

進一步的，所述卡勾通過軸銷與所述下模底座轉動連接。