[發明專利]一種交流電阻測試儀的校準方法

在審

• 申請號: 202010175744.2
• 申請日: 2020-03-13
• 公開（公告）號: CN111289929A
• 公開（公告）日: 2020-06-16
• 發明（設計）人: 姚金平;吳宏杰;王緒
• 申請（專利權）人: 深圳天溯計量檢測股份有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 無錫永樂唯勤專利代理事務所(普通合伙) 32369
• 代理人: 孫際德

本發明公開了一種交流電阻測試儀的校準方法，所述方法包括以下步驟：S1：外觀檢查；S2：通電檢查；S3：絕緣測試；S4：電阻測量及誤差計算；S5：測試頻率及誤差計算。

技術領域

本發明涉及電學技術領域，具體涉及一種交流電阻測試儀的校準方法。

背景技術

交流電阻測試儀是一種廣泛應用于微電子技術工業的測量儀器，用于測量被測元器件的電阻參數。在現有技術中，元器件的阻抗性能直接影響產品質量，現有交流電阻測試儀的校準方法校準周期短，校準準確度差，效率低。因此針對交流電阻測試儀提出一種行之有效的校準方法。

針對現有技術中的不足，本申請提出一種適用于測定未硫化膠料硫化適用于電阻測量范圍包含在1mΩ～10000Ω、測試頻率范圍包含在50Hz～100kHz內的各類手持或臺式交流電阻測試儀的校準。

發明內容

針對上述現有技術中的不足，本申請的目的是提供一種交流電阻測試儀的校準方法。

一種交流電阻測試儀的校準方法，所述方法包括以下步驟：

S1：外觀檢查；

S2：通電檢查；

S3：絕緣測試；

S4：電阻測量及誤差計算；

S5：測試頻率及誤差計算。

其中，所述步驟S1的外觀檢查，具體包括：

S1-1檢查外觀結構是否完好，面板指示、讀數儀表、制造廠、儀器編號、型號信息是否有明確標記；

S1-2檢查被檢儀器外露件是否有松動和機械損壞；儀器附件、輸入線和接地端是否齊全；開關和旋鈕是否能正常轉動。

其中，所述步驟S2的通電檢查，具體包括：

S2-1接通被校儀器電源，觀察讀數儀表是否有顯示、是否有顯示缺陷，各個開關、旋鈕是否能正常使用；

S2-2檢查被校儀器的復零功能是否正常工作。

其中，所述步驟S3的絕緣測試，具體包括：

S3-1接通絕緣電阻測試儀電源，設定測試電壓為500V，選擇合適的量程，復零；

S3-2將絕緣電阻測試儀的一個測試端接至被測設備外殼，一個測試端接至線路端；

S3-3開啟輸出開關，讀數，測試時間不少于10秒。

其中，所述步驟S4的電阻測量及誤差計算，電阻測量誤差的校準采用直接比較法，具體包括：

S4-1校準前，將被校儀器通電預熱30分鐘以上；

S4-2切換至電阻測量功能，選取測量頻率和測量電壓；

S4-3根據電阻箱設定值選取合適的量程，將被校儀器與測試線纜連接，進行開路校準和短路校準，若帶有復零功能則復零；所述測試線纜連接優選絞合線；

S4-4雙端子連接電路接或四端子連接電路連接，連接被校儀器和標準電阻箱；

S4-5測量并讀數，切換量程，并重復步驟S4-1到S4-4；其中，基本量程的校準點的選取不少于5個點，其他量程的校準點的選取不少于1個點，優選在對應量程中均勻選擇校準點。

其中，基本誤差的計算如下：

電阻測量的示值誤差使用公式(1)表示，相對示值誤差使用公式(2)表示。

Δ＝P_x-P_N………………………………(1)