[實用新型]MTJ測試電路及系統有效
| 申請號： | 202020328056.0 | 申請日： | 2020-03-16 |
| 公開（公告）號： | CN212622724U | 公開（公告）日： | 2021-02-26 |
| 發明（設計）人： | 何世坤;王明;羅飛龍 | 申請（專利權）人： | 浙江馳拓科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/073 | 分類號： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京蘭亭信通知識產權代理有限公司 11667 | 代理人： | 陳曉瑜 |
| 地址： | 311300 浙江省*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | mtj 測試 電路 系統 | ||
1.一種MTJ測試電路，其特征在于，包括：
若干線性排列的測試單元；所述測試單元包括MTJ單元和與所述MTJ單元的信號端電連接的信號電極；
所述若干線性排列的測試單元劃分為若干測試組；
同一測試組內相鄰兩測試單元之間間隔固定數量的測試單元；同一組內的各測試單元依次串聯連接；
還包括若干接地電極，所述測試組的最后一個測試單元的MTJ單元與所述接地電極電連接。
2.根據權利要求1所述MTJ測試電路，其特征在于，所述信號電極和所述MTJ單元的排列方向與所述測試單元排列的方向交叉。
3.根據權利要求1所述MTJ測試電路，其特征在于，所述接地電極與所述測試單元的信號電極排列在同一直線上。
4.根據權利要求1所述MTJ測試電路，其特征在于，各所述測試單元與相鄰測試單元之間的間隔相同。
5.一種MTJ測試系統，其特征在于，包括：
如權利要求1-4任意一項所述MTJ測試電路；
若干探針對，每個探針對包括兩根探針，所述兩根探針之間的間隔與同一測試組中相鄰兩測試單元的電極間隔相同；
所述探針對的兩根探針能與所述測試單元的信號端電極和接地端電極導通。
6.根據權利要求5所述MTJ測試系統，其特征在于，所述探針對與測試信號源連接，所述測試信號源包括信號端和接地端，所述信號端和所述接地端分別與所述探針對的兩根探針電連接。
7.根據權利要求6所述MTJ測試系統，其特征在于，所述探針對的數量與所述測試組的數量相同。
8.根據權利要求7所述MTJ測試系統，其特征在于，各所述探針對中連接所述信號端的探針依次間隔設置，所述探針對中連接所述接地端的探針依次間隔設置；連接所述信號端的探針與連接所述接地端的探針排列順序相同。
9.根據權利要求7所述MTJ測試系統，其特征在于，所述探針與電極通過接觸實現電連接。
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