[實用新型]一種磁環測試夾具

有效

• 申請號: 202020293655.3
• 申請日: 2020-03-11
• 公開（公告）號: CN212540678U
• 公開（公告）日: 2021-02-12
• 發明（設計）人: 覃潤年;覃正雙
• 申請（專利權）人: 深圳市峰亞電子有限公司
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12;G01R33/02
• 代理公司: 深圳市千納專利代理有限公司 44218
• 代理人: 胡堅

本實用新型公開了一種磁環測試夾具，屬于磁環測試技術領域，包括呈長方體且端面為正方形的殼體、底座、測試探頭、圓形通孔和磁環，所述殼體的底端連接有底座，所述殼體的頂部設有豎直向下且延伸至底座內部的測試探頭，所述殼體與底座上分別開設有供測試探頭穿過的圓形通孔，且圓形通孔圓心所在的直線與殼體、底座的豎直中心線重合，所述殼體的頂端放置有磁環，所述殼體的頂部設置有對磁環進行固定的限位機構，所述殼體的側壁上設有對測試探頭上下兩端進行固定的夾持機構。本實用新型通過對測試探頭上下兩端的同時鎖緊，降低外界因素對測試探頭穩定性能的影響，從而對磁環內部磁場強度檢測結果的真實性進行了保證。

技術領域

本實用新型涉及磁環測試技術領域，具體的涉及一種磁環測試夾具。

背景技術

磁環:顧名思義就是一塊環狀的導磁體；磁環是電子電路中常用的抗干擾元件，對于高頻噪聲有很好的抑制作用；電子設備輻射和泄漏的電磁波嚴重干擾其他電子設備正常工作，導致設備功能紊亂、傳輸錯誤；因此降低電子設備的電磁干擾已經是必須考慮的問題。

由于現已有磁環測試用的夾具，不能同時對測試探頭的兩端同時進行夾緊固定，導致磁環測試探頭在工作時容易受到外界因素影響，從而對磁環軸向磁場強度測試的結果造成影響，故而，迫切的需要研制一種磁環測試夾具。

實用新型內容

1.要解決的技術問題

本實用新型的目的在于提供一種磁環測試夾具，以解決上述背景技術中提出的現已有磁環測試用的夾具，不能同時對測試探頭的兩端同時進行夾緊固定，導致磁環測試探頭在工作時容易受到外界因素影響，從而對磁環軸向磁場強度測試的結果造成影響的問題。

2.技術方案

為解決上述問題，本實用新型采取如下技術方案：

一種磁環測試夾具，包括呈長方體且端面為正方形的殼體、底座、測試探頭、圓形通孔和磁環，所述殼體的底端連接有底座，所述殼體的頂部設有豎直向下且延伸至底座內部的測試探頭，所述殼體與底座上分別開設有供測試探頭穿過的圓形通孔，且圓形通孔圓心所在的直線與殼體、底座的豎直中心線重合，所述殼體的頂端放置有磁環，所述殼體的頂部設置有對磁環進行固定的限位機構，所述殼體的側壁上設有對測試探頭上下兩端進行固定的夾持機構，所述夾持機構包括等間距設于殼體四側外壁上的氣缸和固定設于每個氣缸自由端的連接塊，所述氣缸與殼體垂直，且每個氣缸自由端的一側均設有兩個相互鉸接的鉸接桿，并且鉸接處設有鉸接軸，所述鉸接軸穿過相應鉸接桿的端部與相應連接塊固定連接，每相應兩個鉸接桿相背的一端均垂直固定連接有一個固定桿，且每對應兩個固定桿分別位于殼體的上方和下方，每個所述固定桿的自由端均固定連接有一個呈扇環狀結構的擠壓塊，且每個擠壓塊的圓心均位于圓形通孔圓心所在的直線上，所述底座的側壁上開設有供相應固定桿穿過的凹口。

優選的，所述限位機構包括設于殼體頂端左右兩側的定位塊和與定位塊外側端面固定連接的連接桿，所述定位塊與殼體的頂端滑動連接，且定位塊設置為扇環狀結構，所述定位塊設置有兩個，且兩個定位塊關于圓形通孔的圓心對稱，并且每個定位塊的圓心均位于圓形通孔圓心所在的直線上，兩個所述定位塊相背的端面上分別固定有一個連接桿，兩個所述連接桿關于圓形通孔的圓心對稱，每個所述連接桿的自由端均垂直固定連接有一個螺紋桿，且兩個螺紋桿相向的一端共同螺紋套接有一個螺紋套筒，并且兩個螺紋桿上的螺紋結構相反設置。

優選的，每個所述定位塊的底端均設有一個燕尾型滑塊，所述殼體的頂端兩側開設有供相應燕尾型滑塊滑動的滑槽，且燕尾型滑塊與滑槽的形狀相吻合。

優選的，每個所述定位塊、擠壓塊的內側端面上均粘黏有呈扇環狀結構的軟膠層，且軟膠層由橡膠或其他軟膠材料制成，所述定位塊、擠壓塊均為小于或等于四分之一圓的扇環。

3.有益效果