[實用新型]一種電容式觸控屏掃描頻率自動跳頻性能測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202020274186.0
• 申請日: 2020-03-09
• 公開（公告）號: CN211293925U
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李兵;張弛
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳貝特萊電子科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26;G06F3/044
• 代理公司: 深圳市蘭鋒盛世知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44504
• 代理人: 羅炳鋒

本實用新型公開了一種電容式觸控屏掃描頻率自動跳頻性能測試裝置，電容式觸控屏包括有觸控感應(yīng)板，觸控感應(yīng)板包括有觸控芯片，測試裝置包括有計算機(jī)、觸控調(diào)試板、低頻信號發(fā)生器、手機(jī)、充電器、第一接線柱和第二接線柱，第一接線柱和第二接線柱電性連接于觸控感應(yīng)板的同一感應(yīng)通道，第一接線柱通過導(dǎo)線電性連接于低頻信號發(fā)生器，充電器的輸出線纜插接于手機(jī)，且由充電器對手機(jī)進(jìn)行充電，充電器輸出線纜的地線與第二接線柱電性連接，觸控調(diào)試板電性連接于觸控芯片與計算機(jī)之間，第二接線柱接入的電信號作為干擾信號并加載于觸控感應(yīng)板。本實用新型能夠?qū)崿F(xiàn)觸控芯片根據(jù)外部共模干擾情況自動調(diào)整工作頻率的性能測試。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及電容式觸控屏的測試裝置，尤其涉及一種電容式觸控屏掃描頻率自動跳頻性能測試裝置。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的觸控技術(shù)領(lǐng)域中，顯示屏干擾和電源共模干擾是影響觸控性能的重要原因，當(dāng)觸控芯片的工作頻率與干擾頻率一樣或接近時，觸控性能將受到很大干擾，嚴(yán)重時，出現(xiàn)跳點，消點現(xiàn)象，導(dǎo)致觸摸無法正常工作，為了克服這些干擾，提高觸控抗擾性能，現(xiàn)在觸控芯片一般會增加噪聲掃描和根據(jù)外部共模干擾情況自動調(diào)整掃描工作頻率的功能。然而目前的測試技術(shù)僅僅對觸控產(chǎn)品的抗干擾能力做簡單的測試，它不能反應(yīng)出觸控產(chǎn)品的真正跳頻性能，更不能客觀的量化出觸控產(chǎn)品在受到多大頻率、多大干擾幅度才會跳轉(zhuǎn)到新的工作頻率，另外對跳頻過程中的反應(yīng)時間，頻率選擇是否合理等性能也不能直觀可視。

實用新型內(nèi)容

本實用新型要解決的技術(shù)問題在于，針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種電容式觸控屏掃描頻率自動跳頻性能測試裝置，該測試裝置利用充電器固定干擾頻率群結(jié)合低頻信號發(fā)生器產(chǎn)生可調(diào)的干擾信號，進(jìn)而實現(xiàn)觸控芯片根據(jù)外部共模干擾情況自動調(diào)整工作頻率的性能測試。

為解決上述技術(shù)問題，本實用新型采用如下技術(shù)方案。

一種電容式觸控屏掃描頻率自動跳頻性能測試裝置，所述電容式觸控屏包括有觸控感應(yīng)板，所述觸控感應(yīng)板包括有觸控芯片，所述測試裝置包括有計算機(jī)、觸控調(diào)試板、低頻信號發(fā)生器、手機(jī)、充電器、第一接線柱和第二接線柱，所述第一接線柱和第二接線柱電性連接于所述觸控感應(yīng)板的同一感應(yīng)通道，所述第一接線柱通過導(dǎo)線電性連接于所述低頻信號發(fā)生器，所述充電器的輸出線纜插接于所述手機(jī)，且由所述充電器對所述手機(jī)進(jìn)行充電，所述充電器輸出線纜的地線與所述第二接線柱電性連接，所述觸控調(diào)試板電性連接于所述觸控芯片與所述計算機(jī)之間，所述第二接線柱接入的電信號作為干擾信號并加載于所述觸控感應(yīng)板，所述低頻信號發(fā)生器用于生成多個頻段的頻率信號并通過所述第一接線柱加載于所述觸控感應(yīng)板，當(dāng)所述充電器和/或所述低頻信號發(fā)生器啟動時，所述計算機(jī)通過所述觸控調(diào)試板和所述觸控芯片采集所述觸控感應(yīng)板產(chǎn)生的干擾數(shù)據(jù)和跳頻數(shù)據(jù)。

優(yōu)選地，所述第一接線柱和第二接線柱之間設(shè)有預(yù)設(shè)距離。

優(yōu)選地，所述第一接線柱和第二接線柱之間的間距為50mm。

優(yōu)選地，所述第一接線柱和第二接線柱均是直徑為8mm的銅柱。

優(yōu)選地，所述觸控芯片通過I2C接口連接于所述觸控調(diào)試板。

優(yōu)選地，所述觸控調(diào)試板通過USB線纜連接于所述計算機(jī)。

本實用新型公開的電容式觸控屏掃描頻率自動跳頻性能測試裝置，結(jié)合了具有固定干擾頻率群的充電器或電源，以及頻率和幅度靈活可調(diào)的低頻信號發(fā)生器，進(jìn)而模擬出電容式觸控產(chǎn)品真實的應(yīng)用場景，更加準(zhǔn)確地檢測出被測電容式觸控產(chǎn)品的抗干擾能力。相比現(xiàn)有技術(shù)而言，本實用新型可以較為準(zhǔn)確的量化出觸控產(chǎn)品在固定頻率下能抵抗的最大干擾信號，以及干擾信號不影響到觸控產(chǎn)品正常工作的頻率帶寬，較好地實現(xiàn)了觸控產(chǎn)品根據(jù)外部共模干擾情況自動調(diào)整工作頻率的性能測試。

附圖說明

圖1為電容式觸控屏掃描頻率自動跳頻性能測試裝置的組成框圖；