[實用新型]一種用于芯片測試的高效率篩分機臺

有效

• 申請號: 202020009083.1
• 申請日: 2020-01-03
• 公開（公告）號: CN212310123U
• 公開（公告）日: 2021-01-08
• 發明（設計）人: 張聶麟;楊剛能;陳金迪
• 申請（專利權）人: 浙江金華凱宇電子科技有限公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/344;B07C5/36;G01R31/28
• 代理公司: 浙江專橙律師事務所 33313
• 代理人: 朱孔妙

本實用新型公開了一種用于芯片測試的高效率篩分機臺，其包括底座；在所述的底座上方兩側設有支撐架；所述的支撐架內側設有顯示屏；所述的底座中部設有旋轉圓臺；所述的旋轉圓臺頂部連接有C字型連接桿；所述的連接桿兩端均連接有芯片傳送圓臺；所述的芯片傳送圓臺頂部設有測試箱體；所述的測試箱體內部被均勻分割成兩個空間，每個空間均設有一個測試器；所述的支撐架上分別設于高低溫箱體和干燥塔；本實用新型能夠同時進行高低溫測試和上下料工作，出現測試異常情況時，可快速篩分異常件，提高工作效率。

技術領域

本實用新型涉及一種用于芯片測試的高效率篩分機臺，其屬于芯片測試領域。

背景技術

隨著集成電路芯片的應用越來越廣泛，一些應用較為特殊的集成電路芯片測試生產需要在高低溫的環境下進行，目前現有的測試機臺無法同時進行高低溫測試以及上下料操作，工作效率不是很好；故本實用新型提出了一種用于芯片測試的高效率篩分機臺，能夠同時進行高低溫測試和上下料工作，出現測試異常情況時，可快速篩分異常件，提高工作效率。

發明內容

(一)要解決的技術問題

為解決上述問題，本實用新型提出了一種用于芯片測試的高效率篩分機臺。

(二)技術方案

本實用新型的一種用于芯片測試的高效率篩分機臺，包括底座；在所述的底座上方兩側設有支撐架；所述的支撐架內側設有顯示屏；所述的底座中部設有旋轉圓臺；所述的旋轉圓臺頂部連接有C字型連接桿；所述的連接桿兩端均連接有芯片傳送圓臺；所述的芯片傳送圓臺頂部設有測試箱體；所述的測試箱體內部被均勻分割成兩個空間，每個空間均設有一個測試器；所述的支撐架上分別設于高低溫箱體和干燥塔。

進一步地，所述的高低溫箱體連接有壓縮機，所述的高低溫箱體設有低溫進氣管、高溫進氣管和出氣管，分別和所述的測試箱體連接；所述的干燥塔連接有干燥氣泵，所述的干燥塔設有兩根干燥氣管，分別和所述的測試箱體連接。

進一步地，所述的芯片傳送圓臺底部和所述的連接桿之間設有旋轉連接件。

進一步地，所述的芯片傳送圓臺上表面設有十二個芯片放置槽，呈環狀布置；所述的芯片放置槽底部設有篩分裝置。

進一步地，所述的測試器和顯示屏連接。

(三)有益效果

本實用新型與現有技術相比較，其具有以下有益效果：本實用新型一種用于芯片測試的高效率篩分機臺，能夠同時進行高低溫測試和上下料工作，出現測試異常情況時，可快速篩分異常件，提高工作效率。

附圖說明

圖1是一種用于芯片測試的高效率篩分機臺的結構示意圖。

1-底座；2-支撐架；3-高低溫箱體；31-壓縮機；32-低溫進氣管；33- 出氣管；34-高溫進氣管；4-干燥塔；41-干燥氣泵；42-干燥氣管；5- 顯示屏；6-測試箱體；7-芯片傳送圓臺；71-芯片放置槽；8-旋轉連接件；9-連接桿；10-旋轉圓臺；11-測試器。

具體實施方式

如附圖所示的一種用于芯片測試的高效率篩分機臺，包括底座1；在所述的底座1上方兩側設有支撐架2；所述的支撐架2內側設有顯示屏5；所述的底座1中部設有旋轉圓臺10；所述的旋轉圓臺10頂部連接有C字型連接桿9；所述的連接桿9兩端均連接有芯片傳送圓臺7；所述的芯片傳送圓臺7頂部設有測試箱體6；所述的測試箱體6內部被均勻分割成兩個空間，每個空間均設有一個測試器11；所述的支撐架2上分別設于高低溫箱體3和干燥塔4；