[發明專利]一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級方法和裝置

在審

• 申請號: 202011623835.4
• 申請日: 2020-12-30
• 公開（公告）號: CN112634258A
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 時廣軍;周鐘海;趙嚴;姚毅;楊藝
• 申請（專利權）人: 凌云光技術股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06K9/62
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

本申請公開了一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級方法，包括：基于AOI的檢測輸出的不同類型的缺陷，根據預定的大類分類規則，將輸入的不同類型的缺陷區分為若干大類；基于輸入的某一大類的若干缺陷，根據預定的小類分類規則，將該某一大類若干缺陷細分為各種小類；基于輸入的同一大類下的某一小類的若干缺陷，基于預定的小類分級規則，將該某一小類的若干缺陷區分為不同等級；基于所述大類分類規則、所述小類分類規則及所述小類分級規則，標記所述AOI檢測輸出的缺陷。該方法能夠自動的完成AOI的缺陷檢測的分類分級，從而能夠顯著提高效率、降低成本。此外，本申請還公開了一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級裝置。

技術領域

本申請涉及基于AOI的缺陷檢測技術領域，特別涉及一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級方法。此外，本申請還涉及一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級裝置。

背景技術

目前智能手機主流的屏幕可分為兩大類,一種是LCD,另一種是OLED。無論是LCD還是OLED，幾乎全部采用了AOI(Automatic Optic Inspection自動光學檢測)設備進行缺陷檢測。當前AOI檢測除了需要把缺陷準確檢測出后，還需要對缺陷進行分類及分級。缺陷分類是指按照缺陷形態、畫面、位置、顏色、層等特征信息區分為不同類別的缺陷；缺陷分級是指對同一種類的缺陷(主要是點類和色斑類)按照缺陷程度、尺寸等區分為不同等級的缺陷，例如OK、G1、G2、G3等。請參考圖1，圖1為OLED產品的缺陷分類表示意圖。

為什么要對缺陷進行分類呢？第一、每種缺陷判定基準是不同的，需要先分類然后再進行基準的判定；第二、由于缺陷位于手機屏幕不同的部件，缺陷分類可以作為屏幕是否能夠修復以及需要修復的部件判定條件；第三、缺陷分類準確可精確反饋制程工藝問題點，作為工藝改善的判定依據。

為什么要對缺陷進行分級？第一：判定產品嚴重程度的依據；第二：滿足客戶不同的出貨等級要求。

有鑒于此，提供一種能夠快速便捷對缺陷進行分類分級方法，是各大廠家的迫切需求。

發明內容

本申請要解決的技術問題為提供一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級方法，該方法能夠自動的完成AOI的缺陷檢測的分類分級，從而能夠顯著提高效率、降低成本。此外，本申請另一個要解決的技術問題為提供一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級裝置。

為解決上述技術問題，本申請提供一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級方法，包括：

基于AOI的檢測輸出的不同類型的缺陷，根據預定的大類分類規則，將輸入的不同類型的缺陷區分為若干大類；

基于輸入的某一大類的若干缺陷，根據預定的小類分類規則，將該某一大類若干缺陷細分為各種小類；

基于輸入的同一大類下的某一小類的若干缺陷，基于預定的小類分級規則，將該某一小類的若干缺陷區分為不同等級；

基于所述大類分類規則、所述小類分類規則及所述小類分級規則，標記所述AOI檢測輸出的缺陷。

在一種具體實施方式中，

所述預定的大類分類規則包括下屬五種算法中的至少一種：

點檢測算法、線檢測算法、塊檢測算法、色斑檢測算法和畫面異常檢測算法；

大類缺陷包括下屬五種缺陷中的至少一種：

點大類缺陷、線大類缺陷、塊大類缺陷、色斑大類缺陷和畫面異常大類缺陷。

在一種具體實施方式中，

在預定的某一大類缺陷下，將若干的小類缺陷規則按照缺陷嚴重程度優先級進行排序，先進行優先級高的小類缺陷的分類判定；

當結果為是時，則進行小類缺陷的分級判定；