[發明專利]一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級方法和裝置

在審

• 申請號: 202011623835.4
• 申請日: 2020-12-30
• 公開（公告）號: CN112634258A
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 時廣軍;周鐘海;趙嚴;姚毅;楊藝
• 申請（專利權）人: 凌云光技術股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06K9/62
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

1.一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級方法，其特征在于，包括：

基于AOI的檢測輸出的不同類型的缺陷，根據預定的大類分類規則，將輸入的不同類型的缺陷區分為若干大類；

基于輸入的某一大類的若干缺陷，根據預定的小類分類規則，將該某一大類若干缺陷細分為各種小類；

基于輸入的同一大類下的某一小類的若干缺陷，基于預定的小類分級規則，將該某一小類的若干缺陷區分為不同等級；

基于所述大類分類規則、所述小類分類規則及所述小類分級規則，標記所述AOI檢測輸出的缺陷。

2.如權利要求1所述的一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級方法，其特征在于，

所述預定的大類分類規則包括下屬五種算法中的至少一種：

點檢測算法、線檢測算法、塊檢測算法、色斑檢測算法和畫面異常檢測算法；

大類缺陷包括下屬五種缺陷中的至少一種：

點大類缺陷、線大類缺陷、塊大類缺陷、色斑大類缺陷和畫面異常大類缺陷。

3.如權利要求2所述的一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級方法，其特征在于，

在預定的某一大類缺陷下，將若干的小類缺陷規則按照缺陷嚴重程度優先級進行排序，先進行優先級高的小類缺陷的分類判定；

當結果為是時，則進行小類缺陷的分級判定；

當結果為否時，則進行優先級較低的下一級的小類缺陷分類判定。

4.如權利要求3所述的一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級方法，其特征在于，

當進行小類缺陷的分級判定時，按照缺陷嚴重程度優先級進行排序，先進行優先級高的小類缺陷的分級判定；

當結果為是時，則輸出攜帶有所述大類分類規則、所述小類分類規則及所述小類分級規則的缺陷結果；

當結果為否時，則進行優先級較低的下一級的小類缺陷分級判定。

5.如權利要求1-4任一項所述的一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級方法，其特征在于，所述“基于所述大類分類規則、所述小類分類規則及所述小類分級規則，標記所述AOI檢測輸出的缺陷”之后，還包括：

基于距離數據，對任兩個或多個標記輸出的缺陷之間的相互關系作出判定，得出兩個缺陷之間或三個缺陷之間相交、或相離的關系認定。

6.如權利要求1-4任一項所述的一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級方法，其特征在于，所述預定的小類分類規則至少包括下述五種規則中的一種：

點類分類規則包括：畫面、亮/暗、形狀、區域、距離、個數或算法；

線類分類規則包括：畫面、亮/暗、水平、垂直、交叉、區域、長度或寬度；

色斑分類規則包括：畫面、亮/暗、形狀、區域、個數、長寬比、角度、AI分類類別、或顏色；

塊分類規則包括：畫面、亮/暗、區域、長度、寬度或算法；

畫面異常分類規則包括：畫面、亮度、異常狀態或算法。

7.如權利要求1-4任一項所述的一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級方法，其特征在于，所述預定的小類分級規則至少包括下述兩種規則中的一種：

點類分級規則包括：尺寸、面積或對比度；

色斑類分級規則包括：面積、對比度或JND。

8.一種基于AOI的缺陷檢測的自動分類分級裝置，其特征在于，包括：

大類分類單元，用于基于AOI的檢測輸出的不同類型的缺陷，根據預定的大類分類規則，將輸入的不同類型的缺陷區分為若干大類；

小類分類單元，用于基于輸入的某一大類的若干缺陷，根據預定的小類分類規則，將該某一大類若干缺陷細分為各種小類；

小類分級單元，基于輸入的同一大類下的某一小類的若干缺陷，根據預定的小類分級規則，將該某一小類的若干缺陷區分為不同等級；

標記單元，用于基于所述大類分類規則、所述小類分類規則及所述小類分級規則，標記所述AOI檢測輸出的缺陷。