[發(fā)明專利]電氣安規(guī)測(cè)試儀用絕緣性能動(dòng)態(tài)測(cè)量與分析裝置及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011617221.5
• 申請(qǐng)日: 2020-12-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112748315B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-12-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王曉俊;趙永杰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 南京長(zhǎng)盛儀器有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/12
• 分類號(hào): G01R31/12;G01R31/52
• 代理公司: 南京冠譽(yù)至恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32426
• 代理人: 黃成萍

1.一種電氣安規(guī)測(cè)試儀用絕緣性能動(dòng)態(tài)測(cè)量與分析裝置，其特征在于：包括程控交流信號(hào)源、升壓變壓器、高壓交/直流信號(hào)輸出模塊、高壓輸出端接口、回流端接口、泄漏電流采樣電阻R_lk、放電電流采樣電阻R_arc、泄漏電流調(diào)理單元、高頻放電電流調(diào)理單元、高壓檢測(cè)調(diào)理單元、同步模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₁、同步模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₂、高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₃、現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列FPGA和微處理器；通過(guò)實(shí)時(shí)獲取高壓信號(hào)、泄漏電流信號(hào)的時(shí)域、頻域參數(shù)，及瞬時(shí)放電信號(hào)能量、放電能量譜、放電頻次譜信息，辨識(shí)出被測(cè)品是否具有絕緣缺陷、預(yù)測(cè)絕緣劣化趨勢(shì)、捕捉電弧起始放電電壓；

所述程控交流信號(hào)源的輸出信號(hào)經(jīng)升壓變壓器升壓后提供給高壓交/直流信號(hào)輸出模塊，高壓交/直流信號(hào)輸出模塊的輸出端I與高壓輸出端接口連接，高壓交/直流信號(hào)輸出模塊的輸出端II經(jīng)放電電流采樣電阻R_arc和泄漏電流采樣電阻R_lk后與回流端接口連接；

所述高壓輸出端接口和回流端接口同時(shí)分別與高壓檢測(cè)調(diào)理單元的兩個(gè)輸入端連接，高壓檢測(cè)調(diào)理單元的輸出端與同步模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₂的輸入端連接；泄漏電流采樣電阻R_lk的兩端分別與泄漏電流調(diào)理單元的兩個(gè)輸入端連接，泄漏電流調(diào)理單元的輸出端與同步模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₁的輸入端連接；放電電流采樣電阻R_arc的兩端分別與高頻放電電流調(diào)理單元的兩個(gè)輸入端連接，高頻放電電流調(diào)理單元的輸出端與高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₃連接；

所述同步模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₁、同步模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₂和高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₃與現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列FPGA連接，現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列FPGA產(chǎn)生的同步采樣觸發(fā)信號(hào)f₁同時(shí)提供給同步模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₁和同步模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₂的采集控制端，現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列FPGA產(chǎn)生的固定高頻采樣觸發(fā)信號(hào)f₃提供給高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₃的采集控制端；

所述微處理器與程控交流信號(hào)源和現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列FPGA互聯(lián)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電氣安規(guī)測(cè)試儀用絕緣性能動(dòng)態(tài)測(cè)量與分析裝置，其特征在于：泄漏電流調(diào)理單元對(duì)采集信號(hào)進(jìn)行調(diào)理后發(fā)送給同步模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₁，同步模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₁根據(jù)同步采樣觸發(fā)信號(hào)f₁采集泄漏電流波形I_lk；高壓檢測(cè)調(diào)理單元對(duì)采集信號(hào)進(jìn)行調(diào)理后發(fā)送給同步模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₂，同步模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₂根據(jù)同步采樣觸發(fā)信號(hào)f₁采集高壓分壓波形U_hv；高頻放電電流調(diào)理單元對(duì)采集信號(hào)進(jìn)行調(diào)理后發(fā)送給高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₃，高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器U₃根據(jù)固定高頻采樣觸發(fā)信號(hào)f₃采集高頻放電電流信號(hào)I_arc。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電氣安規(guī)測(cè)試儀用絕緣性能動(dòng)態(tài)測(cè)量與分析裝置，其特征在于：所述現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列FPGA內(nèi)置同步采樣控制器、放電信號(hào)采樣控制器和高速放電信號(hào)預(yù)處理器；同步采樣控制器根據(jù)程控交流信號(hào)源的輸出信號(hào)頻率計(jì)算并輸出同步采樣觸發(fā)信號(hào)f₁，同步采樣觸發(fā)信號(hào)f₁的初始觸發(fā)時(shí)刻記為t₀，采樣周期記為T(mén)；放電信號(hào)采樣控制器以t₀時(shí)刻為觸發(fā)時(shí)刻產(chǎn)生固定高頻采樣觸發(fā)信號(hào)f₃；高速放電信號(hào)預(yù)處理器根據(jù)瞬時(shí)放電量算法計(jì)算當(dāng)前采樣周期T內(nèi)的瞬時(shí)放電總量。