[發明專利]一種AOI光學測試機位置運動模組

在審

• 申請號: 202011609303.5
• 申請日: 2020-12-30
• 公開（公告）號: CN112285129A
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 付丞;楊發軍;王文波;徐慶鋒;趙東方;儲旭東
• 申請（專利權）人: 寧波丞達精機股份有限公司
• 主分類號: G01N21/956
• 分類號: G01N21/956;G01N21/01
• 代理公司: 余姚德盛專利代理事務所(普通合伙) 33239
• 代理人: 戚秋鵬

1.一種AOI光學測試機位置運動模組，其特征在于，包括：置于機架（1）上的上料機構、檢測機構和下料機構，所述上料機構和所述下料機構置于所述檢測機構的兩側，所述檢測機構包括：用于鏡片測試的檢測裝置（2）和運送裝置（3），所述檢測裝置（2）包括若干個鏡片檢測組（4），所述運送裝置（3）置于所述檢測裝置（2）的一側用于將待檢測的鏡片運輸至所述檢測裝置（2）進行鏡片檢測，所述上料機構包括：上料倉（501）和上料夾具組件（6），所述機架（1）的一側設置有第一滑軌（701），所述上料倉（501）滑動設置在所述第一滑軌（701）上用于放置待檢測鏡片，所述上料夾具組件（6）置于所述上料倉（501）的上方且與所述上料倉（501）對應。

2.如權利要求1所述AOI光學測試機位置運動模組，其特征在于，所述上料夾具組件（6）包括：料盤夾爪（601）和夾爪連接件（602），所述料盤夾爪（601）的上端與所述夾爪連接件（602）連接，所述機架（1）上設置有固定座（9），所述固定座（9）的下端設置有第一滑桿（801），所述夾爪連接件（602）的一端滑動套裝在所述第一滑桿（801）上，所述固定座（9）上還設置有料盤搬運臂（1001），所述夾爪連接件（602）的一側與所述料盤搬運臂（1001）連接。

3.如權利要求1所述AOI光學測試機位置運動模組，其特征在于，所述機架（1）上設置有檢測平臺（11），所述上料機構和所述下料機構置于所述檢測平臺（11）的兩側，所述檢測機構置于所述檢測平臺（11）的上方，所述檢測平臺（11）的一側設置有平臺搬運臂（1002），所述檢測平臺（11）與所述機架（1）之間設置有第二滑軌（702）和第三滑軌（703），所述檢測平臺（11）橫向滑動設置在所述第二滑軌（702）上，所述第三滑軌（703）通過安裝座縱向滑動設置在所述第二滑軌（702）上，所述安裝座的一側與所述平臺搬運臂（1002）連接。

4.如權利要求3所述AOI光學測試機位置運動模組，其特征在于，所述檢測平臺（11）上對應所述檢測裝置（2）設置有若干個料盤固定座（12），所述檢測平臺（11）上還設置有用于固定料盤的定位組件（13），所述定位組件（13）通過定位卡爪（1301）固定所述料盤固定座（12）的料盤。

5.如權利要求1所述AOI光學測試機位置運動模組，其特征在于，所述機架（1）上設置有安裝板（17），所述檢測裝置（2）和運送裝置（3）分別置于所述安裝板（17）的兩側，所述鏡片檢測組（4）包括：依次設置在所述安裝板（17）上的顏色檢測組（401）、正面檢測組（402）、反面檢測組（403）和NG打點組（404），所述顏色檢測組（401）、所述正面檢測組（402）和所述反面檢測組（403）的一端通過伺服模組滑動設置所述安裝板（17）上，所述NG打點組（404）的一端通過氣缸滑動設置在所述安裝板（17）上。

6.如權利要求1所述AOI光學測試機位置運動模組，其特征在于，所述運送裝置（3）包括：換位組件（301）和傳動組件（302），所述檢測裝置（2）的一側設置有第二滑桿（802），所述傳動組件（302）橫向滑動設置在所述第二滑桿（802）上，所述換位組件（301）包括換位手臂（14），所述換位手臂（14）設置在所述傳動組件（302）上，所述換位手臂（14）上對應所述檢測裝置（2）設置有5個用于放置鏡片的托板（1401）。

7.如權利要求1所述AOI光學測試機位置運動模組，其特征在于，所述下料機構包括：下料倉（502）和下料夾具組件（15），所述機架（1）的一側設置有第四滑軌（704），所述下料倉（502）滑動設置在所述第四滑軌（704）上用于放置檢測后的鏡片，所述下料夾具組件（15）置于所述下料倉（502）的上方且與所述下料倉（502）對應。

8.如權利要求3或4所述AOI光學測試機位置運動模組，其特征在于，所述檢測平臺（11）的一側設置有用于控制所述檢測平臺（11）縱向移動的平臺移載組件（16）。

9.如權利要求1所述AOI光學測試機位置運動模組，其特征在于，所述上料機構、所述檢測機構和所述下料機構對稱設置在所述機架（1）上。